[發明專利]一種易檢式絕緣子以及使用該絕緣子的高壓開關

在審

• 申請號: 201310026407.7
• 申請日: 2013-01-24
• 公開（公告）號: CN103456429A
• 公開（公告）日: 2013-12-18
• 發明（設計）人: 郭學鳳;林麟;賀晶晶
• 申請（專利權）人: 河南平高電氣股份有限公司;平高集團有限公司;國家電網公司
• 主分類號: H01B17/14
• 分類號: H01B17/14;H01B17/16;H01H33/53
• 代理公司: 鄭州睿信知識產權代理有限公司 41119
• 代理人: 陳浩

技術領域

本發明涉及高壓電氣設備領域，尤其是一種易檢式絕緣子以及使用該絕緣子的高壓開關。

背景技術

絕緣子（分為盆式、盤式等）是高壓設備中極為常見的部件之一，其在使用時往往會被裝配在兩個高壓開關筒體之間，并且需要嚴格保證與高壓開關筒體的配合處的密封性能，目前，絕緣子與高壓開關筒體之間的密封配合均是靠密封圈來實現的，具體實現方式要結合絕緣子的結構來說明，絕緣子包括內圈的中間嵌件、位于外圈的外法蘭以及連接在中間嵌件與外法蘭之間的、喇叭狀的澆鑄件，澆鑄件的外緣處具有外翻沿，外法蘭環繞并固定在澆鑄件的外翻沿外緣，中間嵌件、澆鑄件以及外圈法蘭一起構成盆形或盤形，其中澆鑄件的外翻沿的兩側面上分別設有密封圈槽，裝配時，所述絕緣子的兩側被壓在兩個高壓開關筒體的外翻沿之間，密封圈便設在所述的密封圈槽中，從而將高壓開關筒體內的部與外界隔斷，若密封圈的設計、使用不當，則會直接導致絕緣子與高壓開關筒體的配合處的密封失效，在使用初期，若設計、使用恰當，密封圈是可以很好的保證高壓開關筒體與絕緣子的配合處的密封性能的，但是經過一段時間的使用后，伴隨著密封圈的老化也同樣會使絕緣子與高壓開關筒體之間的密封失效，而高壓開關筒體與絕緣子的配合處的密封一旦失效，將極有可能導致事故的發生。因此檢測密封圈是否有效是避免事故發生的必要手段。

現有技術中，對高壓開關筒體與絕緣子之間的密封圈的檢測是通過相應的檢漏設備進行的，其具體操作方法是沿高壓開關筒體與絕緣子的配合處檢測一周，從而來確保密封圈各個位置處的密封性能，然而這種檢漏方式不僅費時費力，而且會因為檢測環境的影響而導致檢測結果的不可靠性，例如，當在有空氣流動的環境中進行檢測工作時，檢測結果自然是不準確的。

綜上所述，目前的絕緣子在使用時存在檢漏費時費力以及密封性能無法保證的問題。

發明內容

本發明的目的在于提供一種易檢式絕緣子，以解決目前的絕緣子在使用時存在檢漏費時費力以及密封性能無法保證的問題。

同時，本發明的目的還在于提供使用上述絕緣子的高壓開關。

為了解決上述問題，本發明的易檢式絕緣子采用以下技術方案：易檢式絕緣子，包括中間嵌件、澆鑄件以及外法蘭，澆鑄件的外緣具有外翻沿，所述外翻沿的上、下兩側分別具有密封圈槽，外法蘭的上、下兩側外緣處分別具有用于與對應的高壓開關筒體密封配合的密封部，并且外法蘭中設有檢測通道，檢測通道具有位于外法蘭上側和下側上的連通口以及與所述連通口連通的檢測口，連通口在外法蘭的相應側上位于密封部與密封圈槽之間的位置處，檢測口用于與對應的檢漏設備配合并且被其中裝配的絲堵密封。

外法蘭的相應側面上設有與檢測通道的連通口直接連通的走氣槽，走氣槽環繞澆鑄件設置并且位于外法蘭的密封部與澆鑄件之間。

外法蘭的上、下側面上均設有所述的走氣槽，位于外法蘭兩側面上的走氣槽被貫穿外法蘭兩側面的通孔連通，所述檢測通道的連通口由該通孔的兩端口構成。

檢測通道的檢測口為由大徑孔和小徑孔構成的沉孔結構，絲堵包括內端的小徑段和外端的大徑段，所述小徑段與沉孔結構的小徑孔螺紋配合，所述大徑段與沉孔結構的大徑孔的內壁面密封配合。

所述檢測通道的檢測口位于外法蘭的外周面上。

本發明的高壓開關采用以下技術方案：高壓開關，包括至少兩個高壓開關筒體以及位于兩高壓開關筒體之間的絕緣子，所述絕緣子包括中間嵌件、澆鑄件以及外法蘭，澆鑄件的外翻沿與外法蘭均被壓裝在兩高壓開關筒體之間，澆鑄件通過設于其外翻沿上、下兩側的密封圈與對應的高壓開關筒體密封配合，外法蘭的上、下兩側外緣處分別具有與對應的高壓開關筒體密封配合的密封部，并且外法蘭中設有檢測通道，檢測通道具有位于外法蘭上側和下側上的連通口以及與所述連通口連通的檢測口，連通口在外法蘭的相應側上位于密封部與密封圈槽之間的位置處，檢測口用于與對應的檢漏設備配合并且被其中裝配的絲堵密封。

外法蘭的至少一側上設有走氣槽，走氣槽環繞澆鑄件設置并且位于外法蘭的密封部與澆鑄件之間，檢測通道的連通口與走氣槽直接連通。

外法蘭的兩側面上均設有所述的走氣槽，位于外法蘭兩側面上的走氣槽被貫穿外法蘭兩側面的通孔連通，所述檢測通道的連通口由該通孔的兩端口構成。

檢測通道的檢測口為由大徑孔和小徑孔構成的沉孔結構，絲堵包括內端的小徑段和外端的大徑段，所述小徑段與沉孔結構的小徑孔螺紋配合，所述大徑段與沉孔結構的大徑孔的內壁面密封配合。

所述檢測通道的檢測口位于外法蘭的外周面上。