[發明專利]光纖耦合透鏡中光纖與透鏡同心偏差測量方法

無效

• 申請號: 201310026732.3
• 申請日: 2013-01-24
• 公開（公告）號: CN103968798A
• 公開（公告）日: 2014-08-06
• 發明（設計）人: 郭章緯
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01B21/24
• 分類號: G01B21/24;G01B21/00;G02B6/32
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種光纖耦合透鏡中光纖與透鏡同心偏差測量方法。

背景技術

光纖耦合透鏡主要的功能在于光纖所發出的光束能夠透過透鏡聚焦使接收端能夠獲得更加集中的能量，或者，光束經過透鏡聚焦后也可以使得光纖能接收到更加集中的能量。如此，光纖與透鏡的同心度非常重要，一般光學設計所允許的偏差量在幾個微米以內，由此，測量透鏡與光纖的同心度時光纖耦合透鏡非常重要的課題。光纖耦合透鏡的組裝方式為將光纖插入空洞中，接著蓋體下壓并使蓋體推擠光纖至L型承靠上，之后采用膠水等將蓋體固定即可。

由于透鏡和光纖是處于相對的兩側，透鏡可以藉助同側的定位結構（例如，定位孔或定位柱）來測量，光纖組裝入光纖耦合透鏡后，無法由光纖側觀察到定位結構，因此，較難測量光纖和透鏡之間的同心偏差。

發明內容

有鑒于此，有必要提供一種方便測量光纖與透鏡同心偏差的光纖耦合透鏡中光纖與透鏡同心偏差測量方法。

一種同心偏差測量方法，用來測量光纖耦合透鏡中光纖與透鏡之間的同心偏差，所述光纖耦合透鏡包括透鏡和容置槽所述透鏡所在的表面具有定位結構，所述光纖位于所述容置槽中，所述同心偏差測量方法包括：將光纖組裝入所述光纖耦合透鏡中的容置槽內；將組裝入光纖的光纖耦合透鏡固定；以所述定位結構為基準，測量所述透鏡的位置；向所述光纖中輸入光線以點亮所述光纖；以所述定位結構為基準，測量所述光纖的位置；比較所述光纖和所述透鏡的位置，得到所述光纖與透鏡的同心偏差。

相較于現有技術，本實施例的光纖耦合透鏡中光纖與透鏡同心偏差測量方法向光纖中輸入光線以點亮光纖，從而可從定位結構同時測量光纖和透鏡的位置，從而可方便測量光纖和透鏡的同心偏差；又光纖和透鏡位置的測量為同一測量基準，從而使得測量結果準確。

附圖說明

圖1是本發明實施例光纖耦合透鏡中光纖與透鏡同心偏差測量方法的示意圖。

圖2是光纖耦合透鏡的示意圖。

圖3是光纖耦合透鏡的分解圖。

圖4是光纖與透鏡之間不存在偏心時的示意圖。

圖5是光纖與透鏡之間存在偏心時的示意圖。

主要元件符號說明

光纖耦合透鏡10本體11容置槽110承靠部1101透鏡111定位結構112蓋體12光纖20

如下具體實施方式將結合上述附圖進一步說明本發明。

具體實施方式

請參閱圖1圖2及圖3，本發明實施例提供的同心偏差測量方法用測量光纖耦合透鏡中光纖與透鏡之間的同心偏差。