[發(fā)明專利]一種NOR閃存器件的退火工藝及NOR閃存器件在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310010804.5 | 申請日: | 2013-01-11 |
| 公開(公告)號: | CN103077927A | 公開(公告)日: | 2013-05-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王輝;黃兆興 | 申請(專利權(quán))人: | 無錫華潤上華科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/8247 | 分類號: | H01L21/8247;H01L27/115 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 馬曉亞 |
| 地址: | 214028 江蘇省無*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 nor 閃存 器件 退火 工藝 | ||
1.一種NOR閃存器件的退火工藝,包括:
在半導(dǎo)體襯底上形成阱區(qū),
對所述阱區(qū)進(jìn)行退火,其特征在于,所述退火是變溫退火,即是在退火氣氛下,將溫度從900-1000℃中的某一溫度降至700-800℃中的某一溫度,完成對所述阱區(qū)的退火。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的NOR閃存器件的退火工藝,其特征在于,所述降溫是從950℃降至750℃。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的NOR閃存器件的退火工藝,其特征在于,所述降溫是從1000℃降至800℃。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的NOR閃存器件的退火工藝,其特征在于,所述降溫是從900℃降至700℃。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-4中任一項(xiàng)所述的NOR閃存器件的退火工藝,其特征在于,所述的降溫速度為:1-5℃/Min。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-4中任一項(xiàng)所述的NOR閃存器件的退火工藝,其特征在于,所述的降溫速度為:2.5℃/Min。
7.根據(jù)權(quán)利要求1-4中任一項(xiàng)所述的NOR閃存器件的退火工藝,其特征在于,對阱區(qū)進(jìn)行退火的時(shí)間為40-200Min。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的NOR閃存器件的退火工藝,其特征在于,對阱區(qū)進(jìn)行退火的時(shí)間為90Min。
9.根據(jù)權(quán)利要求1-4所中任一項(xiàng)所述的NOR閃存器件的退火工藝,其特征在于,所述的退火氣氛為N2和O2。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的NOR閃存器件的退火工藝,其特征在于,所述N2氣氛的流量為15-18L/Min,O2氣氛的流量為0.8-1.25L/Min。
11.一種NOR閃存器件,其特征在于,制作其的過程中采用權(quán)利要求1-10中任一項(xiàng)所述的NOR閃存器件的退火工藝進(jìn)行退火。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于無錫華潤上華科技有限公司,未經(jīng)無錫華潤上華科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310010804.5/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 一種Nor flash更新方法及裝置
- 一種數(shù)據(jù)存儲裝置、數(shù)據(jù)存儲系統(tǒng)及方法
- 一種基于NOR FLASH陣列的卷積運(yùn)算方法
- 一種NOR FLASH嵌入式設(shè)備的啟動方法及裝置
- 包括AND-NOR或OR-NAND門和反饋路徑的用于鎖存數(shù)據(jù)的裝置和方法
- 優(yōu)化Nor Flash存儲陣列面積的相關(guān)方法及系統(tǒng)
- 基于ROM的SPI NOR FLASH識別方法、裝置、系統(tǒng)及存儲介質(zhì)
- 一種基于FPGA的NOR Flash測試系統(tǒng)
- Nor flash過擦除的修復(fù)方法及Nor flash存儲陣列
- 基于FPGA的nor flash壞塊管理系統(tǒng)及方法





