[發明專利]原子力顯微鏡配套用薄膜樣品壓縮裝置

有效

• 申請號: 201310037946.0
• 申請日: 2013-01-31
• 公開（公告）號: CN103116039A
• 公開（公告）日: 2013-05-22
• 發明（設計）人: 鐘建;李文英;馬夢佳;閆策;何丹農
• 申請（專利權）人: 上海納米技術及應用國家工程研究中心有限公司
• 主分類號: G01Q30/20
• 分類號: G01Q30/20
• 代理公司: 上海東方易知識產權事務所 31121
• 代理人: 唐莉莎

技術領域

本發明涉及原子力顯微鏡配套用薄膜樣品壓縮裝置，具體涉及對其結構的改進。

背景技術

為了將對納米材料和制品力學性能的測量和微觀形貌的檢測進行有機結合，原子力顯微鏡（AFM）等微納米觀察儀器要與一些力學測試裝置配合使用，從而可以深入地探索各類納米材料及制品的微觀損傷斷裂行為和機理，及其與載荷作用、材料結構和性能間的相關性規律。

現有一種跨尺度微納米級原位壓縮壓縮力學性能測試裝置，該發明有效的推動了原位納米壓縮測試裝置的發展。但是尚存在以下局限性：此類設備對被測試樣尺寸結構限制嚴格；制作較為復雜，包含力傳感器、步進電機等等，因而制作費用較高，可能不能滿足廣大普通原子力顯微鏡用戶需求。

發明內容

針對現有技術中的缺陷，本發明目的在于提供一種簡易的原子力顯微鏡配套用薄膜樣品壓縮裝置。

一種原子力顯微鏡配套用薄膜樣品壓縮裝置，其特征在于，一基座設置有內凹槽，基座后部凹槽兩側設置有導軌；基座后端設置有螺紋孔，推進螺桿與螺紋孔螺紋連接；?

推進螺桿頂在右夾具上；右夾具位于導軌上，與導軌滑動連接；左夾具固定在基座的后部分凹槽內；

所述左夾具由蓋板和底板組成；右夾具由蓋板和底板組成；所述左夾具的蓋板和底板通過螺栓固定連接；所述右夾具的蓋板和底板通過螺栓固定連接。

本發明結構簡單，操作容易，解決了對被測試樣尺寸結構限制嚴格的問題，使用方便；另外降低了制作費用，能滿足于廣大普通原子力顯微鏡用戶需求。

附圖說明

附圖1是本發明立體結構示意圖。

附圖2是圖1的側視圖。

附圖3是軌道結構剖視圖。

1基座、11長方形通槽、12長方形通槽、13螺孔、14刻度、15凹槽、

2左夾具、21左夾具蓋板、22?左夾具底板、

3導軌、

4右夾具、41右夾具蓋板、42右夾具底板、

5推進螺桿、

6?L形緊固塊、7測試樣品臺、8螺栓、9測試防震臺。

具體實施方式

本發明的優選實施例結合附圖說明如下：

一種原子力顯微鏡配套用薄膜樣品壓縮裝置，一基座1設置有內凹槽15，基座后部凹槽兩側設置有導軌3；基座后端設置有螺紋孔13，推進螺桿5與螺紋孔螺紋連接；?

推進螺桿頂在右夾具4上；右夾具位于導軌上，與導軌滑動連接；左夾具2固定在基座的后部分凹槽內。軌道截面形狀為上寬下窄，通過螺栓8與基座固定連接，右夾具卡在軌道上會脫離，可保證左夾具在所述導軌上水平滑行。

所述左夾具由蓋板21和底板22組成；右夾具由蓋板41和底板42組成；所述左夾具底板22的上平面一側內凹形成一平面，供放置測試樣品一端用；相對應所述右夾具底板42的上平面一側內凹形成一平面，供放置測試樣品另一端用。

所述左夾具的蓋板和底板通過螺栓8固定連接；所述右夾具的蓋板和底板通過螺栓8固定連接。

所述基座前部兩側壁上開有長形通槽12，左夾具底板通過長形通槽中的螺栓8固定，即將長形通槽12中的螺栓向里擰緊，從而固定左夾具。所述長形通槽12使得所述左夾具的固定位置具有一定自由度，從而可以通過調節左夾具固定位置而保證原子力顯微鏡測試區域為樣品指定區域。

在所述基座一側壁上設置有刻度14，可以讀出左右夾具邊緣處數值，從而計算出樣品初始長度，壓縮長度等。

在所述基座的四角部位設置有長形通槽11；有兩塊L形緊固塊6，分別設置在基座的兩端底部，螺栓8穿過基座上的長形通槽11與L形緊固塊6固定連接。

長形通槽11因其長度可使螺栓在長形通槽內的固定位置具有一定的自由度，從而可以與不同型號原子力顯微鏡的不同大小的樣品臺連接。

本發明使用時，固定在測試樣品臺7上，測試樣品臺置于測試防震臺9上。

本發明的目的是按以下方式實現的，將左夾具蓋板和左夾具底板夾住樣品一端，擰緊左夾具緊固螺栓，從而固定樣品一端，將右夾具蓋板和右夾具底板夾住樣品另一端，擰緊右夾具緊固螺栓，從而固定樣品另一端；調節左右夾具的相對位置，使樣品的中心位置與原子力顯微鏡探針近似在同一垂直線上，從而保證原子力顯微鏡探針下針之后檢測區域為樣品中心區域。將左夾具緊固螺栓通過基座上的長方形通槽向里擰緊，從而固定左夾具，旋轉推進螺桿，推動右夾具沿著導軌運動，進而壓縮樣品。?