[發明專利]用于診斷電容傳感器的裝置及方法有效
| 申請號: | 201310019571.5 | 申請日: | 2013-01-18 |
| 公開(公告)號: | CN103217185A | 公開(公告)日: | 2013-07-24 |
| 發明(設計)人: | 馬克·多馬爾·赫賴斯;勞拉·卡斯蒂羅-瓦茲奎茲;安東尼·費雷·法布雷加斯 | 申請(專利權)人: | 李爾公司 |
| 主分類號: | G01D18/00 | 分類號: | G01D18/00 |
| 代理公司: | 北京安信方達知識產權代理有限公司 11262 | 代理人: | 周靖;鄭霞 |
| 地址: | 美國密*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 診斷 電容 傳感器 裝置 方法 | ||
1.一種用于診斷電容傳感器的狀態的裝置,所述裝置包括:
控制單元,其被可操作地耦合到表現漂移狀態的去耦設備并耦合到所述電容傳感器,所述控制單元被配置來:
確定所述電容傳感器的阻抗;
至少基于所述阻抗,確定所述電容傳感器的特性;
基于所述電容傳感器的所述特性,確定所述去耦設備的特性;及
基于所述去耦設備的所述特性,提供估計電容,所述估計電容指示所述電容傳感器的狀態。
2.如權利要求1所述的裝置,其中所述電容傳感器的所述特性與所述電容傳感器的電阻相對應。
3.如權利要求2所述的裝置,其中所述電容傳感器的所述電阻與所述電容傳感器的最小電阻值相對應。
4.如權利要求1所述的裝置,其中所述去耦設備的所述特性與所述去耦設備的電容相對應。
5.如權利要求1所述的裝置,其中所述電容傳感器的所述特性和所述去耦設備的所述特性補償表現在所述去耦設備的漂移。
6.如權利要求1所述的裝置,其中所述控制單元還被配置來比較所述估計電容和預定的電容值,以診斷所述電容傳感器。
7.如權利要求6所述的裝置,其中所述控制單元還被配置為,如果所述估計電容超出所述預定的電容值,則確定所述電容傳感器表現出故障狀態。
8.一種用來診斷電容傳感器的狀態的方法,所述方法包括:
確定所述電容傳感器的阻抗;
至少基于所述阻抗,確定所述電容傳感器的特性;
基于所述電容傳感器的所述特性,確定表現出漂移狀態的去耦設備的特性;和
基于所述去耦設備的所述特性,提供估計電容,所述估計電容指示所述電容傳感器的狀態。
9.如權利要求8所述的方法,其中所述電容傳感器的所述特性與所述電容傳感器的電阻相對應。
10.如權利要求9所述的方法,其中所述電容傳感器的所述電阻與所述電容傳感器的最小電阻值相對應。
11.如權利要求8所述的方法,其中所述去耦設備的所述特性與所述去耦設備的電容相對應。
12.如權利要求8所述的方法,還包括使用所述電容傳感器的所述特性和所述去耦設備的所述特性來補償表現在所述去耦設備的漂移。
13.如權利要求8所述的方法,還包括比較所述估計電容和預定的電容值,以診斷所述電容傳感器。
14.如權利要求13所述的方法,還包括如果所述估計電容超出所述預定的電容值,則確定所述電容傳感器表現出故障狀態。
15.一種用于診斷電容傳感器的狀態的裝置,所述裝置包括:
控制單元,其被可操作地耦合到去耦設備和所述電容傳感器,所述去耦設備表現出漂移狀態并被配置成防止能量轉移到所述電容傳感器,所述控制單元被配置來:
確定所述電容傳感器的阻抗;
至少基于所述阻抗,確定所述電容傳感器的特性;
基于所述電容傳感器的所述特性,確定所述去耦設備的特性;及
基于所述去耦設備的所述特性,提供估計電容,所述估計電容指示所述電容傳感器的狀態。
16.如權利要求15所述的裝置,其中所述電容傳感器的所述特性與所述電容傳感器的電阻相對應。
17.如權利要求16所述的裝置,其中所述電容傳感器的所述電阻與所述電容傳感器的最小電阻值相對應。
18.如權利要求15所述的裝置,其中所述去耦設備的所述特性與所述去耦設備的電容相對應。
19.如權利要求15所述的裝置,其中所述電容傳感器的所述特性和所述去耦設備的所述特性補償表現在所述去耦設備的漂移。
20.如權利要求15所述的裝置,其中所述控制單元還被配置成比較所述估計電容和預定的電容值,以診斷所述電容傳感器。
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