[發明專利]故障地址檢測器、半導體存儲器件及檢測故障地址的方法

有效

• 申請號: 201310039924.8
• 申請日: 2013-01-31
• 公開（公告）號: CN103578563B
• 公開（公告）日: 2018-03-02
• 發明（設計）人: 林相吾
• 申請（專利權）人: 愛思開海力士有限公司
• 主分類號: G11C29/12
• 分類號: G11C29/12
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理事務所(普通合伙)11363
• 代理人: 俞波,周曉雨

1.一種故障地址檢測器，包括：

CAM鎖存器組，所述CAM鎖存器組被配置成分別儲存故障地址，所述故障地址中的每個指示缺陷區域；以及

比較部，所述比較部與所述CAM鎖存器組共同地連接，并且被配置成檢測在從所述CAM鎖存器組接收的故障地址之中是否存在與比較地址相對應的故障地址，

其中，所述CAM鎖存器組被配置成通過將所述故障地址順序地傳送到所述比較部來以時分的方式共用所述比較部，

其中，所述CAM鎖存器組被配置成分別接收CAM使能信號，所述CAM使能信號被順序地激活，以及

其中，所述CAM鎖存器組分別響應于所述CAM使能信號來將所述故障地址順序地傳送到所述比較部。

2.如權利要求1所述的故障地址檢測器，還包括：

修復地址提供部，所述修復地址提供部與所述比較部連接，并且配置成當存在與所述比較地址相對應的故障地址時提供修復地址。

3.如權利要求1所述的故障地址檢測器，其中，所述CAM鎖存器組中的每個被配置成不接收所述比較地址。

4.如權利要求1所述的故障地址檢測器，其中，所述比較部包括：

邏輯運算塊，所述邏輯運算塊被配置成檢測所述比較地址的數據比特是否與從所述CAM鎖存器組中的每個接收的故障地址的相對應的數據比特相同；以及

檢測塊，所述檢測塊被配置成根據所述邏輯運算塊的檢測結果來輸出檢測信號。

5.如權利要求4所述的故障地址檢測器，還包括：

修復地址提供部，所述修復地址提供部與所述比較部連接，并且被配置成響應于時鐘信號而順序地產生修復地址，以及根據所述檢測信號來提供地址使能信號。

6.如權利要求5所述的故障地址檢測器，其中，所述故障地址檢測器被配置成根據所述地址使能信號而在順序地產生的修復地址之中確定與所述比較地址相對應的修復地址。

7.如權利要求1所述的故障地址檢測器，其中，所述CAM鎖存器組中的每個包括用于儲存相對應的故障地址的數據比特的鎖存器電路。

8.如權利要求7所述的故障地址檢測器，其中，所述鎖存器電路中的每個包括：

鎖存器；

第一晶體管和第二晶體管，所述第一晶體管和所述第二晶體管串聯連接在所述鎖存器的第一節點與參考節點之間；以及

第三晶體管，所述第三晶體管連接在所述鎖存器的第二節點與輸出節點之間，以及

其中，所述第一晶體管被配置成響應于讀取控制信號而導通，所述第二晶體管被配置成響應于相對應的故障地址的數據比特中的一個而導通或關斷，所述第三晶體管被配置成響應于相對應的CAM使能信號而導通。

9.一種檢測故障地址的方法，所述方法包括以下步驟：

分別將故障地址加載到CAM鎖存器組，所述故障地址中的每個指示缺陷區域；

分別響應于被順序地激活的CAM使能信號來將所述故障地址順序地提供給與所述CAM鎖存器組共同連接的比較部；以及

將從所述CAM鎖存器組提供給所述比較部的故障地址與比較地址順序地比較，以檢測在所述故障地址之中是否存在與所述比較地址相對應的故障地址。

10.如權利要求9所述的方法，還包括以下步驟：

當存在與所述比較地址相對應的故障地址時，提供修復地址。

11.如權利要求9所述的方法，還包括以下步驟：

當存在與所述比較地址相對應的故障地址時，輸出檢測信號。

12.如權利要求11所述的方法，還包括以下步驟：

響應于時鐘信號而順序地產生修復地址；以及

響應于所述檢測信號而產生地址使能信號。

13.如權利要求12所述的方法，還包括以下步驟：

根據所述地址使能信號而在順序地產生的修復地址之中確定與所述比較地址相對應的修復地址。

14.如權利要求13所述的方法，其中，在所述確定步驟中，將所述地址使能信號激活時產生的修復地址確定為與所述比較地址相對應的修復地址。