[發明專利]一種測定非晶、納米晶帶材中主要元素含量的方法無效
| 申請號: | 201310022335.9 | 申請日: | 2013-01-22 |
| 公開(公告)號: | CN103115918A | 公開(公告)日: | 2013-05-22 |
| 發明(設計)人: | 龐靖;王宏鑒;王靜 | 申請(專利權)人: | 青島云路新能源科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/73 | 分類號: | G01N21/73 |
| 代理公司: | 北京億騰知識產權代理事務所 11309 | 代理人: | 陳霽 |
| 地址: | 266232 山東*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 測定 納米 晶帶材中 主要 元素 含量 方法 | ||
1.一種測定非晶、納米晶帶材中主要元素含量的方法,其特征在于,包括如下步驟:
1)稱取一定量的帶材碎屑樣品置于100mL的聚四氟乙烯燒杯中;
2)在樣品中加入適量鹽酸和硝酸,加熱使樣品緩慢溶解;
3)待樣品溶解成透明或者白色膠狀物質時,繼續加熱使溶液濃縮至一定體積,取下冷卻;
4)待溶液稍冷,用Milli-Q水沖洗杯壁使溶液體積至一定體積,并將試樣置于冷卻容器中冷卻;
5)在冷藏溫度為規定范圍內時,滴加適量氫氟酸,加蓋并慢慢搖勻,使樣品充分溶解;
6)待樣品溶解完全后快速將其定容在100mL的塑料容量瓶中,并搖勻;
7)工作曲線繪制:稱取一定量空白樣品,按照上述步驟(1)~(3)將其溶解,再加入不同體積的單標貯備液,最后用超純水定容至100mL;
8)在電感耦合等離子體發射光譜儀最佳工作條件下,測定步驟(7)中混標溶液中各元素優選波長下的譜線強度,以元素濃度為橫坐標,光譜強度為縱坐標,繪制工作曲線;
9)在步驟(8)相同條件下,測定步驟(6)中得到的待測非晶、納米晶樣品溶液中各元素的譜線強度,再由計算機根據工作曲線自動計算樣品溶液中各元素的濃度。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述帶材樣品中各元素質量百分含量按下式計算:
式中:
ω——待測樣品中元素的含量,單位%;
c——待測溶液中各元素的含量,單位為微克每毫升(μg/mL)(在工作曲線上計算出的結果);
V——待測溶液的體積,單位毫升(mL);
m——待測樣品的質量,單位克(g)。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述步驟(1)稱取稱取0.1~0.2g的帶材碎屑樣品置于100mL的聚四氟乙烯燒杯中。
4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述步驟(2)在樣品中加入10~15mL鹽酸和3~5mL硝酸,在200~250℃的電熱板上加熱,使樣品緩慢溶解。
5.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述步驟(3)待樣品溶解成透明或者白色膠狀物質時,繼續加熱,使溶液濃縮至5~8mL,取下冷卻。
6.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述步驟(4)待溶液稍冷,用Milli-Q水沖洗杯壁,使溶液體積至15~20mL,并將試樣置于冷藏冰箱中冷卻。
7.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述步驟(5)在冷藏溫度為1~4℃時,滴加3~10滴氫氟酸,加蓋并慢慢搖勻,使樣品充分溶解,避免硅元素的損失。
8.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述步驟(7)工作曲線繪制:稱取0.1g高純鐵粉或鎳粉空白樣品,按照所述步驟(1)~(3)將其溶解,再加入不同體積的硅、硼、鈮、銅、磷、鋁、錳、鈦其中一種或多種單標貯備液,最后用超純水定容至100mL。
9.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所選擇各元素的波長為硅:251.6nm、硼:208.9nm、鈮:309.4nm、銅:324.7nm、磷:178.2nm、鋁:309.2nm、錳:293.9nm、鈦337.2nm。
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