[發(fā)明專利]一種基于偏振干涉的帶內(nèi)光信噪比檢測方法和裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310046358.3
• 申請日: 2013-02-05
• 公開（公告）號: CN103152098A
• 公開（公告）日: 2013-06-12
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 席麗霞;彭文雨;張曉光;翁軒;趙東鶴
• 申請（專利權(quán)）人: 北京郵電大學
• 主分類號: H04B10/077
• 分類號: H04B10/077
• 代理公司: 北京路浩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11002
• 代理人: 王瑩

1.一種基于偏振干涉的帶內(nèi)光信噪比檢測方法，其特征在于，所述方法具體包括：

A：將輸入的光信號分為兩束，其中一束用于測量光信號的總功率，另一束用于測量光信號中的噪聲功率；

B：根據(jù)所述光信號的總功率和所述噪聲功率計算光信噪比。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟A中測量光信號中的噪聲功率具體包括：

A1：對所述用于測量光信號中的噪聲功率的光信號進行偏振分束，得到偏振方向相互垂直的兩支路；

A2：對所述兩偏振方向相互垂直的兩支路中的一路光信號加入時延；

A3：將兩支路上具有時延差的光信號合在一起，得到偏振態(tài)隨頻率變化的光信號；

A4：對所述偏振態(tài)隨頻率變化的光信號調(diào)整起偏角，使得一些頻點處的光信號完全干涉相消，得到包含噪聲功率信息的光譜。

3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述將輸入的光信號分為兩束之前還包括對光信號進行濾波。

4.一種基于偏振干涉的帶內(nèi)光信噪比檢測裝置，其特征在于，所述裝置具體包括：

光耦合器、光功率測量單元、噪聲功率測量單元和控制與運算單元；

其中所述光耦合器將輸入的光信號分為兩束，一束輸入所述光功率測量單元，另一束輸入到所述噪聲功率測量單元；

所述光功率測量單元用于測量光信號的總功率；

所述噪聲功率測量單元用于測量光信號中的噪聲功率，包括：偏振分束器、時延線、偏振合束器、電控可旋轉(zhuǎn)起偏器和光頻譜監(jiān)測模塊；

所述控制與運算單元用于控制所述電控可旋轉(zhuǎn)起偏器的偏振角，并根據(jù)所述光功率測量單元輸出的光信號的總功率和所述噪聲功率測量單元輸出的噪聲功率計算光信噪比。

5.如權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述偏振分束器用于對光耦合器輸出的用于測量光信號中噪聲功率的光信號進行偏振分束，得到偏振方向相互垂直的兩支路。

6.如權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述時延線對所述偏振分束器輸出的一支路光信號加入時延，使兩支路產(chǎn)生時延差，得到具有時延差的兩支路光信號。

7.如權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述偏振合束器用于將兩支路上具有時延差的光信號合在一起，得到偏振態(tài)隨頻率變化的光信號。

8.如權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述電控可旋轉(zhuǎn)起偏器用于調(diào)整所述具有時延差的兩支路光信號的振幅大小，使得發(fā)生相消干涉頻點處的兩支路光的振幅相同。

9.如權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述光頻譜檢測模塊用于得到相應(yīng)的光譜信息并將所述光譜信息輸入到所述控制與運算單元。

10.如權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括光濾波器，在光信號進入所述光耦合器之前還經(jīng)過所述光濾波器進行濾波。