[發(fā)明專利]顆粒分析裝置和顆粒分析方法

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310047483.6
• 申請(qǐng)日: 2013-02-06
• 公開（公告）號(hào): CN103257097A
• 公開（公告）日: 2013-08-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 栩野成視
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 株式會(huì)社堀場(chǎng)制作所
• 主分類號(hào): G01N15/02
• 分類號(hào): G01N15/02
• 代理公司: 北京信慧永光知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11290
• 代理人: 李雪春;王維玉

1.一種顆粒分析裝置，其特征在于包括：

光出射部，向在分散介質(zhì)中運(yùn)動(dòng)的顆粒群射出光；

光接收部，接收被來自光出射部的光照射的顆粒群所發(fā)出的散射光并輸出電流信號(hào)；

數(shù)據(jù)處理部，根據(jù)從光接收部輸出的電流信號(hào)得到的脈沖數(shù)的時(shí)序數(shù)據(jù)，進(jìn)行顆粒分析的數(shù)據(jù)處理；

過電流檢測(cè)部，根據(jù)光接收部輸出的電流信號(hào)，檢測(cè)出光接收部中流過了過電流；以及

控制部，當(dāng)過電流檢測(cè)部檢測(cè)到過電流時(shí)，停止光接收部的動(dòng)作，且在光接收部的動(dòng)作停止規(guī)定時(shí)間后再次開始光接收部的動(dòng)作，

數(shù)據(jù)處理部在光接收部的動(dòng)作停止時(shí)保存直到停止前為止的時(shí)序數(shù)據(jù)，并在光接收部的動(dòng)作再次開始后，利用保存的時(shí)序數(shù)據(jù)和再次開始后得到的時(shí)序數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顆粒分析裝置，其特征在于，在過電流檢測(cè)部檢測(cè)到規(guī)定次數(shù)以上的過電流時(shí)，控制部中止光接收部的動(dòng)作并中止顆粒的分析。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顆粒分析裝置，其特征在于，

所述數(shù)據(jù)處理部包括：

并列配置的多個(gè)多位計(jì)數(shù)器，對(duì)選通門打開的狀態(tài)下接收的、從電流信號(hào)得到的脈沖數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)；

相關(guān)器，在光接收部的動(dòng)作停止時(shí)保存停止前為止的脈沖數(shù)的時(shí)序數(shù)據(jù)，并在光接收部的動(dòng)作再次開始后，利用保存的脈沖數(shù)的時(shí)序數(shù)據(jù)和再次開始后的脈沖數(shù)的時(shí)序數(shù)據(jù)再次開始自相關(guān)數(shù)據(jù)的制作；以及

計(jì)算部，根據(jù)從相關(guān)器得到的自相關(guān)數(shù)據(jù)計(jì)算顆粒群的粒徑分布。

4.一種顆粒分析方法，使用權(quán)利要求1至3中任意一項(xiàng)所述的顆粒分析裝置，所述顆粒分析方法的特征在于，

根據(jù)從光接收部輸出的電流信號(hào)得到的脈沖數(shù)的時(shí)序數(shù)據(jù)進(jìn)行顆粒分析的數(shù)據(jù)處理，所述光接收部接收從被光照射的顆粒群發(fā)出的散射光，在進(jìn)行數(shù)據(jù)處理期間，根據(jù)光接收部輸出的電流信號(hào)檢測(cè)到光接收部中流過過電流時(shí)，停止光接收部的動(dòng)作，

在光接收部的動(dòng)作停止時(shí)保存停止前為止的時(shí)序數(shù)據(jù)，

在光接收部的動(dòng)作停止規(guī)定時(shí)間后再次開始光接收部的動(dòng)作，

在光接收部的動(dòng)作再次開始后，利用保存的時(shí)序數(shù)據(jù)和再次開始后得到的時(shí)序數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。