[發明專利]磨耗測試方法和設備

有效

• 申請號: 201310028796.7
• 申請日: 2013-01-25
• 公開（公告）號: CN103226958B
• 公開（公告）日: 2016-10-19
• 發明（設計）人: R·G·比斯克伯恩;J·梁;C·S·羅
• 申請（專利權）人: 國際商業機器公司
• 主分類號: G11B15/05
• 分類號: G11B15/05;G11B15/18
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 高青

技術領域

本發明涉及介質磨耗性測試，更具體地說，本發明涉及介質磨耗性和/或涂層磨損的測試的改進。

背景技術

在磁存儲系統中，通常利用磁換能器從磁記錄介質讀取數據和把數據寫到磁記錄介質上。通過把磁記錄換能器移動到介質上方要保存數據的位置來把數據寫到磁記錄介質上。磁記錄換能器隨后產生磁場，所述磁場把數據編碼到磁性介質中。通過類似地定位磁讀取換能器，隨后感測磁性介質的磁場，從介質讀取數據。讀取操作和寫入操作可以獨立地與介質的移動同步，以確保能夠從介質上的期望位置讀取數據和把數據寫到介質上的期望位置。

數據存儲行業中的一個重要并且持續的目標是增大保存在介質上的數據的密度。對磁帶存儲系統來說，該目標已導致增大記錄磁帶上的磁道和線性位密度以及減小磁帶介質的厚度。然而，小占用面積、更高性能的磁帶驅動系統的開發在供這種系統使用的磁帶頭組件以及磁帶的設計方面造成了各種問題。

介質磨耗性直接與磁帶頭磨損、回退和間隙損耗有關。介質廠家目前采用的計量磨耗性的方法包括已被證明不能夠表示實際磁帶頭磨損并且較差地計量磁帶磨耗性的方法。

發明內容

按照一個實施例的系統包括：用于容納模塊的載體；用于移動磁帶經過所述模塊的磁帶支承面的傳送機構；和用于測量所述模塊的磁帶支承面上的涂層的磨損程度的測量設備。

按照一個實施例的模塊包括：具有磁帶支承面的本體，所述本體具有與感興趣模塊近似的磁帶支承面輪廓和尺寸；和所述磁帶支承面上的涂層。

按照一個實施例的方法包括：測量載體中的模塊的磁帶支承面上的初始涂層厚度；使磁帶移動經過所述磁帶支承面；和每隔一段時間，測量殘余涂層厚度。

根據以下詳細說明，本發明的其它方面和實施例將變得明顯，結合附圖進行的以下詳細說明舉例說明了本發明的原理。

附圖說明

圖1是按照一個實施例的簡化磁帶驅動系統的示意圖。

圖2圖解說明了按照一個實施例的平直重疊的雙向雙模塊磁帶頭的側視圖。

圖2A是從圖2的線2A取出的磁帶支承面視圖。

圖2B是從圖2A的圓2B取出的詳細視圖。

圖2C是一對模塊的局部磁帶支承面的詳細視圖。

圖3描述了按照一個實施例的方法。

圖4A是按照一個實施例的磁帶頭的局部截面圖。

圖4B是按照一個實施例的磁帶頭的局部截面圖。

圖5是按照一個實施例的涂覆方案的俯視圖。

圖6A是按照一個實施例的涂層厚度測量設備的局部俯視圖。

圖6B是按照一個實施例的涂層厚度測量設備的局部截面圖。

圖7A是按照一個實施例的涂層厚度測量設備的局部俯視圖。

圖7B是按照一個實施例的涂層厚度測量設備的局部截面圖。

具體實施方式

下面的說明用于舉例說明本發明的一般原理，并不意圖限制這里要求保護的發明構思。此外，這里說明的特定特征可以與在各種可能的組合和排列的每一個中的其它所述特征結合地使用。

除非這里另有明確定義，所述術語都被賦予它們最寬廣的可能解釋，包括說明書中隱含的含義以及本領域的技術人員所理解的和/或在字典、論文等中定義的含義。

另外必須注意，在說明書和附加的權利要求書中使用的單數形式包括復數的所指對象，除非另有規定。

下面的說明公開了磁存儲系統的幾個優選實施例以及磁存儲系統的操作和/或組成部分。

在一個實施例中，一種系統包括：用于容納模塊的載體；用于移動磁帶經過所述模塊的磁帶支承面的傳送機構；和用于測量所述模塊的磁帶支承面上的涂層的磨損程度的測量設備。

在另一個實施例中，一種模塊包括：具有磁帶支承面的本體，所述本體具有與感興趣模塊近似的磁帶支承面輪廓和尺寸；和所述磁帶支承面上的涂層。

在另一個實施例中，一種方法包括：測量載體中的模塊的磁帶支承面上的初始涂層厚度；移動磁帶經過所述磁帶支承面；和每隔一段時間，測量殘余涂層厚度。

圖1圖解說明了可用在本發明的上下文中的基于磁帶的數據存儲系統的簡化磁帶驅動器100。雖然圖1中示出了磁帶驅動器的一種具體實現，然而應注意，可以在任意類型的磁帶驅動系統的上下文中實現這里說明的實施例。