[發明專利]一種串聯電容檢測方法和設備

有效

• 申請號: 201310034843.9
• 申請日: 2013-01-30
• 公開（公告）號: CN103091590A
• 公開（公告）日: 2013-05-08
• 發明（設計）人: 林冬冬
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R31/12;G01R31/02
• 代理公司: 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

1.一種串聯電容檢測方法，其特征在于，包括：

對串聯電容中的各個電容同時進行檢測；

判斷所述串聯電容中是否存在失效電容，所述失效電容為處于短路狀態、開路狀態或容值老化狀態的電容；

在所述串聯電容中存在失效電容時，用備用電容替換所述失效電容。

2.根據權利要求1所述的串聯電容檢測方法，其特征在于，所述對串聯電容中的各個電容同時進行檢測包括：

同時對所述串聯電容中的各個電容的正、負極的電壓值進行檢測。

3.根據權利要求1或2所述的串聯電容檢測方法，其特征在于，所述判斷所述串聯電容中是否存在失效電容包括：

若所述串聯電容中存在正、負極的電壓值相等的電容，判斷所述正、負極的電壓值相等的電容為處于短路狀態的失效電容。

4.根據權利要求1或2所述的串聯電容檢測方法，其特征在于，所述判斷所述串聯電容中是否存在失效電容包括：

在所述串聯電容充電完成后，若所述串聯電容中存在電壓值有波動的電容，判斷所述正極的電壓值有波動、負極的電壓值不變的電容為處于開路狀態的失效電容，所述電壓值有波動是指在充電后正常電壓值的基礎上有超出正常電壓變化范圍的電壓值變化；

或在停止對所述串聯電容充電，并對所述串聯電容放電后，若所述串聯電容中存在在預設時間段內正極的電壓值有超出預設范圍的下降且負極的電壓值不變的電容，判斷所述在預設時間段內正極的電壓值有超出預設范圍的下降且負極的電壓值不變的電容為處于開路狀態的失效電容。

5.根據權利要求1或2所述的串聯電容檢測方法，其特征在于，所述判斷所述串聯電容中是否存在失效電容包括：

在所述串聯電容充電過程中，若所述串聯電容中存在正極電壓值等于穩態閾值、負極電壓值為0的電容，判斷所述正極電壓值等于穩態閾值、負極電壓值為0的電容為處于開路狀態的失效電容。

6.根據權利要求1或2所述的串聯電容檢測方法，其特征在于，所述判斷所述串聯電容中是否存在失效電容包括：

在所述串聯電容充電完成后，控制所述串聯電容中的k個串聯的電容放電，其中，所述串聯電容中包括n個電容，n≥2，2≤k≤n；

根據所述k個串聯的電容的放電時間、放電的起始電壓和放電的終止電壓獲得所述k個串聯的電容的電容值；

旁路所述k個串聯的電容中的一個待測電容得到k-1個串聯的電容；

控制所述k-1個串聯的電容放電；

根據所述k-1個串聯的電容的放電時間、放電的起始電壓和放電的終止電壓獲得所述k-1個串聯的電容的電容值；

根據所述k個串聯的電容的電容值和所述k-1個串聯的電容的電容值獲得所述待測電容的測量電容值；

將所述待測電容的測量電容值與所述待測電容的可用電容值閾值進行比較，所述可用電容值閾值是指電容處于可用狀態的最低電容值；

若所述待測電容的測量電容值小于所述電容的可用電容值閾值，判斷所述待測電容處于容值老化狀態。

7.一種串聯電容檢測設備，其特征在于，包括：

檢測單元，用于對串聯電容中的各個電容同時進行檢測；

判斷單元，用于根據所述檢測單元的檢測結果判斷所述串聯電容中是否存在失效電容，所述失效電容為處于短路狀態、開路狀態或容值老化狀態的電容；

控制單元，用于在所述判斷單元判斷所述串聯電容中存在失效電容時，用備用電容替換所述失效電容。

8.根據權利要求7所述的串聯電容檢測設備，其特征在于，所述檢測單元具體用于：

同時對所述串聯電容中的各個電容的正、負極的電壓值進行檢測。

9.根據權利要求7或8所述的串聯電容檢測設備，其特征在于，所述串聯電容檢測設備還包括：

二次電源，所述二次電源與所述串聯電容連接，用于對所述串聯電容充電。

10.根據權利要求7至9任一所述的串聯電容檢測設備，其特征在于，所述判斷單元具體用于：

若所述串聯電容中存在正、負極的電壓值相等的電容，判斷所述正、負極的電壓值相等的電容為處于短路狀態的失效電容。