[發明專利]切換閃存中物理塊工作模式的方法和裝置

在審

• 申請號: 201310011287.3
• 申請日: 2013-01-11
• 公開（公告）號: CN103116550A
• 公開（公告）日: 2013-05-22
• 發明（設計）人: 蔣林
• 申請（專利權）人: 深圳市硅格半導體有限公司
• 主分類號: G06F12/02
• 分類號: G06F12/02
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 胡海國

技術領域

本發明涉及數據存儲技術領域，尤其涉及一種切換閃存中物理塊工作模式的方法和裝置。

背景技術

隨著閃存技術的發展，在閃存中設置有多個物理塊，每個物理塊的工作模式不同，包括MLC、?TLC和SLC工作模式。在閃存中，若某個MLC或TLC工作模式的物理塊出現錯誤，就被標記為壞塊不再被使用，則該MLC或TLC模式的物理塊的使用率低，壽命短。

發明內容

本發明的主要目的是提供一種切換閃存中物理塊工作模式的方法和裝置，旨在延長閃存的使用壽命。

本發明提出一種切換閃存中物理塊工作模式的方法，包括：

獲取閃存中物理塊的工作模式，判斷所述物理塊在所述工作模式下是否出現錯誤；

若是，則判斷所述物理塊的工作模式是否為SLC模式；

若判斷所述物理塊的工作模式不是SLC模式，則將所述物理塊的工作模式轉換為SLC模式。

優選地，所述獲取物理塊的工作模式的步驟包括：

獲取所述物理塊工作模式狀態表；

根據所述物理塊的工作模式狀態表，獲取所述物理塊的工作模式。

優選地，所述將物理塊的工作模式轉換為SLC模式的步驟之后還包括：

更新所述物理塊工作模式狀態表。

優選地，所述物理塊工作模式狀態表保存在所述工作模式為SLC模式的物理塊上。

優選地，所述判斷所述物理塊是否出現錯誤的步驟包括：

判斷所述物理塊的數據是否出現錯誤；

若是，則對物理塊進行錯誤檢查和糾正；

判斷進行錯誤檢查和糾正之后所述物理塊的數據是否還是出現錯誤。

本發明還提出一種切換閃存中物理塊工作模式的裝置，包括：

獲取模塊，用于獲取閃存中物理塊的工作模式；

第一判斷模塊，用于判斷所述物理塊是否出現錯誤；

第二判斷模塊，用于判斷所述物理塊的工作模式是否為SLC模式；

處理模塊，用于若判斷所述物理塊的工作模式不是SLC模式，則將所述物理塊的工作模式轉換為SLC模式。

優選地，所述獲取模塊包括：

第一獲取單元，用于獲取所述物理塊工作模式狀態表；

第二獲取單元，用于根據所述物理塊的工作模式狀態表，獲取所述物理塊的工作模式。

優選地，還包括：

更新模塊，用于將所述物理塊的工作模式轉換為SLC模式之后，更新所述物理塊工作模式狀態表。

優選地，所述處理模塊還用于若判斷所述物理塊的工作模式為SLC模式，則將所述物理塊標記為壞塊

優選地，所述第一判斷模塊包括：

第一判斷單元，用于判斷所述物理塊的數據是否出現錯誤；

糾正單元，用于對所述物理塊進行錯誤檢查和糾正；

第二判斷單元，用于判斷錯誤檢查和糾正之后所述物理塊的數據是否還是出現錯誤。

本發明所提出的一種切換閃存中物理塊工作模式的方法和裝置，該方法使得閃存中的物理塊在對數據進行存儲時，若出現錯誤，通過改變物理塊的工作模式，繼續作為一個存儲模塊進行工作，以達到延長閃存使用壽命的目的。

附圖說明

圖1為本發明切換閃存中物理塊工作模式的方法一實施例的流程示意圖；

圖2為本發明切換閃存中物理塊工作模式的方法中獲取物理塊的工作模式的流程示意圖；

圖3為本發明切換閃存中物理塊工作模式的方法另一實施例的流程示意圖；

圖4為本發明切換閃存中物理塊工作模式的方法再一實施例的流程示意圖；

圖5為本發明切換閃存中物理塊工作模式的方法中判斷物理塊是否出現錯誤的流程示意圖；

圖6為本發明切換閃存中物理塊工作模式的裝置一實施例的結構示意圖；

圖7為本發明切換閃存中物理塊工作模式的裝置中獲取模塊的結構示意圖；

圖8為本發明切換閃存中物理塊工作模式的裝置另一實施例的結構示意圖；

圖9為本發明切換閃存中物理塊工作模式的裝置中第二判斷模塊的結構示意圖。

本發明目的的實現、功能特點及優點將結合實施例，參照附圖做進一步說明。

具體實施方式

下面結合附圖及具體實施例就本發明的技術方案做進一步的說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發明，并不用于限定本發明。

參照圖1，圖1為本發明切換閃存中物理塊工作模式的方法一實施例的流程示意圖。

本實施例所提出的切換閃存中物理塊工作模式的方法，包括：