[發(fā)明專利]MCU芯片檢測方法和電路

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310037660.2
• 申請日: 2013-01-30
• 公開（公告）號: CN103970117B
• 公開（公告）日: 2016-09-21
• 發(fā)明（設計）人: 曾加;周堯;趙啟山
• 申請（專利權）人: 上海東軟載波微電子有限公司
• 主分類號: G05B23/02
• 分類號: G05B23/02
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 臧建明

1.一種MCU芯片檢測電路，其特征在于，包括：控制電路、電壓產生電路、采樣電路；所述控制電路、所述電壓產生電路和所述采樣電路依次連接；所述控制電路與所述采樣電路連接；

所述電壓產生電路，用于在所述控制電路的控制下，經過所述采樣電路向處于輸出狀態(tài)的被測MCU芯片的IO管腳提供測試信號，以使所述被測MCU芯片根據(jù)所述測試信號調整所述被測MCU芯片的IO管腳輸出的電信號，所述測試信號為電壓信號；

所述采樣電路，用于對所述被測MCU芯片的IO管腳輸出的電信號進行采樣，獲得第一電壓采樣值和第一電流采樣值，將所述第一電壓采樣值和第一電流采樣值提供給所述控制電路；

所述控制電路，用于控制所述電壓產生電路通過所述采樣電路向所述被測MCU芯片的IO管腳提供所述測試信號；以及接收所述采樣電路提供的所述第一電壓采樣值和第一電流采樣值，并根據(jù)所述第一電壓采樣值和第一電流采樣值，獲得所述被測MCU芯片的IO管腳輸出的電壓和電流的對應關系。

2.根據(jù)權利要求1所述的MCU芯片檢測電路，其特征在于，所述電壓產生電路包括：第一數(shù)模轉換電路和第一放大電路；所述第一數(shù)模轉換電路與所述第一放大電路連接；

所述第一數(shù)模轉換電路，用于接收所述控制電路發(fā)送的數(shù)字測試信號，將所述數(shù)字測試信號轉換為模擬測試信號；

所述第一放大電路，用于對所述模擬測試信號進行放大處理，獲得所述測試信號，并通過所述采樣電路將所述測試信號提供給所述被測MCU芯片的IO管腳。

3.根據(jù)權利要求2所述的MCU芯片檢測電路，其特征在于，所述第一數(shù)模轉換電路具體用于接收所述控制電路發(fā)送的所述數(shù)字測試信號，將所述數(shù)字測試信號轉換為多路模擬測試信號；

所述第一放大電路具體用于對所述多路模擬測試信號進行放大處理，獲得多路所述測試信號，并通過所述采樣電路將多路測試信號中的每路測試信號分別提供給所述被測MCU芯片的一個管腳。

4.根據(jù)權利要求2所述的MCU芯片檢測電路，其特征在于，還包括：

通道選擇電路，與所述控制電路連接，用于在所述控制電路的控制下，控制所述采樣電路與所述被測MCU芯片的IO管腳中的一個IO管腳連接；

所述電壓產生電路具體用于通過所述通道選擇電路向所述被測MCU芯片上與所述采樣電路連接的管腳提供所述測試信號。

5.根據(jù)權利要求1所述的MCU芯片檢測電路，其特征在于，

所述電壓產生電路還用于在所述控制電路的控制下，通過所述采樣電路向處于輸入狀態(tài)的被測MCU芯片的IO管腳提供所述測試信號；

所述采樣電路還用于向所述被測MCU芯片的IO管腳提供所述測試信號以使所述被測MCU芯片確定所述測試信號的電平值，并對所述測試信號進行采樣，獲得第二電壓采樣值，將所述第二電壓采樣值提供給所述控制電路；

所述控制電路還用于控制所述電壓產生電路通過所述采樣電路向所述被測MCU芯片的IO管腳提供所述測試信號；查詢所述被測MCU芯片，獲取所述被測MCU芯片確定的所述測試信號的電平值，以及接收所述采樣電路提供的所述第二電壓采樣值，并根據(jù)所述第二電壓采樣值和獲取的所述電平值，獲得所述被測MCU芯片的IO管腳所支持的所述電平值的電壓范圍。

6.根據(jù)權利要求1-5任一項所述的MCU芯片檢測電路，其特征在于，還包括：

數(shù)字可調電源電路，與所述控制電路連接，用于在所述控制電路的控制下向所述被測MCU芯片的電源管腳提供工作電壓。

7.根據(jù)權利要求6所述的MCU芯片檢測電路，其特征在于，所述數(shù)字可調電源電路包括：

第二數(shù)模轉換電路，用于接收所述控制電路發(fā)送的數(shù)字信號，將所述數(shù)字信號轉換為模擬信號；

第二放大電路，用于對所述模擬信號進行放大處理，獲得第一工作電壓信號，向所述被測MCU芯片的第一電源管腳提供所述第一工作電壓信號；

第三放大電路，用于對所述模擬信號進行放大處理，獲得第二工作電壓信號，向所述被測MCU芯片的第二電源管腳提供所述第二工作電壓信號。

8.根據(jù)權利要求6所述的MCU芯片檢測電路，其特征在于，

所述控制電路還用于查詢所述被測MCU芯片是否處于正常運行狀態(tài)，若否，記錄所述數(shù)字可調電源電路向所述被測MCU芯片的電源管腳提供的工作電壓。