[發明專利]一種相位反差磁共振流速、流量測量方法及其測量裝置有效
| 申請號： | 201310022075.5 | 申請日： | 2013-01-21 |
| 公開（公告）號： | CN103932707A | 公開（公告）日： | 2014-07-23 |
| 發明（設計）人： | 張衛國;張樹恒;王超洪;張強 | 申請（專利權）人： | 上海聯影醫療科技有限公司 |
| 主分類號： | A61B5/055 | 分類號： | A61B5/055 |
| 代理公司： | 上海申匯專利代理有限公司 31001 | 代理人： | 金碎平 |
| 地址： | 201815 上海市嘉*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 相位 反差 磁共振 流速 流量 測量方法 及其 測量 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及一種磁共振流速、流量測量方法及其測量裝置，尤其涉及一種相位反差磁共振流速、流量測量方法及其測量裝置。
背景技術
在磁共振成像中,如果信號源沿梯度場方向流動,那么所測到的信號相位就會與流體的流速以及梯度場脈沖形狀相關聯。基于這種原理，通過改變梯度場脈沖形狀從而引起的磁共振信號相位改變,可以測量流體的流速和流量。有關這種測量流速流量的磁共振技術詳情,可參見文獻1：[Pelc?NJ,“Flow?quantification?andanalysis?methods”,Magn?Reson?Imaging?Clin?N?Am3:413-424(1995)]。
簡單地說,采用二種用以測量流速的不同梯度場脈沖形狀,所采集的磁共振信號可作如下描述:
式中M代表流體的磁共振信號幅度，ν代表流速，β代表主磁場或射頻場不均勻等導致的系統相位，m1(1)和m1(2)分別為測量中用到的二種梯度場脈沖形狀G(t)的一階矩：
式中γ代表原子核的磁旋比常數，TE代表回波時間。
流速即可以簡單地從二次測量的信號相位差求得:
ν=Δφ/[m1(2)-m1(1)]??????????[4]
Δφ=arg{S1×conj(S2)}??????????[5]
式中arg{…}代表求復數相位；conj(…)代表復數共軛。
當有脂肪信號存在的情況下,以上式[1]和式[2]必須考慮脂肪信號相應改作:
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