[發(fā)明專利]一種獲取聚變堆實驗包層模塊中子學參數(shù)的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310027963.6
• 申請日: 2013-01-24
• 公開（公告）號: CN103116667A
• 公開（公告）日: 2013-05-22
• 發(fā)明（設計）人: 曹良志;張廣春;吳宏春
• 申請（專利權）人: 西安交通大學
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 西安智大知識產權代理事務所 61215
• 代理人: 何會俠

1.一種獲取聚變堆實驗包層模塊中子學參數(shù)的方法，其特征在于：采用兩步法，具體方法如下：

步驟1：將聚變堆實驗包層模塊按照其軸向幾何特點，將軸向上幾何、材料相同的部分分割為同一區(qū)，這樣可將包層模塊分割為數(shù)個“典型柵元”，在每個“典型柵元”上利用特征線計算模塊求解中子輸運方程，得到細群中子通量分布，然后利用得到的中子通量分布在每個“典型柵元”內采用均勻化模塊按照通量體積權重進行均勻化，得到粗群截面參數(shù)；

步驟2：將步驟1得到的各“典型柵元”的粗群截面參數(shù)作為已知參數(shù)，在整個聚變堆實驗包層模塊尺寸上計算全聚變堆實驗包層模塊的中子通量分布，并進一步計算各項中子學參數(shù)。

2.根據(jù)權利要求1所述的一種獲取聚變堆實驗包層模塊中子學參數(shù)的方法，其特征在于：步驟1所述的特征線計算模塊采用特征線方法MOC求解中子輸運方程，能夠處理P1散射截面，利用AUTOCAD軟件生成特征線信息。

3.根據(jù)權利要求1所述的一種獲取聚變堆實驗包層模塊中子學參數(shù)的方法，其特征在于：步驟1所述的均勻化模塊采用的公式如下式（1）～（5）：

SGe=Σg∈GSge---(1)]]>

Σa,G=Σg∈GΣa,gφgΣg∈Gφg---(2)]]>

Σf,G=Σg∈GΣf,gφgΣg∈Gφg---(3)]]>

Σs0,G->G′=Σg′∈G′Σg∈GΣs0,g->g′φgΣg∈Gφg---(4)]]>

Σs1,G->G′=Σg′∈G′Σg∈GΣs,g->g′JgΣg∈GJg---(5)]]>

式（1）～（5）中，

為第g個細群的固定源強度，單位為個每立方厘米每秒，n·cm^-3·s^-1；

為第G個粗群的固定源強度，單位為個每立方厘米每秒，n·cm^-3·s^-1；

φ_g為第g個細群的中子通量密度，單位為個每平方厘米每秒，n·cm^-2·s^-1；

∑_a，g為第g個細群的吸收截面，單位為每厘米，cm^-1；

∑_a，G為第G個粗群的吸收截面，單位為每厘米，cm^-1；

∑_f，g為第g個細群的裂變截面，單位為每厘米，cm^-1；

∑_f，G為第G個粗群的裂變截面，單位為每厘米，cm^-1；

∑_{s0，g-＞g'}為第g群到第g’群的各向同性散射截面，單位為每厘米，cm^-1；

∑_{s0，G-＞G'}為第G群到第G’群的各向同性散射截面，單位為每厘米，cm^-1；

∑_s1，g-＞g'為第g群到第g’群的各向異性散射截面，單位為每厘米，cm^-1；

∑_s1，G-＞G'為第G群到第G’群的各向異性散射截面，單位為每厘米，cm^-1；

J_g為第g群的中子流密度，單位為個每平方厘米每秒，n·cm^-2·s^-1；

隨后，將得到的各向異性散射截面∑_s1，G-＞G'對各向同性散射截面∑_{s0，G-＞G′}做輸運修正，得到修正后的散射截面，如下式（6）和（7）：

Ε′_{s0，G-＞G′}=∑_{s0，G-＞G'}，???????當G≠G'時??????（6）

Σs,G->G′=Σs0,G->G-ΣG′=1Σs1,G->G′---(7)]]>

經(jīng)過以上均勻化處理后的粗群截面將被用來做為步驟2計算的參數(shù)。