[發明專利]用于使用頻域干涉測量法進行光學成像的方法和設備無效
| 申請號： | 201310026985.0 | 申請日： | 2004-09-08 |
| 公開（公告）號： | CN103082996A | 公開（公告）日： | 2013-05-08 |
| 發明（設計）人： | 尹錫賢;布雷特·尤金·鮑馬;吉列爾莫·J·蒂爾尼;約翰內斯·菲茨杰拉德·德·布爾 | 申請（專利權）人： | 通用醫療公司 |
| 主分類號： | A61B5/00 | 分類號： | A61B5/00;G02B27/48 |
| 代理公司： | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人： | 朱勝;鄭宗玉 |
| 地址： | 美國馬*** | 國省代碼： | 美國;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 使用 干涉 測量 進行 光學 成像 方法 設備 | ||
【權利要求書】：
1.一種設備，包括：
至少一個第一裝置，其將至少一個第一電磁輻射提供給樣品并且將至少一個第二電磁輻射提供給參考，其中由所述至少一個第一裝置提供的輻射的頻率隨時間變化；
至少一個第二裝置，其適于移位所述至少一個第一電磁輻射和所述至少一個第二電磁輻射的頻率；
干涉計，其將所述第一和第二電磁輻射干涉以產生干涉信號；以及
至少一個第二裝置，其檢測所述第一和第二電磁輻射之間的干涉。
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