[發明專利]一種微伏級T波交替的定量檢測方法無效
| 申請號: | 201310009766.1 | 申請日: | 2013-01-11 |
| 公開(公告)號: | CN103006206A | 公開(公告)日: | 2013-04-03 |
| 發明(設計)人: | 趙捷;陳甜甜;尹文楓 | 申請(專利權)人: | 山東師范大學 |
| 主分類號: | A61B5/0452 | 分類號: | A61B5/0452 |
| 代理公司: | 濟南圣達知識產權代理有限公司 37221 | 代理人: | 王吉勇 |
| 地址: | 250014 山*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 微伏級 交替 定量 檢測 方法 | ||
1.一種微伏級T波交替的定量檢測方法,其特征在于,包括以下步驟:
(1)獲取心電圖數據并進行心電信號預處理;
(2)心電信號特征點標定:對心電圖中的QRS波群及T波進行標定;
(3)心拍選擇:采取多個步驟的復合預處理對系列心拍進行選擇;
(4)選取T波采樣點:采用T波窗口,并以T波波峰對齊,選取128個T波段,每段T波提取7個采樣點,構成待測的T波采樣點序列;
(5)作T波交替散點圖:對步驟(4)中的T波采樣點序列一次差分后作散點圖,并利用MATLAB7.0軟件仿真繪圖;
(6)確定散點圖“邊緣”,采取“橫向搜索法”對散點圖進行邊緣提取,確定散點圖的“邊緣”并得到散點圖邊緣點集;
(7)提取散點圖的定量參數,分析散點圖外部形態與T波交替的關系,根據散點圖“邊緣”的幾何特征,定義短軸、長軸、短長軸之比三個定量參數;
(8)確定T波交替的散點圖定量檢測指標,以步驟(7)所述短長軸之比作為定量檢測指標,采用MATLAB7.0軟件仿真并與譜分析法比較,找出合適閾值判斷T波交替的存在與否。
2.根據權利要求1所述的檢測方法,其特征在于,步驟(4)中,所述復合預處理包括心拍剔除。
3.根據權利要求1所述的檢測方法,其特征在于,步驟(6)中所述采用“橫向搜索法”對散點圖進行邊緣提取,具體步驟如下:
61)散點圖預處理:將散點圖轉換成M×N的二值化的數字圖像矩陣G,根據其橫縱坐標序列X={x2-x1,x3-x2,…,xi+1-xi,…}、Y={x3-x2,x4-x3,…,xi+2-xi+1,…},其中X和Y的長度都為L,及散點坐標(xi+1-xi,xi+2-xi+1),首先將散點圖坐標序列值取整后上移和右移,使其剛好完全移至平面直角坐標系第一象限內,然后通過如下方式進行轉換:
其中Y(n),X(n)分別表示Y,X中的第n個元素值;max[Y(n)],max[X(n)]分別表示X,Y中所有元素的最大值;矩陣元素gi,j表示圖像G中第i行,第j列的像素灰度值,其定義為:
得散點圖的二值化數字圖像G;
62)尋找邊緣候選點:對圖像G進行塊操作,初步去除散點圖中心非邊緣點及邊界外較稀疏的非邊緣點,定義5×5的整數格,令整數格以gi,j,其中,i為1~M之間的整數,j為1~N之間的整數,為中心像素開始對散點圖進行行掃描,計算該整數格覆蓋區域
的灰度值和a,a是A中各元素之和,若2≤a≤3,則將該中心像素標記為邊緣候選點;
63)確定邊緣點:對由上個步驟確定的邊緣候選點進行篩選,去除散點圖中心區域外的一些異常小點集,得到最終邊緣點;首先以邊緣候選點為中心像素構建21×21的整數格,則該整數格覆蓋區域
將矩陣B按
劃分,得矩陣B1、B2、B3、B4,分別計算其灰度值和b1、b2、b3、b4,b1、b2、b3、b4是相應矩陣B1、B2、B3、B4中各元素之和,若b1、b2、b3、b4的值都小于閾值6,則刪除此候選點,將其余點保存在邊緣點數組中,得散點圖的邊緣點集。
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