[發(fā)明專利]樣本架及其檢測裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310040348.9 | 申請日: | 2013-02-01 |
| 公開(公告)號: | CN103111340A | 公開(公告)日: | 2013-05-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 鄧克剛 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳德夏科技發(fā)展有限公司 |
| 主分類號: | B01L9/06 | 分類號: | B01L9/06;G01N35/04 |
| 代理公司: | 廣州市南鋒專利事務(wù)所有限公司 44228 | 代理人: | 張志醒 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)街道*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 樣本 及其 檢測 裝置 | ||
1.?一種樣本架,其特征在于:包括試管架和安裝所述試管架的底座,所述試管架包括主體板架和用于固定所述主體板架的架體,所述主體板架上均勻設(shè)置有多個適于插裝試管的樣本位;所述試管架活動地安裝于所述底座,可在所述底座上滑動并可從所述底座抽出。
2.?如權(quán)利要求1所述的樣本架,其特征在于:所述試管架還包括上層網(wǎng)板,所述上層網(wǎng)板與所述主體板架平行設(shè)置,且所述上層網(wǎng)板上設(shè)置有多個支撐孔,所述支撐孔與所述樣本位一一對應(yīng),所述試管插裝在所述樣本內(nèi)位,并由所述支撐孔支撐,使所述試管保持豎直狀態(tài)。
3.?如權(quán)利要求2所述的樣本架,其特征在于:在每個所述支撐孔的左右兩邊或上下兩邊均設(shè)置有一個附加孔,所述附加孔貫穿至所述主體板架。
4.?如權(quán)利要求1所述的樣本架,其特征在于:在所述試管架與底座之間設(shè)置有一定位結(jié)構(gòu),所述定位結(jié)構(gòu)包括兩塊極性相反的磁鐵,且分別對應(yīng)安裝于所述試管架和底座上。
5.?如權(quán)利要求1所述的樣本架,其特征在于:還包括一用于檢測試管架與底座之間相對位置的位置檢測開關(guān)。
6.?如權(quán)利要求1所述的樣本架,其特征在于:所述架體包括前擋板和后擋板,在所述前擋板和后擋板上分別設(shè)置有一抓持部。
7.?如權(quán)利要求1所述的樣本架,其特征在于:所述底座包括底板和安裝于所述底板上的滑軌,所述試管架通過所述滑軌安裝于所述底座。
8.?一種樣本架檢測裝置,適于檢測樣本在樣本架上的位置,其特征在于:所述樣本架為權(quán)利要求1~7中任一項所述的樣本架,包括輕觸開關(guān)、檢測電路和顯示模塊,所述輕觸開關(guān)靠近所述樣本位的內(nèi)側(cè)壁設(shè)置,當(dāng)所述輕觸開關(guān)被試管壓下時,產(chǎn)生一控制信號,所述檢測電路對所述控制信號進(jìn)行處理后,將所述試管的位置顯示在所述顯示模塊上。
9.?如權(quán)利要求8所述的樣本架檢測裝置,其特征在于:所述顯示模塊為計算機(jī)顯示屏。
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