[發明專利]一種雪崩光電二極管過剩噪聲因子測量系統有效
| 申請號： | 201310021677.9 | 申請日： | 2013-01-21 |
| 公開（公告）號： | CN103091568A | 公開（公告）日： | 2013-05-08 |
| 發明（設計）人： | 趙彥立;李奕鍵;涂俊杰 | 申請（專利權）人： | 華中科技大學 |
| 主分類號： | G01R29/26 | 分類號： | G01R29/26 |
| 代理公司： | 北京市德權律師事務所 11302 | 代理人： | 劉麗君 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 雪崩 光電二極管 過剩 噪聲 因子 測量 系統 | ||
1.一種雪崩光電二極管過剩噪聲因子測量系統，其特征在于，包括：光源，光耦合組件以及檢測單元；
所述檢測單元包括：芯片測試工裝夾具，偏置器，數字源表以及噪聲功率測試設備；
所述光源通過所述光耦合組件照射在待測雪崩光電二極管樣品上，樣品雪崩光電二極管通過所述芯片測試工裝夾具與所述偏置器相連，所述數字源表與所述偏置器的直流端口相連，所述偏置器交流端口連接所述放大器輸入端，所述噪聲功率測試設備連接所述放大器輸出端。
2.如權利要求1所述的雪崩光電二極管過剩噪聲因子測量系統，其特征在于，還包括：放大器；所述放大器為低噪聲放大器，接在所述數字源表以及所述噪聲功率測試設備之間。
3.如權利要求1所述的雪崩光電二極管過剩噪聲因子測量系統，其特征在于：所述光源為穩定光源。
4.如權利要求1所述的雪崩光電二極管過剩噪聲因子測量系統，其特征在于：所述光耦合組件是透鏡光纖或聚焦透鏡或者其他光耦合聚焦裝置。
5.如權利要求1所述的雪崩光電二極管過剩噪聲因子測量系統，其特征在于：所述噪聲功率測試設備為噪聲系數分析儀或者精密噪聲功率計。
6.如權利要求1所述的雪崩光電二極管過剩噪聲因子測量系統，其特征在于，所述芯片測試工裝夾具包括：高頻探針以及芯片測試夾具。
7.如權利要求1所述的雪崩光電二極管過剩噪聲因子測量系統，其特征在于，還包括：校準單元；所述校準單元用于對所述檢測單元的參數校準。
8.如權利要求7所述的雪崩光電二極管過剩噪聲因子測量系統，其特征在于，所述校準單元包括：標準噪聲源；所述標準噪聲源與所述檢測單元輸入端相連。
9.如權利要求1所述的雪崩光電二極管過剩噪聲因子測量系統，其特征在于，還包括：電磁屏蔽單元；所述電子屏蔽單元用于屏蔽測量環境中的電磁信號以及光信號。
10.如權利要求1所述的雪崩光電二極管過剩噪聲因子測量系統，其特征在于，所述電磁屏蔽單元包括：電磁屏蔽暗室。
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