[發(fā)明專利]用于反射差分光譜測量的緊湊式全光譜光學(xué)測頭裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310012573.1 | 申請日: | 2013-01-14 |
| 公開(公告)號: | CN103090972A | 公開(公告)日: | 2013-05-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 胡春光;徐臻圓;張一帆;謝鵬飛;傅星;胡小唐 | 申請(專利權(quán))人: | 天津大學(xué) |
| 主分類號: | G01J3/42 | 分類號: | G01J3/42;G01J3/02 |
| 代理公司: | 天津市北洋有限責(zé)任專利代理事務(wù)所 12201 | 代理人: | 李麗萍 |
| 地址: | 300072*** | 國省代碼: | 天津;12 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 反射 光譜 測量 緊湊 光學(xué) 裝置 | ||
1.一種用于反射差分光譜測量的緊湊式全光譜光學(xué)測頭裝置,其特征在于,包括入射光纖(1)、離軸拋物反射鏡(2)、起偏器(3)、旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器(6)、檢偏器(10)、第一凹面反射鏡(12)、第二凹面反射鏡(13)和出射光纖(14);光源經(jīng)入射光纖(1)入射,經(jīng)過離軸拋物反射鏡(2)變?yōu)槠叫谢騾R聚光束,該平行或匯聚光束經(jīng)過起偏器(3)變?yōu)榫€性偏振光后,再經(jīng)過旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器(6)進(jìn)行信號調(diào)制,調(diào)制后的光照射到測試樣品表面;經(jīng)由測試樣品反射的光經(jīng)檢偏器(10)成為線性偏振光后,再依次經(jīng)過第一凹面反射鏡(12)和第二凹面反射鏡(13)后,匯聚在出射光纖(14)的入口;自所述離軸拋物反射鏡(2)至所述第一凹面反射鏡(12)之間形成的往返光束的中心線夾角小于4°。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述用于反射差分光譜測量的緊湊式全光譜光學(xué)測頭裝置,其特征在于,所述起偏器(3)和檢偏器(10)分別安裝在各自的一旋轉(zhuǎn)平臺上,每個旋轉(zhuǎn)平臺均分別與一個步進(jìn)馬達(dá)連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述用于反射差分光譜測量的緊湊式全光譜光學(xué)測頭裝置,其特征在于,所述旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器(6)包括安裝在一旋轉(zhuǎn)臺上的消色差波片,所述旋轉(zhuǎn)臺直流連續(xù)馬達(dá)(8)、傳動帶(7)、角度傳感器(5)和旋轉(zhuǎn)支撐平臺構(gòu)成。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述用于反射差分光譜測量的緊湊式全光譜光學(xué)測頭裝置,其特征在于,所述離軸拋物反射鏡(2)的離軸角度是90度、60度、45度和30度中的其中一個角度。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述用于反射差分光譜測量的緊湊式全光譜光學(xué)測頭裝置,其特征在于,所述離軸拋物反射鏡(2)為寬波段金屬鍍膜反射鏡,所述第一凹面反射鏡(12)和第二凹面反射鏡(13)均為凹面寬波段金屬鍍膜反射鏡。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述用于反射差分光譜測量的緊湊式全光譜光學(xué)測頭裝置,其特征在于,其光譜的傳輸范圍為250~1000nm,工作距離為100-1000mm,所述入射光纖(1)和所述出射光纖(14)采用纖芯直徑為200-1000μm的多模光纖,測試樣品表面照射的光斑直徑為1-8mm。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述用于反射差分光譜測量的緊湊式全光譜光學(xué)測頭裝置,其特征在于,其外形輪廓的幾何尺寸為300mm長×250mm寬×135mm高。
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