[發(fā)明專(zhuān)利]X射線CT裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310016380.3 | 申請(qǐng)日: | 2013-01-16 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103202707A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-07-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 津雪昌快;新野俊之 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 株式會(huì)社東芝 |
| 主分類(lèi)號(hào): | A61B6/03 | 分類(lèi)號(hào): | A61B6/03 |
| 代理公司: | 永新專(zhuān)利商標(biāo)代理有限公司 72002 | 代理人: | 徐冰冰;黃劍鋒 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 射線 ct 裝置 | ||
相關(guān)申請(qǐng)
本申請(qǐng)將日本專(zhuān)利申請(qǐng)2012-005849(申請(qǐng)日:2012年1月16日)作為基礎(chǔ)從該申請(qǐng)享有優(yōu)先的利益。本申請(qǐng)通過(guò)參照該申請(qǐng)從而包含該申請(qǐng)的全部?jī)?nèi)容。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明的實(shí)施方式涉及X射線CT裝置。
背景技術(shù)
X射線CT裝置一邊使隔著頂板上的被檢查體而對(duì)置配置的X射線管和X射線檢測(cè)器繞被檢查體旋轉(zhuǎn),一邊進(jìn)行X射線拍攝。
利用X射線拍攝,收集被檢查體的數(shù)據(jù)(CT值),基于CT值診斷被檢查體的性狀。
CT值由“質(zhì)量減弱系數(shù)”*“密度”表示。“質(zhì)量減弱系數(shù)”是物質(zhì)特有的值。因此,即使因物質(zhì)的密度狀態(tài)而使物質(zhì)不同也不會(huì)在CT值存在差異,有時(shí)從CT值難以進(jìn)行物質(zhì)的鑒別。
作為解決這樣的現(xiàn)象的方案,有利用不同的管電壓進(jìn)行被檢查體的數(shù)據(jù)收集的雙能量(dual?energy)掃描法。有時(shí)將所收集的數(shù)據(jù)稱為投影數(shù)據(jù)、收集數(shù)據(jù)、或原始數(shù)據(jù)。
在該方法中,有2管球方式、光子計(jì)數(shù)(photon?counting)方式、高速kV轉(zhuǎn)換方式等。
作為高速kV轉(zhuǎn)換方式的一個(gè)例子,有一邊按每一視圖將管電壓切換為高電壓(140kV)和低電壓(80kV),一邊分別收集數(shù)據(jù)的方式。有時(shí)將管電壓的切換周期稱為轉(zhuǎn)換周期。
由于每一旋轉(zhuǎn)的視圖(view)數(shù)和圖像的分辨率成比例,所以為了取得高畫(huà)質(zhì)的斷層像,在旋轉(zhuǎn)速度快的情況下,需要與其相應(yīng)地使轉(zhuǎn)換周期變短。
然而,由于在高速kV轉(zhuǎn)換方式中,對(duì)轉(zhuǎn)換周期有限制,所以在旋轉(zhuǎn)速度快的情況下,無(wú)法與其相應(yīng)地使轉(zhuǎn)換周期變短,結(jié)果是,每一旋轉(zhuǎn)的視圖數(shù)不足,不能得到足夠的分辨率,有無(wú)法取得高畫(huà)質(zhì)的斷層像的問(wèn)題。
發(fā)明內(nèi)容
實(shí)施方式解決了上述的問(wèn)題,其目的在于,提供一種即使在旋轉(zhuǎn)速度快的情況下,也能通過(guò)得到足夠的分辨率,從而取得高畫(huà)質(zhì)的斷層像的X射線CT裝置。
實(shí)施方式的X射線CT裝置具有X射線管、管電壓產(chǎn)生單元、X射線檢測(cè)器、數(shù)據(jù)收集單元和圖像處理單元。管電壓產(chǎn)生單元對(duì)X射線管施加管電壓。管電壓控制單元以使管電壓呈周期性變化的方式對(duì)管電壓產(chǎn)生單元進(jìn)行控制。X射線檢測(cè)器隔著被檢查體與X射線管相對(duì)應(yīng)地配置,對(duì)透射了被檢查體的X射線進(jìn)行檢測(cè)。數(shù)據(jù)收集單元從由X射線檢測(cè)器檢測(cè)的數(shù)據(jù)中與管電壓的變化同步地在1個(gè)周期內(nèi)收集對(duì)X射線管施加高電壓時(shí)的第一采樣數(shù)據(jù),并在從該收集起經(jīng)過(guò)規(guī)定期間后收集對(duì)X射線管施加低電壓時(shí)的第二采樣數(shù)據(jù)。圖像處理單元基于收集的第一采樣數(shù)據(jù)以及第二采樣數(shù)據(jù)來(lái)制作圖像。
因此,根據(jù)實(shí)施方式的X射線CT裝置,即使在旋轉(zhuǎn)速度快的情況下,也能通過(guò)得到足夠的分辨率,從而取得高畫(huà)質(zhì)的斷層像。
附圖說(shuō)明
圖1是X射線CT裝置的結(jié)構(gòu)框圖。
圖2是分別表示在比較例中管電壓的變化為矩形波的例子、數(shù)據(jù)收集的例子的圖。
圖3是分別表示在第一實(shí)施方式中管電壓的變化為矩形波的例子、數(shù)據(jù)收集的例子A、圖像重建的例子B~D、分解(decomposition)處理的例子E的圖。
圖4是分別表示在比較例中管電壓的變化為三角波的例子、數(shù)據(jù)收集的例子的圖。
圖5是分別表示在第二實(shí)施方式中管電壓的變化為三角波的例子、數(shù)據(jù)收集的例子A、圖像重建的例子B~D、分解處理的例子E的圖。
圖6是連續(xù)收集高電壓和低電壓兩數(shù)據(jù)時(shí)的圖。
圖7是隔開(kāi)時(shí)間地收集高電壓和低電壓兩數(shù)據(jù)時(shí)的圖。
圖8是分別表示在比較例中管電壓的變化為三角波的其他例子、數(shù)據(jù)收集的例子的圖。
圖9是分別表示在第三實(shí)施方式中管電壓的變化為三角波的其他例子、數(shù)據(jù)收集的例子A、圖像重建的例子B~D、分解處理的例子E的圖。
圖10是表示進(jìn)行過(guò)采樣并進(jìn)行打包的例子的圖。
圖11是表示進(jìn)行過(guò)采樣并進(jìn)行打包的其他例子的圖。
圖12是分別表示在第四實(shí)施方式中管電壓的變化為三角波的例子、保存過(guò)采樣的全部數(shù)據(jù)的例子A、打包的比較例B、打包的例子C的圖。
具體實(shí)施方式
〔第一實(shí)施方式〕
參照?qǐng)D1對(duì)該X射線CT裝置的第一實(shí)施方式的基本結(jié)構(gòu)進(jìn)行說(shuō)明。
如圖1所示那樣,X射線CT裝置包含掃描架(gantry)100。掃描架100具有:X射線管101、多列型或者二維排列型的X射線檢測(cè)器103和數(shù)據(jù)收集系統(tǒng)104。
該專(zhuān)利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)。該專(zhuān)利全部權(quán)利屬于株式會(huì)社東芝,未經(jīng)株式會(huì)社東芝許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專(zhuān)利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310016380.3/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專(zhuān)利網(wǎng)。





