[發明專利]一種用于BST熱釋電紅外探測器的介電擊穿調控方法無效
| 申請號: | 201310009459.3 | 申請日: | 2013-01-11 |
| 公開(公告)號: | CN103076098A | 公開(公告)日: | 2013-05-01 |
| 發明(設計)人: | 王曉川;張欣翼;許麗娜 | 申請(專利權)人: | 四川匯源科技發展股份有限公司 |
| 主分類號: | G01J5/00 | 分類號: | G01J5/00 |
| 代理公司: | 電子科技大學專利中心 51203 | 代理人: | 張楊 |
| 地址: | 611731 四川省*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 bst 熱釋電 紅外探測器 擊穿 調控 方法 | ||
1.一種用于BST熱釋電紅外探測器的介電擊穿調控方法,其特征在于,包括下述步驟:
在BST熱釋電薄膜的頂端設置有上電極,作為所述探測器的公共電極和紅外吸收層;
在BST熱釋電薄膜的低端設置有兩個輸入電極,作為所述探測器的襯底;
將一個輸入電極接地,并對另一個輸入電極施加方波偏壓。
2.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述方波偏壓為對稱方波偏壓。
3.如權利要求2所述的方法,其特征在于,所述對稱方波偏壓的幅值為±0.5~20V,周期為10~1000s,占空比為30~80%。
4.如權利要求3所述的方法,其特征在于,所述對稱方波偏壓的幅值為±6V,周期為200s,占空比為50%。
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