[發明專利]一種高能量脈沖式磁控濺射方法及磁控濺射裝置無效
| 申請號: | 201310024628.0 | 申請日: | 2013-01-23 |
| 公開(公告)號: | CN103938166A | 公開(公告)日: | 2014-07-23 |
| 發明(設計)人: | 盧偉賢;謝貫堯;張忠祥;易敏龍;劉耀鴻 | 申請(專利權)人: | 香港生產力促進局;香港表面處理學會有限公司 |
| 主分類號: | C23C14/35 | 分類號: | C23C14/35 |
| 代理公司: | 北京匯澤知識產權代理有限公司 11228 | 代理人: | 武君 |
| 地址: | 中國香港九龍*** | 國省代碼: | 中國香港;81 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 高能量 脈沖 磁控濺射 方法 裝置 | ||
1.一種高能量脈沖式磁控濺射方法,其特征在于,包括以下幾個步驟:
步驟一:將樣品清洗置入真空腔中,安裝陰極靶材,對真空腔進行抽真空;
步驟二:通入氬氣對樣品進行等離子體清洗;
步驟三:通入氬氣作為濺射氣體,在樣品的表面進行直流濺射或脈沖濺射,形成過渡層;
步驟四:通入反應氣體,在過渡層表面進行脈沖濺射,形成涂層;
步驟五:關閉濺射陰極及電源,停止通入的反應氣體,取出表面濺射有涂層的樣品。
2.根據權利要求1所述的高能量脈沖式磁控濺射方法,其特征在于,所述步驟一中真空腔抽真空后氣體壓強低于1E-4mbar。
3.根據權利要求1所述的高能量脈沖式磁控濺射方法,其特征在于,所述步驟一中靶材為單極靶材或雙極靶材,靶材的材料為金屬、半導體或者合金。
4.根據權利要求1所述的高能量脈沖式磁控濺射方法,其特征在于,所述步驟二中通入氬氣對樣品進行等離子體清洗具體為:通入氬氣的氣體流量為80~120sccm,偏壓電源脈沖時間為0.4~2.3μs,偏壓電源脈沖頻率為5~350kHz,偏壓電源電壓為20~50V,偏壓電源電流為0.1~1.2A,向樣品施加偏壓10~20分鐘。
5.根據權利要求4所述的高能量脈沖式磁控濺射方法,其特征在于,所述通入氬氣的氣體流量為120sccm,所述偏壓電源脈沖時間為0.8μs,所述偏壓電源脈沖頻率為240kHz,所述偏壓電源電壓為50V,所述偏壓電源電流為0.27A。
6.根據權利要求1所述的高能量脈沖式磁控濺射方法,其特征在于,所述步驟三中采用直流濺射過渡層時具體為:通入氬氣的氣體流量為80~120sccm,直流電源電壓為500V,直流電源電流為0.3A,直流電源功率為170W,濺射時間為10~15分鐘。
7.根據權利要求1所述的高能量脈沖式磁控濺射方法,其特征在于,所述步驟三中采用脈沖濺射過渡層時具體為:通入氬氣的氣體流量為80-120sccm,直流電源電流為1.5~3A,直流電源電壓為600~1016V,直流電源功率為1800~3000W,?直流電源脈沖占空比為ON/Period:?(10~80)/(130~1050)μs,脈沖濺射時間為10~15分鐘。
8.根據權利要求1所述的高能量脈沖式磁控濺射方法,其特征在于,所述步驟四中在過渡層的表面進行脈沖濺射成膜材料的過程具體為:通入反應氣體的氣體流量15~35sccm,直流電源電流1.5~3A,直流電源電壓600~1016V,直流電源功率為1800~3000W,?直流電源脈沖占空比為ON/Period:?(10~80)/(130~1050)μs,直流電源濺射率為1~1.8微米/小時,濺射時間大于2小時。
9.根據權利要求1所述的高能量脈沖式磁控濺射方法,其特征在于,所述步驟四中通過控制直流電源功率、直流電源脈沖占空比以及通入反應氣體的氣體流量,控制制備的涂層顏色。
10.一種高能量脈沖式磁控濺射裝置,包括真空腔、抽真空設備、電源、中央控制單元,其特征在于,所述電源包括脈沖發生單元、偏壓電源和直流電源;所述偏壓電源連接于樣品上,所述直流電源連接于靶材上,所述脈沖發生單元通過數據線與中央控制單元連接,并且該脈沖發生單元由直流電源推動產生脈沖電流,并將該電流輸出至真空腔的靶材中。
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