[發明專利]一種示波器閉環校正方法

有效

• 申請號: 201310027127.8
• 申請日: 2013-01-24
• 公開（公告）號: CN103076588A
• 公開（公告）日: 2013-05-01
• 發明（設計）人: 包建斌;陳煥洵
• 申請（專利權）人: 福建利利普光電科技有限公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 福州君誠知識產權代理有限公司 35211
• 代理人: 吳建生

1.一種示波器閉環校正方法，其特征在于：該方法由示波器控制信號發生器將標準信號發送至示波器前端，根據示波器前端的實時模擬量經ADC芯片AD轉換后的數字量與標準值的差值乘以K值去調整參數，將所述調整后的參數的值送給控制前端的DAC芯片，由DAC芯片根據調整后的參數的值對示波器前端進行調整，示波器前端送給ADC的實時模擬量也隨之改變，并對改變后前端的實時模擬量AD轉化后的數字量進行粗檢查和細檢查，判斷前端的模擬量AD轉化后的數字量是否達到標準值的次數或校正的數字量是否穩定，決定是否需要再次調整參數，如此閉環反饋校正和檢查，直到前端的模擬量AD轉化后的數字量達到設定標準值的次數或校正的數字量穩定時，將達到標準值次數與設定的次數相等或是最多的參數的值存儲到存儲器中，結束閉環校正；

上述方法具體如下步驟：

S11：將設置信號的字符命令發送給信號發生器使之產生相應的標準信號，將此標準信號發送給示波器前端；

S12：控制器根據示波器前端的實時模擬量經ADC芯片AD轉化后的數字量與標準值的差值調整參數；

S13：對調整后的參數值做驅動；

S14：對調整后的參數值對應的前端的實時模擬量AD轉化后的數字量進行粗檢查和細檢查，當參數值對應的前端的實時模擬量AD轉化后的數字量達到標準值的次數滿足檢查設定值時，則結束閉環校正；否則返回執行步驟S12，繼續閉環校正循環。

2.根據權利要求1所述的一種示波器閉環校正方法，其特征在于：所述的步驟S12?中差值調整參數值遵循校正公式為：

D_target?=?D_now?+（或?-?）?k?*（A_now?-?A_reference）?此公式中

要校正的給DAC芯片的數值，定義為D_target；

目前的給DA?C的數值，定義為D_now；

目前的前端實時檢查到的模擬量AD后的值，定義為A_now；

要達到的標準的模擬量AD后的值，定義為A_reference；

K?為動態調節的正值，初始值1；

+（或-）的符號是根據實際情況設定，D_target?>?D_now時，A_now增大的情況下取符號為減，A_now減小的情況下取符號為加。

3.根據權利要求1或2所述的一種示波器閉環校正方法，其特征在于：所述的步驟S12差值調整參數值中調節量k?*（A_now?-?A_reference）的值調節方法如下：

S31:?記錄目前前端實時模擬量AD后的數字量與標準值的差值，

即A_now?-?A_reference的差值；

S32：更新前次A_now?-?A_reference的差值；

S33：對S31中目前差值和S32中前次差值進行比較，若目前差值與前次差值的符號相反且差值的絕對值變小，則K值乘以2后執行步驟S34；否則，則對K值做進一步判斷，若K值大于初設定的1，則K值除以2后執行步驟S34，否則，K值不做變化；

S34：對目前差值與K值相稱的絕對值是否大于1進行判斷，若大于則返回目前差值與K?值的乘積，否則，進一步判斷目前差值是否大于0，若大于0則返回1，否則返回-1。

4.根據權利要求1所述的一種示波器閉環校正方法，其特征在于：所述的步驟S14中，對調整后的參數值進行粗檢查和細檢查具體步驟如下：

?S41，對調整后的參數值進行粗檢查，即檢測調整后的參數值達到標準值的次數是否滿足粗檢查設定值，滿足則執行步驟S42進行細檢查，否則返回步驟S12；

?S42，一方面檢查滿足粗檢查的參數值達到標準值的次數是否滿足細檢查設定值，滿足則結束閉環校正，否則返回步驟S12；另一方面對滿足粗檢查的參數值進行統計檢查，即對每一次進入細檢查的D_target值對應的A_now值進行比對篩選，篩選出達到標準值最多的D_target值賦值給要校正的參數，完成統計檢查后結束閉環校正，否則返回步驟S12。

5.根據權利要求1所述的一種示波器閉環校正方法，其特征在于：所述的步驟S11中字符命令通過串口或USB發送給信號發生器，產生的標準信號通過信號線發送至示波器前端。