[發明專利]水路密封結構檢測治具有效
| 申請號: | 201310014546.8 | 申請日: | 2013-01-15 |
| 公開(公告)號: | CN103925857A | 公開(公告)日: | 2014-07-16 |
| 發明(設計)人: | 符岳衡 | 申請(專利權)人: | 漢達精密電子(昆山)有限公司 |
| 主分類號: | G01B5/00 | 分類號: | G01B5/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 215300 江蘇省蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 水路 密封 結構 檢測 | ||
【技術領域】
本發明涉及一種檢測治具,具體涉及一種檢測水路密封結構的檢測治具。
【背景技術】
在塑膠模具水路系統中,使用密封圈是最常用的一種密封形式,密封圈具有密封性可靠,密封部位簡單,易拆卸等特點,且密封圈和密封槽尺寸的合理匹配是保證密封可靠和使用壽命的必要保證。
然而,現有技術在測量密封圈和密封槽時,使用投影儀測量密封圈的尺寸,存在測量誤差大,效率低且無實配效果的缺陷;使用卡尺測量密封槽的尺寸,同樣存在測量誤差大、測量效率低的缺陷。測量誤差會使密封圈和密封槽尺寸不匹配,導致模具水路漏水及試模失敗。
有鑒于此,實有必要開發一種水路密封結構檢測治具,以同時解決上述在測量密封圈及密封槽時測量誤差大、測量效率低及無實配效果的問題。
【發明內容】
因此,本發明的目的是提供一種水路密封結構檢測治具,該水路密封結構檢測治具在測量密封圈及密封槽時能夠同時克服測量誤差大、測量效率低及無實配效果的缺陷。
為了達到上述目的,本發明的水路密封結構檢測治具,其用于檢測模具中水路的密封圈及密封槽是否合格,該水路密封結構檢測治具包括:
本體,其上設有若干個環形槽,該環形槽分別為標準尺寸的密封槽,該環形槽中放置待檢測的密封圈;
若干個入子,該入子為柱狀體,沿該入子軸向方向該入子的一端開設有盲孔,該盲孔的側壁與標準尺寸的密封槽相配合,該入子插設于所述本體上或與本體分離,檢測時該盲孔的側壁插設于待檢測的密封槽中。
特別地,所述標準尺寸的密封槽對應于JIS標準或GB標準。
特別地,所述環型槽及入子盲孔的側壁做至標準尺寸公差范圍內。
特別地,所述本體上包括同圓心的至少兩個環形槽。
相較于現有技術,本發明的水路密封結構檢測治具,在測量密封圈時,只需將密封圈放置于環型槽中檢測,測量精度好,測量效率高,且具有很好的實配驗證效果,同時在測量密封槽時,只需將入子設有盲孔的一端放置于待檢測密封槽中,測量精度好,且測量效率高。
【附圖說明】
圖1繪示本發明水路密封結構檢測治具的示意圖。
圖2繪示本發明水路密封結構檢測治具中入子的示意圖。
圖3繪示本發明水路密封結構檢測治具中本體放入密封圈的示意圖。
【具體實施方式】
請參閱圖1及圖2所示,其中圖1繪示了本發明水路密封結構檢測治具的示意圖、圖2繪示了本發明水路密封結構檢測治具中入子的示意圖。
本發明的水路密封結構檢測治具10,其用于檢測模具中水路的密封圈300及密封槽(圖未示)是否合格,該水路密封結構檢測治具10包括:
本體100,其上設有若干個不同尺寸的環形槽110,該環形槽110分別為標準尺寸的密封槽,該環形槽110用于放置待檢測的密封圈300,其中所述標準尺寸的密封槽對應于JIS標準或GB標準;
若干個入子200,其為柱狀體,沿該入子200軸向方向該入子200的一端開設有盲孔210,該盲孔210的側壁220與標準尺寸的密封槽相配合,為了方便放置該水路密封結構檢測治具10,該入子200可插設于所述本體100上或與所述本體100分離,檢測時所述盲孔210的側壁220插設于待檢測的密封槽中。
其中,所述的環型槽110及入子200盲孔210的側壁220做至標準尺寸公差范圍內。
其中,所述本體100上包括同圓心的至少兩個環形槽110,以節約本體100上的空間。
請參閱圖3所示,當檢測密封圈300是否合格時,將待檢測的密封圈300放入本體100上相應尺寸的環型槽110中,在密封圈300伸縮量的范圍內,可允許將密封圈300按壓到環型槽110中。按壓后如果有自動彈出現象,則密封圈300不合格,即不在允許的公差范圍內;按壓后沒有自動彈出現象,則密封圈300合格。
當檢測模具上的密封槽是否合格時,取相應規格尺寸的入子200,將入子200盲孔210的側壁220放入到待檢測的密封槽中,如果入子200可以直接放入密封槽中,則表示密封槽合格;如果入子200不能直接放入密封槽中,則表示模具上的密封槽加工尺寸精度不能滿足要求。
本發明的水路密封結構檢測治具10,在檢測密封圈300及密封槽是否合格時,不僅測試精度好,具有很好的實配驗證效果,且將現有的測量尺寸的計量型數據轉化為合格或不合格的計數型數據,降低了測量難度,更適用于加工現場的自檢執行,提高了檢測效率。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于漢達精密電子(昆山)有限公司,未經漢達精密電子(昆山)有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310014546.8/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種瀝青改性劑用納米復合粉體材料
- 下一篇:聚酰胺樹脂組合物和包括它的制品





