[發(fā)明專利]一種光學(xué)鏡片阿貝值的無損測定方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310013945.2
• 申請日: 2013-01-15
• 公開（公告）號: CN103926056A
• 公開（公告）日: 2014-07-16
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 蔡留美;姜冠祥;姜棟華;陸艷華;房元慶
• 申請（專利權(quán)）人: 上海雄博精密儀器股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01N21/41
• 代理公司: 上海天協(xié)和誠知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 31216
• 代理人: 張恒康

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種光學(xué)鏡片的測定方法，具體地說，是一種光學(xué)鏡片阿貝值的無損測定方法。

背景技術(shù)

隨著新材料的不斷發(fā)展眼鏡片的阿貝值種類越來越多，特別是復(fù)合有機材料鏡片阿貝值的價格差距很大，同樣度數(shù)的同折射率的阿貝值為60的鏡片要比阿貝值30的鏡片的價格高十多倍，而目測是沒辦法區(qū)分其差別的。目前市場上還沒有穩(wěn)定可靠的儀器可對光學(xué)鏡片的阿貝值進行無損精確測量。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的，在于提出一種光學(xué)鏡片阿貝值的無損測定方法。

本發(fā)明的另一目的，在于提出一種以與本發(fā)明相配套的一種光學(xué)鏡片折射率的無損測定方法為基礎(chǔ)的光學(xué)鏡片阿貝值的無損測定方法。

本發(fā)明的又一目的，在于提出一種不接觸鏡片、不損壞鏡片、只需放到檢測儀器中照一下就能得到光學(xué)透鏡鏡片阿貝值的光學(xué)鏡片阿貝值的無損測定方法。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的技術(shù)解決方案是：

一種光學(xué)鏡片阿貝值的無損測定方法，以一種光學(xué)鏡片折射率的無損測定方法為基礎(chǔ)，其特征在于包括以下步驟：

a、提供一能夠檢測光學(xué)鏡片光焦度的儀器，所述儀器是焦度計，或者焦距儀，且分別在用F光，D光和C光三種波長的光照射光學(xué)鏡片環(huán)境下測量出所述三種光分別對應(yīng)的折射率；

b、利用阿貝數(shù)計算公式計算出鏡片的阿貝值

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式中:?V_d為被測鏡片的阿貝值，n_D為被測鏡片在D光頻段的折射率，n_F為被測鏡片在F光頻段的折射率，n_C為被測鏡片在C光頻段的折射率。

本發(fā)明的光學(xué)鏡片阿貝值的無損測定方法還可以采用以下的技術(shù)措施來進一步實現(xiàn)。

前述的方法，其中所述F光是青光，波長486.13nm，氫光譜中的F線（Blue?hydrogen?F?line）；所述D光是黃光，波長589.3nm，鈉光譜中的D線（Yellow?sodium?D?line）；所述C光是紅光，波長656.3nm，氫光譜中的C線（Red?hydrogen?C?line）。

前述的方法，其中所述步驟a中，焦度計是由雄博精密儀器股份有限公司制造的LM-380型號的焦度計。

采用上述技術(shù)方案后，本發(fā)明的光學(xué)鏡片阿貝值的無損測定方法具有以下優(yōu)點：

1、方法簡便、操作簡單、無損測定；

2、精確測量出光學(xué)鏡片的阿貝值。

具體實施方式

以下通過具體實施例進一步說明本發(fā)明。

實施例1

本發(fā)明的光學(xué)鏡片阿貝值的無損測定方法，其特征在于包括以下步驟：

a、提供焦度計是由雄博精密儀器股份有限公司制造的LM-380型號的焦度計；

（1）使用所述焦度計測量出一光學(xué)鏡片置于所述F光下的折射率n_F；

（2）使用所述焦度計測量出一光學(xué)鏡片置于所述D光下的折射率n_D；

（3）使用所述焦度計測量出一光學(xué)鏡片置于所述C光下的折射率n_C；

b、利用阿貝數(shù)計算公式計算出被測鏡片的阿貝值

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式中:?V_d為被測鏡片的阿貝值，n_D為被測鏡片在D光頻段的折射率，n_F為被測鏡片在F光頻段的折射率，n_C為被測鏡片在C光頻段的折射率。

本發(fā)明具有實質(zhì)性特點和顯著的技術(shù)進步，提供了一種用于光學(xué)鏡片阿貝值的精確的無損測定方法。

以上實施例僅供說明本發(fā)明之用，而非對本發(fā)明的限制，有關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，還可以作出各種變換或變化。因此，所有等同的技術(shù)方案也應(yīng)該屬于本發(fā)明的范疇，應(yīng)由各權(quán)利要求限定。