[發明專利]時鐘數據恢復電路的仿真測試方法

有效

• 申請號: 201310042021.5
• 申請日: 2013-02-04
• 公開（公告）號: CN103969571A
• 公開（公告）日: 2014-08-06
• 發明（設計）人: 朱紅衛;王旭;楊光華
• 申請（專利權）人: 上海華虹宏力半導體制造有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 上海浦一知識產權代理有限公司 31211
• 代理人: 丁紀鐵

技術領域

本發明涉及一種半導體集成電路的設計方法，特別是涉及一種時鐘數據恢復電路的仿真測試方法。

背景技術

時鐘數據恢復電路（clock and data recovery，CDR）在通訊領域應用廣泛，是很多系統中的核心電路也是設計難度較高的電路之一，例如在串行通信數據傳輸中，在接收端需要利用CDR將串行數據中的時鐘信號提取出來，并利用所提取的時鐘信號對串行數據進行采用并生成數字信號。

在進行時鐘數據恢復電路的設計過程中，需要通過測試的方法來驗證時鐘數據恢復電路的性能好壞，為了節約成本和提高效率，現有技術中通常是通過仿真測試方法來驗證所設計的時鐘數據恢復電路的好壞。仿真測試過程中需要在仿真軟件中形成一個和所設計的時鐘數據恢復電路的結構相同的時鐘數據恢復仿真電路，通過時鐘數據恢復仿真電路來模擬時鐘數據恢復電路的性能；同時還需要提供一個激勵信號給時鐘數據恢復仿真電路來實現最終的測試。

在現有仿真測試中，時鐘數據恢復仿真電路的設計比較容易，如何簡易的完成可變數據流激勵源的設計即提供激勵信號一直是設計者比較頭疼的問題。由于在實際串行通信數據傳輸過程中，時鐘數據恢復電路所接收到的串行數據的頻率以及各頻率的時段長的值都是較復雜的，為了實現較好的仿真效果，激勵信號中需要包括一個一系列的頻率和對應的時段長，所以如何實現頻率大小可調以及頻段時長可調的激勵信號是現有時鐘數據恢復電路的仿真測試過程中的一個復雜的問題，現有方法中設計者往往需要編寫較復雜的函數來實現可變頻激勵源的效果。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是提供一種時鐘數據恢復電路的仿真測試方法,采用簡單的方法就能提供頻率大小可變與頻段時長可變的激勵信號源，能提高測試效率、降低測試成本。

為解決上述技術問題，本發明提供的時鐘數據恢復電路的仿真測試方法包括如下步驟：

步驟一、按照設計所需的時鐘數據恢復電路形成一個時鐘數據恢復仿真電路，所述時鐘數據恢復仿真電路用于模擬所述時鐘數據恢復電路的性能。

步驟二、為所述時鐘數據恢復仿真電路設計一個激勵信號產生電路，該激勵信號產生電路用于在仿真測試過程中為所述時鐘數據恢復仿真電路提供一激勵信號，所述激勵信號產生電路包括：

可調電壓源，用于產生不同的電壓信號。

壓控振蕩器，所述壓控振蕩器的輸入端連接所述可調電壓源的輸出端，所述壓控振蕩器的輸出端輸出一正弦波信號，所述正弦波信號的頻率和所述電壓信號正比。

比較器，所述比較器的一個輸入端連接一參考信號、另一個輸入端連接所述壓控振蕩器的輸出端，所述比較器輸入的所述正弦波信號和所述參考信號進行比較并在所述比較器的輸出端輸出頻率和所述正弦波信號相同、且為方波結構的激勵信號；所述比較器的輸出端連接到所述時鐘數據恢復仿真電路。

步驟三、用所述激勵信號產生電路產生的所述激勵信號對所述時鐘數據恢復仿真電路進行仿真測試。

進一步的改進是，所述可調電壓源、所述壓控振蕩器和所述比較器都分別采用仿真軟件庫中自帶的模塊實現。

進一步的改進是，步驟三中仿真測試時所需的所述激勵信號為頻率可變且各頻率所對應的頻段時長可變的信號，根據所述激勵信號所需的各頻率值的大小來設置所述可調電壓源的電壓信號的大小，根據所述激勵信號所需的各頻率所對應的頻段時長大小來設置各頻率所對應的所述可調電壓源的電壓信號的時長。

本發明方法中采用由可調電壓源、壓控振蕩器和比較器組成的激勵信號產生電路就能方便的產生激勵信號，且通過調節可調電壓源的電壓信號的大小和時長就能方便調節激勵信號的頻率大小與頻段時長，能夠大大簡化激勵信號的實現方法，能提高測試效率并降低測試成本。

附圖說明

下面結合附圖和具體實施方式對本發明作進一步詳細的說明：

圖1是本發明實施例方法中的激勵信號產生電路的結構圖；

圖2是圖1中的壓控振蕩器的輸入輸出曲線；

圖3是本發明實施例方法中的激勵信號產生電路的輸入輸出曲線。

具體實施方式

如圖1所示，是本發明實施例方法中的激勵信號產生電路的結構圖；本發明實施例時鐘數據恢復電路的仿真測試方法包括如下步驟：

步驟一、按照設計所需的時鐘數據恢復電路形成一個時鐘數據恢復仿真電路（CDR仿真電路）4，所述時鐘數據恢復仿真電路4用于模擬所述時鐘數據恢復電路的性能。