[發(fā)明專利]消除水分對近紅外光譜檢測土壤全氮含量影響的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310042495.X | 申請日: | 2013-02-01 |
| 公開(公告)號: | CN103134770A | 公開(公告)日: | 2013-06-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李民贊;安曉飛;鄭立華;劉玉萌;孫紅;楊瑋 | 申請(專利權(quán))人: | 中國農(nóng)業(yè)大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/35 | 分類號: | G01N21/35 |
| 代理公司: | 北京路浩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11002 | 代理人: | 王瑩 |
| 地址: | 100193 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 消除 水分 紅外 光譜 檢測 土壤 含量 影響 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及光譜檢測技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種消除水分對近紅外光譜檢測土壤全氮含量影響的方法。
背景技術(shù)
土壤全氮含量是最重要的土壤養(yǎng)分之一,許多研究探索了使用近紅外光譜技術(shù)檢測土壤全氮含量的模型,模型精度達到了相當(dāng)高的水平。
近紅外光譜(Near?Infrared?Reflectance?Spectroscopy簡稱NIRS)分析法可以用來預(yù)測土壤中的全氮水平,其基本過程是:首先選取適宜的樣本集,光譜掃描,建立土壤氮素的定標(biāo)模型,也就是建立近紅外光譜數(shù)據(jù)與實驗室標(biāo)準(zhǔn)分析測定的土壤樣品氮素成分數(shù)值的相關(guān)回歸方程。然后,根據(jù)待測樣品的光譜特征,利用相應(yīng)的定標(biāo)模型對土壤氮素水平進行預(yù)測。但是由于土壤水分對近紅外光有強烈吸收,土壤水分的存在大大影響了基于近紅外光譜的土壤氮素檢測精度。
近紅外光譜分析主要分為透射光譜分析和漫反射光譜分析。透射光譜分析使用近紅外的短波區(qū)域(0.8~1.2μm),主要用于對液體狀樣品或透過率較大的樣品進行分析;漫反射光譜分析使用近紅外的長波區(qū)域(1.4~2.5μm),主要用于對粉末狀樣品或固體樣品進行分析。近紅外光譜分析的主要優(yōu)點是:分析速度快、對于單個光譜可進行多種組分的分析、不消耗樣品、沒有化學(xué)污染等。
發(fā)明專利“一種土壤全氮全磷聯(lián)合測定的方法”包括土壤同步消煮預(yù)處理,土壤待測液制備,土壤全氮全磷含量測定三個步驟。發(fā)明的優(yōu)點:避免了土壤重復(fù)稱樣和消煮,簡化實驗操作流程;土壤消化處理所使用的加速劑改為硫酸鉀硫酸銅,避免了硒粉對人體的毒害作用;土壤全氮全磷測定采用連續(xù)流動注射分析儀測定,提高了準(zhǔn)確性和精密度。但是普通人員無法掌握專業(yè)化學(xué)的操作流程。
發(fā)明專利“基于近紅外光譜技術(shù)的無損測量土壤養(yǎng)分含量的方法”,采用5種方法建立了預(yù)測土壤養(yǎng)分參數(shù)的模型,但是需要繁瑣的土樣預(yù)處理過程,并配合ASD光譜儀才能完成養(yǎng)分預(yù)測,整個過程都需要在電腦的控制下完成??梢娺@些研究也存在一些問題,主要表現(xiàn)在土壤水分會對土壤全氮含量預(yù)測帶來嚴重干擾,需要繁瑣的預(yù)處理過程,以消除土壤水分對土壤氮、磷等營養(yǎng)元素含量的預(yù)測精度。
發(fā)明內(nèi)容
(一)所要解決的技術(shù)問題
本發(fā)明通過提供一種近紅外光譜分析土壤含氮含量的方法,在不降低檢測精度的前提下,減少預(yù)處理過程,消除土壤水分對測量的影響。
(二)技術(shù)方案
本發(fā)明提供了一種消除水分對近紅外光譜檢測土壤全氮含量影響的方法,該方法包括:
S1、對土壤樣本集進行光譜掃描,獲得預(yù)定波長范圍內(nèi)土壤樣本集中各土壤樣本的近紅外吸光度值
其中,k是土壤樣本序號,k=1,...,n,n是土壤樣本集中樣本的數(shù)量,j是波長;
S2、利用波長為1450nm和1940nm處的吸光度值計算歸一化水分吸收指數(shù)MAI:
其中,和分別是第k個土壤樣本在1940nm和1450nm處的吸光度值;
S3、將所述MAI劃分為預(yù)設(shè)的若干個梯度:≤MAIT1,(MAIT1,MAIT2],...,(MAITi-1,MAITi],...,(MAITm-2,MAITm-1],>MAITm-1,同時確定不同MAI梯度的土壤吸光度的修正系數(shù)λi:
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





