[發明專利]3nm-20μm氣溶膠粒徑分布測量儀

有效

• 申請號: 201310027219.6
• 申請日: 2013-01-23
• 公開（公告）號: CN103105350A
• 公開（公告）日: 2013-05-15
• 發明（設計）人: 蔣靖坤;劉潔瓊;鄧建國;王書肖;吳燁;段雷;劉歡;郝吉明
• 申請（專利權）人: 清華大學
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02
• 代理公司: 北京眾合誠成知識產權代理有限公司 11246
• 代理人: 黃家俊

1.一種3nm-20μm氣溶膠粒徑分布測量儀，其特征在于，所述的3nm-20μm氣溶膠粒徑分布測量儀結構如下：

采樣管（1）通過管路分別與空氣動力學顆粒物粒徑譜儀（2）和顆粒物荷電器（3）連接；顆粒物荷電器（3）的另一端分成兩支管路，分別與第一個層流流量計（4）和第二個層流流量計（6）連接；亞微米顆粒物差分電遷移率分析儀（5）通過管路分別與第一個層流流量計（4）和亞微米顆粒物凝聚核粒子計數器（8）連接，同時通過管路和高壓電導線與電壓/流量控制箱（11）連接；納米顆粒物差分電遷移率分析儀（9）通過管路分別與第二個層流流量計（6）和納米顆粒物凝聚核粒子計數器（10）連接，同時通過管路和高壓電導線與電壓/流量控制箱（11）連接；數據采集卡（12）通過導線分別與空氣動力學顆粒物粒徑譜儀（2）、亞微米顆粒物凝聚核粒子計數器（8）、納米顆粒物凝聚核粒子計數器（10）、電壓/流量控制箱（11）以及測量控制系統（7）連接。

2.根據權利要求1所述的3nm-20μm氣溶膠粒徑分布測量儀，其特征在于，所述的采樣管1的材質為金屬或導電塑料。

3.根據權利要求1所述的3nm-20μm氣溶膠粒徑分布測量儀，其特征在于，所述的顆粒物荷電器（3）為X射線荷電器、電暈法荷電器或含有放射性物質的荷電器。

4.根據權利要求1所述的3nm-20μm氣溶膠粒徑分布測量儀，其特征在于，所述的空氣動力學顆粒物粒徑譜儀（2）是基于飛行時間測量顆粒物空氣動力學粒徑的儀器。

5.根據權利要求1所述的3nm-20μm氣溶膠粒徑分布測量儀，其特征在于，所述的納米顆粒物差分電遷移率分析儀（9）利用外加電場來選擇不同電遷移率的顆粒物，其篩分的顆粒物的粒徑范圍為3nm到60nm。

6.根據權利要求1所述的3nm-20μm氣溶膠粒徑分布測量儀，其特征在于，所述的亞微米顆粒物差分電遷移率分析儀（5）篩分的顆粒物的粒徑范圍為20nm到750nm。

7.根據權利要求1所述的3nm-20μm氣溶膠粒徑分布測量儀，其特征在于，所述的納米顆粒物凝聚核粒子計數器（10）通過冷凝增長和激光探測測量顆粒物的數量，測量粒徑為3nm以上的顆粒物。

8.根據權利要求1所述的3nm-20μm氣溶膠粒徑分布測量儀，其特征在于，所述的亞微米顆粒物凝聚核粒子計數器（8）測量20nm以上的顆粒物。

9.根據權利要求1所述的3nm-20μm氣溶膠粒徑分布測量儀，其特征在于，所述的數據采集卡（12）含有多路計數通道、多路模擬輸入通道和多路模擬輸出通道，能同步采集空氣動力學顆粒物粒徑譜儀（2）、納米顆粒物凝聚核粒子計數器（10）和亞微米顆粒物凝聚核粒子計數器（5）的脈沖信號，并將這些信號輸入測量控制系統（7）。

10.根據權利要求1所述的3nm-20μm氣溶膠粒徑分布測量儀，其特征在于，所述的測量控制系統（7）用來控制電壓/流量控制箱（11）的分級電壓輸出和鞘氣流量，以及處理和分析數據采集卡（12）輸入的脈沖信號，計算顆粒物的傳輸效率、荷電效率、分離效率和計數效率，輸出3nm到20μm范圍內顆粒物粒徑分布譜圖，并存儲粒徑分布數據。