[發明專利]光學材料高溫透過率測試裝置

有效

• 申請號: 201310031722.9
• 申請日: 2013-01-12
• 公開（公告）號: CN103185707A
• 公開（公告）日: 2013-07-03
• 發明（設計）人: 王雷;許榮國;辛舟;陰萬宏;謝毅
• 申請（專利權）人: 中國兵器工業第二0五研究所
• 主分類號: G01N21/59
• 分類號: G01N21/59
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種光學材料高溫透過率測試裝置，包括紅外光源系統、聚焦反射鏡(5)，含有紅外探測器(6-2)、前置放大器(6-3)、鎖相放大器(6-4)和控制器(6-6)的光電探測處理系統，以及內置了透過率測量軟件包的計算機，所述紅外光源系統含有紅外光源(1-1)、準直鏡(1-4)、斬波器(1-5)和濾光片組(1-6)，濾光片組(1-6)包括一組中心波長不同的窄帶濾光片，所述紅外光源(1-1)發出的紅外光經準直鏡(1-4)準直成為與水平方向平行的平行光，該平行光由斬波器(1-5)調制成交變的紅外光束，該紅外光束經相應窄帶濾光片變為單色紅外光；其特征在于：還包括精密溫控爐、平面反射鏡組一和平面反射鏡組二；?

所述精密溫控爐的左側壁開有兩個入射孔，右側壁開有與兩個入射孔一一對稱的兩個出射孔，兩根剛玉管貫穿精密溫控爐爐腔且兩端頭分別由相應的入射孔和出射孔中伸出，其中一支剛玉管用于放置樣品；?

所述平面反射鏡組一與所述平面反射鏡組二具有相同的結構，都含有電控平移臺和表面相互平行的兩個平面反射鏡，兩平面反射鏡固連在于其對應的電控平移臺上且與水平方向成45°夾角；?

當所述平面反射鏡組一移入測量光路，而所述平面反射鏡組二位于測量光路之外時，所述單色紅外光經平面反射鏡組一反射進入一支剛玉管，由該剛玉管出射的單色紅外光直接由所述聚焦反射鏡聚焦到紅外探測器的靶面上，當平面反射鏡組一移出測量光路，而平面反射鏡組二移入測量光路時，所述單色紅外光直接進入另一支剛玉管，由該剛玉管出射的單色紅外光經平面反射鏡組二反射后由所述聚焦反射鏡(5)聚焦到紅外探測器(6-2)的靶面上；所述紅外探測器(6-2)將光信號轉換為電信號，該電信號經前置放大器(6-3)放大后，再經過鎖相放大器(6-4)對相應頻率的信號進行鎖定和放大后送入計算機(6-5)；控制器(6-6)在計算機(6-5)的控制下驅動兩個電控平移臺進行相應的移動；?

所述透過率測量軟件包含有界面模塊、控制模塊、采集模塊、計算模塊和存儲模塊，界面模塊的功能是，通過鍵盤接收測試人員設定的測量波長、?樣品測量溫度、樣品名稱；控制模塊的功能是，根據設定的測量波長驅動濾光片組轉動，使相應波長的窄帶濾光片切入測量光路，根據測量時序向控制器發送相應電控平臺的驅動指令；采集模塊的功能是，采集鎖相放大器輸出的四組電壓信號即測量光路一的一組背景電壓值、測量光路二的一組背景電壓值、測量光路一的一組測量電壓值、測量光路二的一組測量電壓值；計算模塊的功能，根據式T＝(V2/V02)/(V1/V01)或T＝(V1/V01)/(V2/V02)計算出樣品在當前溫度、當前波長下的透過率T，其中，V01、V02分別為測量光路一、測量光路二的平均背景電壓值，V1、V2分別為測量光路一和測量光路二的平均測量電壓值，樣品放入測量光路一時用前一計算式，而樣品放入測量光路二時用后一計算式；存儲模塊的功能是，存儲測量過程中的測量數據，并將透過率測量結果T存儲為Excell文件。?

2.根據權利要求1所述的光學材料高溫透過率測試裝置，其特征在于：所述聚焦反射鏡5為離軸拋物面鏡。?

3.根據權利要求1所述的光學材料高溫透過率測試裝置，其特征在于：所述濾光片組(1-6)的波長范圍是1μm～14μm，所述紅外探測器(6-2)的光譜響應范圍是1μm～14μm。?

4.根據權利要求1所述的光學材料高溫透過率測試裝置，其特征在于：還包括一個光闌(6-1)，所述光闌(6-1)位于所述紅外探測器(6-2)前1mm處。?