[發(fā)明專利]改善襯墊測試覆蓋率的芯片及其相關(guān)的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310022706.3
• 申請日: 2013-01-22
• 公開（公告）號: CN103177773A
• 公開（公告）日: 2013-06-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王釋興;梁明正;丁國政
• 申請（專利權(quán)）人: 鈺創(chuàng)科技股份有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 北京律誠同業(yè)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11006
• 代理人: 梁揮;王穎

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種改善襯墊測試覆蓋率的芯片和改善芯片襯墊測試覆蓋率的方法，尤指一種利用控制器控制沒有耦接于探針的襯墊讀/寫預(yù)定數(shù)據(jù)，以改善襯墊測試覆蓋率的芯片和改善芯片襯墊測試覆蓋率的方法。

背景技術(shù)

請參照圖1和圖2，圖1是為現(xiàn)有技術(shù)說明一測試機(jī)臺的探針100利用一數(shù)據(jù)壓縮的方式寫入測試數(shù)據(jù)TD至一芯片200的示意圖，和圖2為現(xiàn)有技術(shù)說明測試機(jī)臺的探針100利用數(shù)據(jù)壓縮的方式從芯片200讀取測試數(shù)據(jù)的示意圖。如圖1所示，探針100通過一襯墊202和一離線驅(qū)動單元204寫入測試數(shù)據(jù)TD至數(shù)據(jù)路徑電路206。然后，數(shù)據(jù)路徑電路206再將測試數(shù)據(jù)TD寫入至芯片200內(nèi)的儲存單元208。如圖2所示，當(dāng)探針100利用數(shù)據(jù)壓縮的方式從芯片200讀取測試數(shù)據(jù)時，探針100可通過一異或門210經(jīng)數(shù)據(jù)路徑電路206從儲存單元208內(nèi)的一相對應(yīng)區(qū)塊讀取測試數(shù)據(jù)。

如圖1和圖2所示，現(xiàn)有技術(shù)的芯片測試(chip?probing?test)可覆蓋數(shù)據(jù)路徑電路206、儲存單元208、襯墊202和離線驅(qū)動單元204。然而，現(xiàn)有技術(shù)的芯片測試無法覆蓋芯片200內(nèi)其他的襯墊與離線驅(qū)動單元。亦即現(xiàn)有技術(shù)的芯片測試無法判定芯片200內(nèi)其他的襯墊與離線驅(qū)動單元是否合格。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的一實(shí)施例提供一種改善襯墊測試覆蓋率的芯片。該芯片包含一控制單元、多個襯墊及一儲存單元。該多個襯墊中的一預(yù)定襯墊用以耦接于一探針卡的探針，且該探針卡耦接于一測試機(jī)臺。該儲存單元包含多個區(qū)塊。該控制單元控制該多個襯墊中的一第一襯墊從一第一預(yù)定區(qū)塊中讀取并儲存一測試數(shù)據(jù)中的一預(yù)定數(shù)據(jù)，該控制單元控制該第一襯墊對該多個區(qū)塊中的一第二預(yù)定區(qū)塊寫入該預(yù)定數(shù)據(jù)，該測試機(jī)臺控制該探針通過該預(yù)定襯墊讀取該第二預(yù)定區(qū)塊所儲存的該預(yù)定數(shù)據(jù)，以及該測試機(jī)臺根據(jù)一讀取結(jié)果，判定該第一襯墊是否合格。

本發(fā)明的另一實(shí)施例提供一種改善芯片襯墊測試覆蓋率的方法，該芯片包含一控制單元、多個襯墊及一儲存單元，其中該儲存單元包含多個區(qū)塊。該方法包含通過該多個襯墊中的一預(yù)定襯墊寫入一測試數(shù)據(jù)至該多個區(qū)塊中的一第一預(yù)定區(qū)塊；控制該多個襯墊中的一第一襯墊從該第一預(yù)定區(qū)塊中讀取并儲存該測試數(shù)據(jù)中的一預(yù)定數(shù)據(jù)；控制該第一襯墊對該多個區(qū)塊中的一第二預(yù)定區(qū)塊寫入該預(yù)定數(shù)據(jù)；通過該預(yù)定襯墊讀取該第二預(yù)定區(qū)塊所儲存的該預(yù)定數(shù)據(jù)；根據(jù)一讀取結(jié)果，判定該第一襯墊是否合格。

本發(fā)明提供一種改善襯墊測試覆蓋率的芯片和改善芯片襯墊測試覆蓋率的方法。該芯片和該方法利用一控制器控制沒有耦接于一探針的襯墊讀取一預(yù)定數(shù)據(jù)，以及利用該控制器控制沒有耦接于該探針的襯墊對一儲存單元中的一預(yù)定區(qū)塊寫入該預(yù)定數(shù)據(jù)。然后，一測試機(jī)臺控制該探針通過一預(yù)定襯墊讀取該預(yù)定區(qū)塊所儲存的該預(yù)定數(shù)據(jù)，并記錄對應(yīng)沒有耦接于該探針的襯墊的一讀取結(jié)果。因此，該測試機(jī)臺即可根據(jù)該讀取結(jié)果判定沒有耦接于探針的襯墊是否合格。另外，該測試機(jī)臺亦可根據(jù)對應(yīng)沒有耦接于該探針的襯墊的讀取結(jié)果，判定沒有耦接于該探針的襯墊的漏電狀況。

附圖說明

圖1是為現(xiàn)有技術(shù)說明一測試機(jī)臺的探針利用數(shù)據(jù)壓縮的方式寫入測試數(shù)據(jù)至芯片的示意圖；

圖2是為現(xiàn)有技術(shù)說明測試機(jī)臺的探針利用數(shù)據(jù)壓縮的方式從芯片讀取測試數(shù)據(jù)的示意圖；

圖3是為本發(fā)明的一實(shí)施例說明一種改善襯墊測試覆蓋率的芯片的示意圖；

圖4是為說明對應(yīng)于第一襯墊所儲存預(yù)定數(shù)據(jù)的讀取結(jié)果的示意圖；

圖5是為說明對應(yīng)于第一襯墊所儲存預(yù)定數(shù)據(jù)的讀取結(jié)果的示意圖；

圖6是為本發(fā)明的另一實(shí)施例說明一種改善襯墊測試覆蓋率的芯片的示意圖；

圖7是為本發(fā)明的另一實(shí)施例說明一種改善芯片襯墊測試覆蓋率的方法的流程圖；

圖8是為本發(fā)明的另一實(shí)施例說明一種改善芯片襯墊測試覆蓋率的方法的流程圖。

其中，附圖標(biāo)記

100、314??探針

200、300、600??芯片

202、3041-304N??襯墊

204、3061-306N、6061-606N??離線驅(qū)動單元

206??數(shù)據(jù)路徑電路

208、310、610??儲存單元

210??異或門

302??控制單元

3081-308N??數(shù)據(jù)路徑單元

312??探針卡

316??測試機(jī)臺

3101-310N、6101-610N??區(qū)塊