[發(fā)明專利]等離子蝕刻方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310015232.X | 申請日: | 2013-01-16 |
| 公開(公告)號: | CN103779203B | 公開(公告)日: | 2016-11-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 渡邊智行;森本未知數(shù);藥師寺守;小野哲郎 | 申請(專利權(quán))人: | 株式會社日立高新技術(shù) |
| 主分類號: | H01L21/311 | 分類號: | H01L21/311;H01L21/02 |
| 代理公司: | 中國國際貿(mào)易促進委員會專利商標事務(wù)所 11038 | 代理人: | 王永紅 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 等離子 蝕刻 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及使用等離子進行蝕刻的等離子蝕刻方法。
背景技術(shù)
由于氧化硅膜及氮化硅膜作為絕緣膜具有優(yōu)異的特性,因此在半導(dǎo)體裝置的制造中在許多的工序中被使用。在半導(dǎo)體裝置的制造工序中,對形成于氧化硅膜上的氮化硅膜進行蝕刻的工序比較多見。例如,在晶體管的摻雜層形成時,有配置于柵電極的兩側(cè)的間隔件構(gòu)造的制造工序。在所述的間隔件構(gòu)造中一般使用氮化硅膜,在形成于柵電極的周圍的氧化硅膜上形成氮化硅膜,通過蝕刻該氮化硅膜就能夠制造。作為氮化硅膜蝕刻時的阻擋膜使用氧化硅膜。
作為增大在這樣的氧化硅膜上形成的氮化硅膜相對于氧化硅膜的蝕刻選擇比的技術(shù),公開有例如專利文獻1那樣的將CHF3氣體、或CH2F2氣體等碳氟化合物氣體作為蝕刻氣體來蝕刻氮化硅膜。
在專利文獻1公開的技術(shù)中,氮化硅膜基于將氟自由基(F*)作為主蝕刻原料的自由基反應(yīng)而被蝕刻,通過在氧化硅膜上堆積碳氟化合物系的堆積膜,能夠使蝕刻速度降低,且能夠增大相對于氧化硅膜的蝕刻選擇比。
現(xiàn)有技術(shù)文獻
專利文獻
專利文獻1:特開平10-303187號公報
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的課題
根據(jù)上述現(xiàn)有技術(shù),能夠增大氮化硅膜相對于氧化硅膜的蝕刻選擇比。但是,即使對于氧化硅膜,也主要基于以CF3離子作為主蝕刻原料的離子-輔助反應(yīng)機構(gòu)(ion-assisted?reaction?mechanism)進行蝕刻。因此,在以氮化硅膜蝕刻速度的提高、所述的間隔件構(gòu)造的制造工序等中的形狀控制為目的而對晶片施加高偏壓時,即使是氧化硅膜也進行蝕刻,氮化硅膜相對于氧化硅膜的選擇比降低。
但是,隨著近年的半導(dǎo)體裝置的微細化,在所述間隔件構(gòu)造的制造工序中,作為氮化硅膜蝕刻用的阻擋膜使用的氧化硅膜的薄膜化也顯著。因此,更要求提高氮化硅膜相對于氧化硅膜的選擇比。
鑒于以上的課題,本發(fā)明的目的在于,提供等離子蝕刻方法,其能夠獲得在高微細化的半導(dǎo)體裝置的制造中涉及的氧化硅膜上的氮化硅膜蝕刻中所要求的氮化硅膜相對于氧化硅膜的選擇比。
用于解決課題的手段
本發(fā)明的等離子蝕刻方法,其相對于與被蝕刻膜不同的膜選擇地蝕刻所述被蝕刻膜,其特征在于,使用能夠生成含有與所述膜的成分同樣成分的堆積膜的氣體,等離子蝕刻所述被蝕刻膜。
另外,本發(fā)明提供等離子蝕刻方法,其相對于與被蝕刻膜不同的膜選擇地蝕刻所述被蝕刻膜,其特征在于,使用能夠生成含有Si-O鍵的堆積膜的氣體,等離子蝕刻所述被蝕刻膜。
發(fā)明效果
通過本發(fā)明的構(gòu)成,與現(xiàn)有技術(shù)相比能夠提高相對于與被蝕刻膜不同的膜的被蝕刻膜的蝕刻選擇比。
附圖說明
圖1是表示適用于本發(fā)明的微波等離子蝕刻裝置的構(gòu)成的圖;
圖2是表示對實施例1的條件和現(xiàn)有條件中的氮化硅膜相對于氧化硅膜的蝕刻選擇比進行比較的結(jié)果的圖;
圖3是表示使用X射線光電子分光法的分析結(jié)果的圖;
圖4是表示實施例1的蝕刻經(jīng)過的圖;
圖5是表示氮化硅膜相對于氧化硅膜的蝕刻選擇比中的相對于由CH3F氣體和O2氣體構(gòu)成的混合氣體的SiF4氣體流量的依存性的圖;
圖6是表示氮化硅膜相對于氧化硅膜的蝕刻選擇比中的相對于由CH3F氣體和SiF4氣體構(gòu)成的混合氣體的O2氣體流量的依存性的圖;
圖7是表示對實施例2的條件和現(xiàn)有條件中的氮化硅膜相對于多晶硅膜的蝕刻選擇比進行比較的結(jié)果的圖;
圖8是表示實施例2的蝕刻經(jīng)過的圖;
圖9是表示實施例2的氮化硅膜的間隔件形成的蝕刻經(jīng)過的圖;
圖10是表示實施例3的蝕刻經(jīng)過的圖。
符號說明:
100?試樣
101?真空容器
102?真空泵
103?處理室
104?磁控管電源
105?導(dǎo)波管
106?共振容器
106′?共振室
107?試樣臺
108?螺管線圈
109?窗部件
110?淋浴板
111?高頻偏壓電源
112?直流電源
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于株式會社日立高新技術(shù),未經(jīng)株式會社日立高新技術(shù)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310015232.X/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種比拉斯汀反應(yīng)母液的處理方法
- 下一篇:毫針快速進針筆
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





