[發明專利]一種多路阻值自動化測量系統

無效

• 申請號: 201310039535.5
• 申請日: 2013-01-31
• 公開（公告）號: CN103134988A
• 公開（公告）日: 2013-06-05
• 發明（設計）人: 曹嵐;張海燕;朱憲亮;夏王;季鵬;莊腹蓉;陸華杰;龔海梅
• 申請（專利權）人: 中國科學院上海技術物理研究所
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02
• 代理公司: 上海新天專利代理有限公司 31213
• 代理人: 郭英

技術領域

本發明涉及一種全自動多路阻值測量系統，具體指一種多路阻值自動化測量系統。

背景技術

傳統紅外探測器組件老化試驗中，光敏元阻值測試需先斷開電源及其限流電阻，而后通過真空容器引出的連線定期手動測出,這樣大大增加了電阻測試的不準確性和不方便性，同時測出的數據需要人工錄入數據，試驗過程中容易產生錯誤，積累的數據量極為有限，數據處理速度慢，不能進行實時處理。

發明內容

基于上述研究多路紅外探測器阻值測試的困難，本專利公開了一種高可靠度的全自動多路阻值測量系統，其包括電路保護單元、多路電子開關陣列及數據采集器、限流電阻、老化電源及計算機，其特征在于多路元器件老化試驗和測量自動切換、電阻測量過程自動化、采集獲得數據計算機存儲、高可靠度。

其中，多路電子開關陣列是一個多路單刀雙閘開關陣列，其由多片SPDT芯片ADG1634組成，任一開關的通斷可由開關陣列內置的單片機控制，同時開關陣列可通過數據采集器的數字量輸入輸出DIO與數據采集器通信；數據采集器為fluke2620A，其有RS232數據通信接口和數字量輸入輸出接口D0~D7；電路保護單元是由保險絲、濾波電容以及三種浪涌抑制器件組成，其中，采用的三種浪涌抑制器件分別為氣體放電管、抑制二極管TVS及壓敏電阻；老化電源是大華15V恒壓電源；計算機中裝有Labview軟件。

老化電源作為整個老化試驗元器件的供電電源。老化電源后接有電路保護單元，保證老化試驗的穩定性。電路保護單元后接的電路被分成64個支路，每個支路均包含接著一個限流電阻X、一個SPDT開關和一個被測元器件，其中，限流電阻X根據每個支路的被測元器件不同，阻值也不同，其阻值范圍為4~10KΩ；SPDT開關為多路開關陣列的一個支路形式，SPDT開關一端A_X接限流電阻X，另一端B_X接數據采集器的輸入端，SPDT開關的公共端C_X接待測元器件的非公共端1~64；待測元器件的公共端D接數據采集器的輸出端、非公共端1~64分別接到SPDT開關的公共端C_X；其電路原理圖如圖1。

當64路待測元器件中的任意一個元器件有測試要求時，計算機通過RS232接口通信將數據采集器DIO中的D0為置低，以表示有元器件等待測試；多路電子開關陣列讀到置低信號后，開關陣列切換該路元器件對應的SPDT開關狀態，SPDT的閘刀從A_X觸點切換到B_X觸點，即斷開該路元器件與老化電源連接，將其接通至數據采集器，完成元器件的試驗狀態與測試狀態的自動切換；同時計算機通過RS232接口向數據采集器發送測試命令，對切換過來的元器件進行阻值測量，實現阻值自動測試的目的；計算機發送向數據采集器的RS232接口方式命令的方式，將測量數據轉移至計算機進行存儲；最后計算機置低數據采集器的DIO中的D1位，向多路開關陣列發送測試完畢信號；多路電子開關陣列讀取D1置低信號，切換開關，將該路元器件與老化電源連接，元器件返回老化試驗狀態。

本發明的最大優點是：可靠度高，可確保流過器件的電流變化小于0.1mA,，確保元器件不會在試驗過程和測試過程中受到損傷，可自動化實現64路元器件同時試驗而獨立測試，自動數據存儲，可大大提高元器件老化數據采集的速率、準確度、數據量。

附圖說明

圖1為本發明的電路原理圖。

圖2本發明工作流程圖。

具體實施方式

下面結合附圖，對本發明的具體實施方式作進一步的詳細說明：

將5路待測元器件按照原理圖1接線，即將5路元器件一端分別接到開關陣列接頭C_1~C_5，另一端接到公共端D，D接到數據采集器的輸出端；老化電源采用北京大華無線電儀器廠的DH1718E-5型雙路跟蹤穩壓電源，當計算機上點擊開始測試按鈕時，系統運行的步驟如圖2：

1、選定需要測試的元器件回路編號形成待測隊列，計算機向多路電子開關陣列發送測試開始命令。

2、多路電子開關陣列切換回路編號最小的單刀雙閘開關，將該路元器件連接至數據采集器，同時向數據采集器發送開關就位信號。

3、計算機從數據采集器上讀取多路電子開關陣列發出的開關就位信號，若讀取到開關就位信號，計算機則向數據采集器發送數據采集命令，并等待數據采集器的回饋信息；

4、計算機接受到數據采集器返回有效數據，將返回的有效數據進行存儲，并向多路電子開關陣列發送數據采集完畢信號，從待測隊列中清除編號最小的元器件。

5、重復步驟2~4，對所有待測的元器件進行測試。

6、當所有待測的元器件測試完畢，計算機向多路電子開關陣列發送測試完畢信號。

7、多路電子開關陣列收到計算機發送的測試完畢信號后，多路電子開關陣列將所有完成測試元器件所在回路的單刀雙閘開關進行切換，以將所有的元器件連接至老化電源上，讓元器件繼續進行老化。