[發明專利]雙波長量化相位成像和熒光成像聯合系統

有效

• 申請號: 201310016989.0
• 申請日: 2013-01-17
• 公開（公告）號: CN103940787A
• 公開（公告）日: 2014-07-23
• 發明（設計）人: 付彥輝;羅志勇;紀偉;賈策;張翔;倉懷興;徐濤
• 申請（專利權）人: 中國科學院生物物理研究所
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64;G01N21/45
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 曹玲柱

1.一種雙波長量化相位成像和熒光成像聯合系統，其特征在于，包括：

光源系統(100)，用于提供不同波長的第一激光束和第二激光束；

分束組件(200)，用于將第一激光束分束為第一參考光束和第一干涉光束；將第二激光束分束為第二參考光束和第二干涉光束，第一參考光束和第二參考光束射入參考光路(400)；第一物光光束和第二物光光束射入物光光路(300)；

物光光路(300)，用于將第一物光光束和第二物光光束投射至樣品上，攜帶樣品信息的第一物光光束和第二物光光束由第五分光棱鏡(314)反射至干涉成像系統(500)；同時，由第一物光光束和第二物光光束激發樣品產生的熒光光束經第六分光棱鏡(316)透射至熒光成像系統(600)；

參考光路(400)，用于將第一參考光束和第二參考光束投射至干涉成像系統(500)；

干涉成像系統(500)，用于將第一參考光束和第一物光光束，及第二參考光束和第二物光光束進行干涉成像；

熒光成像系統(600)，與所述物光光路(300)共用共聚焦成像部分，用于對第一物光光束和第二物光光束激發的熒光光束進行成像。

2.根據權利要求1所述的顯微鏡，其特征在于，所述干涉成像系統(500)包括：成像透鏡組(510)、光闌(511)及干涉成像CCD(512)，其中：

第一參考光束與攜帶樣品信息的第一物光光束由成像透鏡組(510)成像，經過光闌(511)后，在干涉成像CCD(512)上發生干涉，形成帶有物體信息的干涉圖；

第二參考光束與攜帶樣品信息的第二物光光束由成像透鏡組(510)成像，經過光闌(511)后，在干涉成像CCD(512)上發生干涉，形成帶有物體信息的干涉圖。

3.根據權利要求1所述的顯微鏡，其特征在于，所述參考光路(400)包括：第四半波片(410)、第二長方體玻璃透鏡(411)、第二量化相位調整器(412)和第一反射鏡(413)；第三半波片(420)、第一長方體玻璃透鏡()421、第一量化相位調整器()422和第三分光棱鏡(423)，其中：

第一參考光束經過第三半波片420和第一長方體玻璃透鏡(421)后，由第一量化相位調整器(422)調整相位，并經第三分光棱鏡(423)反射至干涉成像系統(600)；

第二參考光束經過第四半波片(410)和第二長方體玻璃透鏡(411)后，由第二量化相位調整器(412)調整相位，經第一反射鏡(413)反射，并由第三分光棱鏡(423)透射至干涉成像系統(500)。

4.根據權利要求3所述的顯微鏡，其特征在于，所述第一量化相位調整器(422)和第二量化相位調整器(412)為雙反射鏡類型的位相調制器，其通過整體上下移動來調整第一參考光束11或第二參考光束21的光程。

5.根據權利要求4所述的顯微鏡，其特征在于，所述第一長方體玻璃透鏡(421)和第二長方體玻璃透鏡(411)為長方體玻璃透鏡或楔形玻璃透鏡。

6.根據權利要求1所述的顯微鏡，其特征在于，所述熒光成像系統(600)包括：微透鏡陣列(棱臺或棱錐)(313)、第五分光棱鏡(314)、針孔陣列(315)、第六分光棱鏡(316)、顯微物鏡(317)和位移臺(318)、濾光片(610)、熒光成像透鏡組(611)、光闌(612)和EMCCD(613)，其中：

第一物光光束和第二物光光束照射在微透鏡陣列(313)，產生具有一定空間周期排列的陣列，該陣列通過第五分光棱鏡(314)與針孔陣列(315)進行匹配，在經第六分光棱鏡(316)和顯微物鏡(317)照射在位于位移臺(318)上的樣品上激發樣品產生熒光，熒光光束33經位移臺(318)反射再由顯微物鏡(450)進行成像，經過第六分光棱鏡(316)、濾光片(610)，經熒光成像透鏡組(611)、光闌(612)成像在EMCCD(613)上。