[發(fā)明專利]基于自振蕩回路的電路老化測試方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310022154.6
• 申請日: 2013-01-21
• 公開（公告）號: CN103116121A
• 公開（公告）日: 2013-05-22
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 梁華國;嚴(yán)魯明;蔣翠云;黃正峰;易茂祥;歐陽一鳴;陳田;劉軍
• 申請（專利權(quán)）人: 合肥工業(yè)大學(xué)
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 安徽省合肥新安專利代理有限責(zé)任公司 34101
• 代理人: 何梅生

1.一種基于自振蕩回路的電路老化測試方法，其特征是按如下步驟操作：?

步驟一、根據(jù)靜態(tài)時序分析和路徑間相關(guān)性，選取待測電路中的老化特征通路集合T：?

(1)采用靜態(tài)時序工具，分析待測電路的時序情況，選擇時序余量低于20%的路徑組成待測路徑集合G；?

(2)分析所述待測路徑集合G中各條待測路徑間的老化相容關(guān)系，對所述待測路徑集合G按老化約減規(guī)則進(jìn)行約減，所述老化約減規(guī)則為：對于待測路徑A和待測路徑B，若待測路徑A的邏輯器件是待測路徑B邏輯器件的子集，則稱待測路徑A老化包含于待測路徑B，將所述待測路徑A從所述待測路徑集合G中刪除，剩余的待測路徑組成老化特征通路集合T；?

步驟二、保持老化特征通路集合T中各條待測路徑上具有奇數(shù)次邏輯非，形成自振蕩回路：?

(1)將組成待測路徑的邏輯器件歸納為三類，分別是：邏輯非器件、可屏蔽邏輯器件和不定型邏輯器件；?

(2)對由步驟一產(chǎn)生的老化特征通路集合T中每條待測路徑的邏輯器件進(jìn)行分析，a.如果該條待測路徑上存在奇數(shù)個邏輯非器件，則將其首尾相連，b.如果該條待測路徑上存在偶數(shù)個邏輯非器件，則選擇一個不定型邏輯器件，將其設(shè)置為邏輯非功能，然后將待測路徑首尾相連，c.如果該條待測路徑上存在偶數(shù)個邏輯非器件，且不存在不定型邏輯器件，則在待測路徑中額外增加一個反相器，再將待測路徑首尾相連；?

(3)設(shè)置老化特征通路集合T中待測路徑上邏輯門控制引腳的輸入值，形成自振蕩回路；?

步驟三、采用固定型故障的測試生成方法，生成測試向量，激發(fā)自振蕩回路，產(chǎn)生測試電平信號：?

對于由步驟二構(gòu)造產(chǎn)生的每一條自振蕩回路，采用固定型故障的測試生成方法，生成相應(yīng)的老化測試向量，保證自振蕩回路可以將值X以的形式傳播到路徑尾端；復(fù)用內(nèi)建自測試機(jī)制中的掃描單元將老化測試向量施加到自振蕩回路中去，激發(fā)自振蕩回路，產(chǎn)生測試電平信號；?

步驟四、通過計數(shù)器采樣自振蕩回路，獲取待測電路的老化特征值，度量待測電路老化程度：?

(1)采用步驟三中產(chǎn)生的測試電平信號作為老化特征采樣的觸發(fā)信號；在待測路徑的輸出端，通過計數(shù)器對自振蕩回路進(jìn)行采樣，當(dāng)自振蕩回路每發(fā)生一次由低電平到高電平的跳變，計數(shù)器的值加1，將測試時間與所述計數(shù)器的值相比得到自振蕩頻率，記錄所述自振蕩頻率作為電路的老化特征值T_Aging；?

(2)通過將上述老化特征值T_Aging與片上存儲的標(biāo)準(zhǔn)值T_Fresh進(jìn)行比較，按照式(1)計算電路的老化程度C_Aging:?

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