[發明專利]X射線熒光分析測定水泥成分的方法及系統有效
| 申請號: | 201310036148.6 | 申請日: | 2013-01-30 |
| 公開(公告)號: | CN103969272A | 公開(公告)日: | 2014-08-06 |
| 發明(設計)人: | 馬振珠;劉玉兵;賈慶海;戴平;趙鷹立;閆冉;韓蔚 | 申請(專利權)人: | 中國建材檢驗認證集團股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N23/223 | 分類號: | G01N23/223 |
| 代理公司: | 北京鼎佳達知識產權代理事務所(普通合伙) 11348 | 代理人: | 王偉鋒;劉鐵生 |
| 地址: | 100024*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 射線 熒光 分析 測定 水泥 成分 方法 系統 | ||
1.一種X射線熒光分析測定水泥成分的方法,其特征在于其包括:
步驟1,制備標準水泥樣品熔片,該熔片的稀釋比為5;
步驟2,制備待測水泥樣品熔片;
步驟3,用X射線熒光儀測量上述標準水泥樣品熔片和待測水泥樣品熔片中各化學成分對應元素的強度;
步驟4,按照式(1)將待測水泥樣品測得的各個元素強度轉化為稀釋比為5的強度值,
式中:Ii,5為稀釋比為5的待測試水泥樣品熔片中化學成份i對應元素的X射線熒光強度,R為待測試水泥樣品熔片的稀釋比,Ii為待測試水泥樣品熔片中化學成份i對應元素的X射線熒光強度,αi,f為影響系數,
按照式(2)計算待測水泥樣品各化學成分的含量,
式中:Ci為待測試水泥樣品中化學成份i的質量分數,Ii,s為標準準樣品化學成份i對應元素的X射線熒光強度,Ci,s為標準樣中化學成份i的質量分數;
按照式(3)計算待測水泥樣品各化學成分的含量總和SUM,
SUM=∑Ci (3);
步驟5,給R賦值,并按照步驟4計算得到待測試水泥樣品中化學成份i的質量分數Ci以及待測水泥樣品各化學成分的含量總和SUM,并判斷待測水泥樣品各化學成分的含量總和SUM與標準樣品中各化學成分的含量總和SUMS之差SUM-SUMS是否在預設范圍內;
如果是,則上述計算得到的待測試水泥樣品中化學成份i的質量分數Ci即為測定結果;
如果否,則執行步驟6;
步驟6,重復步驟5,其中重新給R賦值,當待測水泥樣品各化學成分的含量總和SUM與標準樣品中各化學成分的含量總和SUMS之差在預設范圍內時,該次計算得到的質量分數Ci即為測定結果。
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