[發明專利]三維測距儀

有效

• 申請號: 201310036688.4
• 申請日: 2013-01-30
• 公開（公告）號: CN103076000A
• 公開（公告）日: 2013-05-01
• 發明（設計）人: 陳健
• 申請（專利權）人: 陳健
• 主分類號: G01C3/10
• 分類號: G01C3/10;G01B11/30
• 代理公司: 北京商專永信知識產權代理事務所(普通合伙) 11400
• 代理人: 高之波;鄔玥

1.三維測距儀，其特征在于，包括：處理器、測距模塊、輸入模塊（3）、輸出模塊（4）和水準裝置，所述處理器連接所述輸入模塊（3）、輸出模塊（4）和測距模塊，所述處理器根據所述輸入模塊（3）的指令將所述測距模塊的數據經處理后傳送至所述輸出模塊（4），所述測距模塊包括向上測距的第一測距裝置（21）。

2.根據權利要求1所述的三維測距儀，其特征在于，還包括容納上述各模塊與裝置的外殼（6）和支撐所述外殼（6）的底盤（7），所述外殼（6）同軸可轉動連接所述底盤（7），所述底盤（7）設有水平刻度盤（71），所述底盤（7）底面中心設有對準器（72）；所述測距模塊還包括第二測距裝置（22），所述第二測距裝置（22）測量方向與所述第一測距裝置（21）測量方向垂直；所述外殼（6）內還設有可轉動的第一射線發生器（81），所述第一射線發生器（81）的轉動平面與所述第二測距裝置（22）測量方向垂直。

3.根據權利要求1所述的三維測距儀，其特征在于，所述水準裝置為設于所述外殼（6）的水準氣泡（51）。

4.根據權利要求1所述的三維測距儀，其特征在于，所述對準器（72）為光學對點器。

5.根據權利要求1所述的三維測距儀，其特征在于，所述外殼（6）內還固定有第二射線發生器（82），所述第二射線發生器（82）發光方向與所述第一測距裝置（21）測量方向垂直。

6.根據權利要求1所述的三維測距儀，其特征在于，所述測距模塊還包括第三測距裝置（23），所述第三測距裝置（23）測距方向與所述第二測距裝置（22）測距方向相反。

7.根據權利要求1所述的三維測距儀，其特征在于，所述處理器還包括存儲模塊，儲存來自所述測距模塊的數據。