[發明專利]一種LED外延片及其制造方法有效
| 申請號: | 201310030223.8 | 申請日: | 2013-01-25 |
| 公開(公告)號: | CN103078025A | 公開(公告)日: | 2013-05-01 |
| 發明(設計)人: | 朱學亮;于洪波 | 申請(專利權)人: | 映瑞光電科技(上海)有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/12 | 分類號: | H01L33/12;H01L33/32;H01L33/00 |
| 代理公司: | 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 鄭瑋 |
| 地址: | 201306 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 led 外延 及其 制造 方法 | ||
技術領域
本發明涉及LED制造技術領域,尤其涉及一種LED外延片及其制造方法。
背景技術
綠色環保是現代照明發展的一個重要趨勢,LED技術的誕生和發展正在引發第二次照明革命。與傳統光源相比,LED具有壽命長、光效高、功耗低、體積小、自由集成等優勢。在戶外顯示、景觀照明、電視背光、室內照明等應用領域逐漸取代傳統光源成為主流。
目前,LED都是采用外延生長的方法制作在襯底上,這是因為自然界中沒有天然的氮化鎵材料。常用的襯底材料有藍寶石、碳化硅(SiC)、硅(Si)等。這其中,藍寶石襯底由于合適的價格、成熟的加工技術,在發光二極管中得到了廣泛的應用,占據了市場中大量的份額。但是藍寶石的熱導率非常低,只有0.5W/cmK,在高電流密度工作下的LED,如果產生的熱量不能迅速從器件傳導出來,將導致器件發光效率降低甚至失效。碳化硅和氮化鎵的晶格常數接近,這兩種材料的晶格失配只有3%,因此在SiC襯底上更容易獲得結晶質量高的GaN材料。但是碳化硅襯底制作成本高、加工相對不成熟,導致價格遠遠高于藍寶石,只有少數幾家LED公司使用。硅襯底價格最便宜,而且硅襯底的生長、加工工藝最成熟,能制作的襯底尺寸最大,因此也是一種潛力較大的襯底。
在硅襯底上外延生長氮化鎵材料的難點在于GaN和硅襯底的熱膨脹系數有很大差異,超過1微米后外延的GaN層從生長時的高溫降低到室溫時會產生很多裂紋,最終導致外延的GaN材料缺陷過多無法使用。而通常在制作藍綠光LED時需要氮化鎵材料的厚度要在3微米以上。針對這個問題,有很多研究者提出了不同的方案:在氮化鎵生長的中間插入一個低溫的氮化鋁層,可以有效消除這種裂紋;但是這種低溫氮化鋁層上面的氮化鎵厚度也有限,只能保證上面的氮化鎵厚度在1微米。通過插入多層低溫AlN層可以提供更厚的無裂紋氮化鎵,但是增加了工藝的復雜程度和成本。另一種方法是預先在硅襯底上制作好與最終LED尺寸相同的圖形,使每一個LED芯片預先分開,也可以降低裂紋的數量,但是也增加了工藝的復雜度和成本。
發明內容
本發明提供一種LED外延片及其制造方法,以解決硅襯底上生長的氮化鎵材料中產生裂紋的問題。
為解決以上問題,本發明提供一種LED外延片的制造方法,包括:
提供襯底;
在所述襯底上生長第一氮化鎵層;
在所述第一氮化鎵層生長應力釋放層;
在所述應力釋放層生長保護層,所述保護層晶格結構與第一氮化鎵層一致;
在所述保護層上生長第二氮化鎵層,同時,所述應力釋放層被分解形成晶格結構被破壞的應力釋放層。
可選的,在生長第一氮化鎵層之前還包括在所述襯底上生長氮化鋁層的步驟。
可選的,在襯底上生長氮化鋁緩沖層前還包括:將襯底在1000℃~1200℃的溫度下,在氫氣環境中烘烤。
可選的,利用MOCVD工藝生長所述氮化鋁緩沖層、第一氮化鎵層、應力釋放層、保護層和第二氮化鎵層。
可選的,所述氮化鋁緩沖層的生長工藝在1000℃~1200℃的溫度下進行,工藝氣體為三甲基鋁和氨氣,生長的氮化鋁緩沖層的厚度為10nm~200nm。
可選的,所述第一氮化鎵層的生長工藝在1000℃~1200℃的溫度下進行,工藝氣體為三甲基鎵和氨氣,生長的第一氮化鎵層的厚度為200nm~1000nm。
可選的,所述應力釋放層的材質為氮化銦鎵。
可選的,所述氮化銦鎵的生長在500℃~800℃的溫度下進行,工藝氣體為三甲基銦、三甲基鎵和氨氣,其中銦的物質的量大于等于銦和鎵總物質的量的10%,生長氮化銦鎵的厚度為200nm~1000nm。
可選的,所述保護層的材質為氮化鋁鎵。
可選的,所述氮化鋁鎵的生長在500℃~800℃的溫度下進行,其中鋁的物質的量大于等于鋁和鎵總物質的量的20%,生長氮化鋁鎵的厚度為100nm~500nm。
可選的,其特征在于,所述第二氮化鎵層的生長工藝在1000℃~1200℃的溫度下進行,工藝氣體為三甲基鋁和氨氣,生長的第二氮化鎵層的厚度為2000nm~10000nm。
本發明的另一面還提供一種LED外延片,利用上述的LED外延片的制造方法形成,包括:襯底、依次生長于所述襯底上的第一氮化鎵層、晶格結構被破壞的應力釋放層、保護層和第二氮化鎵層。
可選的,在所述襯底和第一氮化鎵層間還包括氮化鋁緩沖層。
可選的,所述晶格結構被破壞的應力釋放層的厚度為10nm~1000nm。
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