[發(fā)明專利]背光源及制造該背光源的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310038415.3 | 申請日: | 2013-01-31 |
| 公開(公告)號: | CN103148409A | 公開(公告)日: | 2013-06-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 胡哲彰;張光耀;曹謙;熊充 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市華星光電技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | F21S8/00 | 分類號: | F21S8/00;F21V29/00;F21V23/00;F21Y101/02 |
| 代理公司: | 深圳市順天達(dá)專利商標(biāo)代理有限公司 44217 | 代理人: | 蔡曉紅;林儉良 |
| 地址: | 518132 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 背光源 制造 方法 | ||
1.一種背光源,包括PCB(6)及安裝于所述PCB(6)上并與所述PCB(6)建立電性連接的多個LED(5);所述PCB(6)包括從底至頂依次設(shè)置的基層(61)、介電層(62)、導(dǎo)電層(63)和絕緣層(64);所述PCB(6)的頂部被所述絕緣層(64)封閉;所述PCB(6)包括分別布設(shè)于相互垂直的平面內(nèi)并用于安裝所述LED(5)的燈條區(qū)(7)和用于散熱的散熱區(qū)(8);其特征在于,
所述導(dǎo)電層(63)分為相互絕緣且分別位于所述散熱區(qū)(8)上的第一導(dǎo)電區(qū)(66)及位于所述燈條區(qū)(7)上的第二導(dǎo)電區(qū)(67)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的背光源,其特征在于,所述基層為鋁制基層,所述第一導(dǎo)電區(qū)和第二導(dǎo)電區(qū)均為銅層。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的背光源,其特征在于,所述導(dǎo)電層(63)上設(shè)有使所述第一導(dǎo)電區(qū)(66)與所述第二導(dǎo)電區(qū)(67)相互絕緣的開槽(65),所述開槽(65)的底部與所述介電層(62)相通;所述開槽(65)設(shè)于所述燈條區(qū)(7)與所述散熱區(qū)(8)的交界處。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的背光源,其特征在于,所述第一導(dǎo)電區(qū)(66)和所述第二導(dǎo)電區(qū)(67)上分別設(shè)置有用于短路測試的測試點(diǎn)(9)。
5.一種制造背光源的方法,其特征在于,包括以下步驟:
S1、從底至頂依次形成逐層堆疊的基層(61)、介電層(62)和導(dǎo)電層(63),從而形成PCB毛坯;
S2、將所述PCB毛坯劃分為用于安裝所述多個LED(5)的燈條區(qū)(7)和用于散熱的散熱區(qū)(8);
S3、將所述導(dǎo)電層(63)分為相互絕緣且分別位于所述散熱區(qū)(8)上的第一導(dǎo)電區(qū)(66)及位于所述燈條區(qū)(7)上的第二導(dǎo)電區(qū)(67);
S4、對所述第二導(dǎo)電區(qū)(67)進(jìn)行蝕刻形成預(yù)定的導(dǎo)電線路;
S5、在所述導(dǎo)電層(63)的上方噴絕緣漆形成絕緣層(64),制成PCB(1);
S6、將多個LED(5)安裝于所述PCB(6)的所述燈條區(qū)(7)上,并與所述第二導(dǎo)電區(qū)(67)建立電性連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,所述步驟S3為:
在所述導(dǎo)電層(63)上開設(shè)使所述第一導(dǎo)電區(qū)(66)與所述第二導(dǎo)電區(qū)(67)相互絕緣的開槽(65),所述開槽(65)的底部與所述介電層(62)相通。
7.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的方法,其特征在于,所述基層為鋁基層,所述第一導(dǎo)電區(qū)和第二導(dǎo)電區(qū)均為銅層。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,所述開槽(65)通過切刀切斷方式或蝕刻方式形成;所述開槽(65)開設(shè)于所述燈條區(qū)(7)和所述散熱區(qū)(8)的交界處。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法,其特征在于,還包括以下步驟:
在所述步驟S5之后,將所述PCB毛坯沿所述開槽(65)彎折,使所述燈條區(qū)(7)和所述散熱區(qū)(8)分別處于兩個相互垂直的平面內(nèi)。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法,其特征在于,還包括以下步驟:
在所述步驟S4之后,在所述第一導(dǎo)電區(qū)(66)和所述第二導(dǎo)電區(qū)(67)上分別設(shè)置用于短路測試的測試點(diǎn)(9)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于深圳市華星光電技術(shù)有限公司,未經(jīng)深圳市華星光電技術(shù)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310038415.3/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種防止滴水的晾鞋架
- 下一篇:滌氨綸面料染整加工方法





