[發(fā)明專利]一種測量電路模塊及電源器件電壓差的測量方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310034201.9 | 申請日: | 2013-01-30 |
| 公開(公告)號: | CN103149417A | 公開(公告)日: | 2013-06-12 |
| 發(fā)明(設計)人: | 楊良春 | 申請(專利權)人: | 北京信諾達泰思特科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R19/10 | 分類號: | G01R19/10 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 100010 北京市東城*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 測量 電路 模塊 電源 器件 電壓 測量方法 | ||
技術領域
本發(fā)明涉及電源器件電壓差測量技術領域,具體地,涉及一種測量電路模塊及電源器件電壓差的測量方法。
背景技術
常用的電源器件的測試參數(shù)主要有以下幾種:輸入電壓范圍,輸出基準電壓,電壓調整率,負載調整率,調整端或地端電流,紋波抑制比,輸出極限電流,輸出短路電流,輸出阻抗,啟動電壓范圍,噪聲,及瞬態(tài)參數(shù)等。其中,電壓調整率與負載調整率是決定電源器件性能的重要指標。電壓調整率即當輸入側電壓從允許輸出的最低值變化到規(guī)定的最大值時,輸出電壓的相對變化值占額定電壓的百分比。電壓調整率表征穩(wěn)壓器穩(wěn)壓性能優(yōu)劣的重要指標,由于電源器件的特性:當輸入取允許范圍內任意電壓,其輸出都為一固定值。
所以,可用[(輸出電壓1-輸出電壓2)/額定輸出電壓]×100%來計算,一般不超過0.1%。負載調整率即當輸入電壓不變,負載從零變化到額定值時,輸出電壓的變化。由于電源負載的變化會引起電源輸出的變化,負載增加,輸出降低,相反負載減少,輸出升高。
可用[(滿載時輸出電壓-半載時輸出電壓)/額定負載時輸出電壓]×100%來計算,通常指標3%~5%。由于電壓調整率及負載調整率的確定主要是對電壓差做計算,所以只要測得輸出端的電壓,再與其額定輸出電壓做比較,得到其實際輸出電壓與額定輸出電壓的電壓差,即可得到兩種測量參數(shù)。
傳統(tǒng)的測量方法是直接用萬用表等測量儀器測量。由于電源器件的誤差較小,其實際輸出電壓與額定電壓的電壓差通常在幾毫伏甚至更小,所以對于萬用表來說,其精度不夠測量微小電壓差;另外,若用高精度的測量儀器,雖然能夠較精確地測量出來,但成本就會大大增加。
在實現(xiàn)本發(fā)明的過程中,發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術中至少存在測量精度低和成本高等缺陷。
發(fā)明內容
本發(fā)明的目的在于,針對上述問題,提出一種測量電路模塊,以實現(xiàn)測量精度高和成本低的優(yōu)點。
本發(fā)明的第二目的在于,提出一種基于上述測量電路模塊的電源器件電壓差的測量方法。
為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用的技術方案是:一種測量電路模塊,包括第一電阻R1、第二電阻R2、第三電阻R3、第四電阻R4和運算放大器,其中:
待測量電源器件的輸出電壓Vo輸出端,經第二電阻R2后與運算放大器的同相輸入端連接;第一電阻R1的第一連接端與第二電阻R2和運算放大器的公共端連接,第一電阻R1的第二連接端接地GND;第三電阻R3的第一連接端為設備輸入電壓Vr輸入端,第三電阻R3的第二連接端與運算放大器的反相輸入端連接;第四電阻R4連接在第三電阻R3和運算放大器的公共端與運算放大器的誤差放大電壓Vm輸出端之間。
同時,本發(fā)明采用的另一技術方案是:一種電源器件電壓差的測量方法,包括:
(1)基于所述測量電路模塊,將待測量電源器件的輸出電壓Vo作為運算放大器輸入端,令設備輸入電壓Vr=待測量的電源器件的輸出電壓Vo的額定值;
(2)測量計算電壓差,根據(jù)差分電路原理Vm=(R4/R3)×(Vo-Vr),將待測量電源器件的輸出電壓Vo的微小誤差進行放大,其放大倍數(shù)主要由第三電阻R3與第四電阻R4的阻值決定;
利用放大器虛短虛斷特性,得到:
R1×Vo/(R1+R2)=R4×Vr/(R3+R4)+R3×Vm/(R3+R4);
由以上公式推導,得到:
Vo×R1×(R3+R4)/(R1+R2)=R4×Vr+R3×Vm;
Vm=Vo×R1×(R3+R4)/R3×(R1+R2)-Vm×R4/R3;
根據(jù)第一電阻R1、第二電阻R2、第三電阻R3和第四電阻R4的實際值,進行計算,就能夠得到誤差放大電壓Vm。
本發(fā)明各實施例的測量電路模塊及電源器件電壓差的測量方法,由于通過在輸出端搭建差分放大電路,將微小的電壓差范圍擴大到幾十毫伏及以上,然后再在采用普通測量儀器即可達到較精確測量的效果;從而可以克服現(xiàn)有技術中測量精度低和成本高的缺陷,以實現(xiàn)測量精度高和成本低的優(yōu)點。
本發(fā)明的其它特征和優(yōu)點將在隨后的說明書中闡述,并且,部分地從說明書中變得顯而易見,或者通過實施本發(fā)明而了解。
下面通過附圖和實施例,對本發(fā)明的技術方案做進一步的詳細描述。
附圖說明
附圖用來提供對本發(fā)明的進一步理解,并且構成說明書的一部分,與本發(fā)明的實施例一起用于解釋本發(fā)明,并不構成對本發(fā)明的限制。在附圖中:
圖1為本發(fā)明測量電路模塊的電氣原理示意圖。
具體實施方式
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