[發明專利]液晶顯示模塊測試方法、裝置、系統及測試設備

有效

• 申請號: 201310023303.0
• 申請日: 2013-01-22
• 公開（公告）號: CN103105684A
• 公開（公告）日: 2013-05-15
• 發明（設計）人: 張浩
• 申請（專利權）人: 北京京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G09G3/36
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 黃志華

1.一種液晶顯示模塊測試系統，其特征在于，包括上位機、液晶測試控制裝置、驅動電路以及液晶測試模塊，其中：

所述上位機與至少兩個液晶測試控制裝置連接；每一液晶測試控制裝置，通過驅動電路與至少兩個液晶顯示模塊連接，所述液晶測試控制裝置與所述驅動電路之間通過液晶驅動接口連接；

所述上位機，用于向所述液晶測試控制裝置發送液晶驅動接口初始化指令；

所述液晶測試控制裝置，用于在接收到所述液晶驅動接口初始化指令后，對液晶驅動接口進行初始化；以及從所述上位機下載測試圖像，通過所述驅動電路傳輸給每一液晶顯示模塊進行顯示。

2.如權利要求1所述的系統，其特征在于，

所述液晶測試控制裝置，具體用于將下載的測試圖像存儲于內部存儲器或者外部存儲器中；以及在完成對液晶驅動接口的初始化后，從內部存儲器或者外部存儲器中讀取所述測試圖像至緩存中，并從緩存中讀取所述測試圖像，通過所述驅動電路傳輸給每一液晶顯示模塊進行顯示。

3.如權利要求1所述的系統，其特征在于，

所述上位機通過USB接口或者485接口或者網口與所述液晶測試控制裝置連接。

4.如權利要求1、2或3所述的系統，其特征在于，所述液晶驅動接口包括微控制單元MCU接口、串行外圍設備SPI接口、紅綠藍RGB接口、低壓差分信號LVDS接口、移動產業處理器MIPI接口和顯示端口DP接口、低擺幅差分信號RSDS接口、Mini-LVDS接口、中央處理單元CPU接口、最小化傳輸差分信號TMDS接口。

5.一種液晶顯示模塊測試方法，其特征在于，包括：

液晶測試控制裝置接收上位機發送的液晶驅動接口初始化指令；

所述液晶測試控制裝置根據所述液晶驅動接口初始化指令對液晶驅動接口進行初始化；

所述液晶測試控制裝置讀取預先存儲的測試圖像傳輸給液晶顯示模塊進行顯示，其中，所述測試圖像為所述液晶測試控制裝置從所述上位機下載并存儲的。

6.如權利要求5所述的方法，其特征在于，所述測試圖像存儲于內部存儲器或者外部存儲器中；以及

所述液晶測試控制裝置讀取預先存儲的測試圖像傳輸給液晶顯示模塊進行顯示，具體包括：

所述液晶測試控制裝置從所述內部存儲器或者外部存儲器中讀取所述測試圖像至緩存中；并

從緩存中讀取所述測試圖像傳輸給液晶顯示模塊進行顯示。

7.如權利要求5或6所述的方法，其特征在于，所述液晶驅動接口包括微控制單元MCU接口、串行外圍設備SPI接口、紅綠藍RGB接口、低壓差分信號LVDS接口、移動產業處理器MIPI接口和顯示端口DP接口、低擺幅差分信號RSDS接口、Mini-LVDS接口、中央處理單元CPU接口、最小化傳輸差分信號TMDS接口。

8.一種液晶測試控制裝置，其特征在于，包括：

微處理器，用于預先從上位機下載并存儲測試圖像；并接收上位機發送的液晶驅動接口初始化指令；

液晶顯示控制單元，用于根據所述液晶驅動接口初始化指令對液晶驅動接口進行初始化；并從所述微處理器中讀取所述測試圖像傳輸給液晶顯示模塊進行顯示。

9.如權利要求8所述的裝置，其特征在于，所述測試圖像存儲于內部存儲器或者外部存儲器中；以及

所述液晶顯示控制單元，具體用于從所述內部存儲器或者外部存儲器中讀取所述測試圖像至緩存中；并從緩存中讀取所述測試圖像傳輸給液晶顯示模塊進行顯示。

10.一種測試設備，其特征在于，包括權利要求8或9所述的裝置。