[發明專利]一種熱釋電紅外探測器及其制備方法無效
| 申請號: | 201310009416.5 | 申請日: | 2013-01-11 |
| 公開(公告)號: | CN103050580A | 公開(公告)日: | 2013-04-17 |
| 發明(設計)人: | 張欣翼;王曉川;許麗娜;姚佶 | 申請(專利權)人: | 四川匯源科技發展股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;H01L31/101 |
| 代理公司: | 電子科技大學專利中心 51203 | 代理人: | 張楊 |
| 地址: | 611731 四川省*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 熱釋電 紅外探測器 及其 制備 方法 | ||
技術領域
本發明屬于電子材料與元器件技術領域,尤其涉及一種熱釋電紅外探測器及制備方法。?
背景技術
熱釋電紅外探測器利用熱釋電材料的熱釋電效應工作。熱釋電材料處于低于居里溫度的恒溫環境時,其自極化電荷密度保持不變,這些電荷被空氣中的帶電離子中和;當紅外輻射入射熱釋電材料,被材料吸收后,材料溫度升高,自極化強度變小,即電荷面密度變小。這樣,熱釋電材料表面存在多余的中和電荷,這些電荷以電壓或電流的形式輸出,該輸出信號可以用來探測輻射。相反,當截斷該輻射時,熱釋電材料溫度降低,自極化強度增加,有相反方向的電流或電壓輸出。可見,要提高熱釋電紅外探測器的靈敏度,應該提高熱釋電敏感元的材料性能和絕熱性能,這樣在其他條件相同時,可以獲得更高的響應信號。?
目前,常用的熱釋電材料有BST、PZT、LiTaO3和TGS等;熱釋電材料的形態有:單晶/陶瓷塊體材料、薄膜材料和厚膜材料。?
單晶/陶瓷塊體材料用晶體外延生長或者傳統陶瓷工藝制成,其優點是材料性能好,熱釋電系數高,介電損耗小。缺點是在使用塊體材料制作熱釋電紅外探測器件時,塊體材料要經過切片、研磨、拋光等工藝,減薄到幾十微米,工藝復雜、成本高,且成品率低;當樣品減薄到一定厚度時,材料的機械性能下降,一些微缺陷將暴露出來,會損害材料性能。減薄后的熱釋電敏感元通過導電膠和襯底粘接在一起,使得熱絕緣性能差,敏感元吸收的熱量大部分被流失,導致響應信號小、探測器靈敏度差。?
為了獲得更高的器件性能,人們提出了發展以熱釋電薄膜為敏感元的新型熱釋電紅外探測器。它利用射頻濺射(Rf-Sputtering)法、金屬有機物化學氣相沉積(MOCVD)法、溶膠-凝膠(Sol-gel)法以及分子束外延(MBE)法等在硅襯底上制備厚度為幾十——幾百納米厚的薄膜材料,再利用硅微細加工的辦法,形成微橋、懸臂梁等結構,提高熱釋電薄膜敏感元的絕熱性能。其優點是一方面采用熱絕緣結構減小了熱損耗,降低了熱串擾,可以提高器件性能;另一方面利用成熟的半導體工藝,簡化了工藝、降低了成本,為研制陣列數目更大的探測器提供了保障。缺點是熱釋電薄膜材料性能低、制備工藝重復性、一致性差,不利于大批量生產。?
厚膜材料其厚度在一微米到幾十微米的范圍,制備工藝成熟,主要的制備方法有絲網印刷(Screen?Printing)、新型Sol-gel制備技術和電泳沉積(Electrophoretic?Deposition)等。厚膜材料兼顧了塊材和薄膜材料的優點,它材料性能高,制備工藝成熟、低廉,工藝重復性和一致性好,適合大批量生產;它圖形化能力強,與半導體微細加工工藝兼容,能形成性能良好?的絕熱結構。?
正由于厚膜材料這些優點,人們對利用厚膜熱釋電材料制備紅外探測器進行了深入研究。傳統的熱釋電紅外探測器(結構示意圖如附圖1所示)的制作方法為:?
(1)在襯底101表面制備阻擋層102,采用光刻工藝和濺射技術,將底電極刻成所需圖案并制備底電極103;?
(2)在底電極103上制備熱釋電厚膜材料104,待厚膜靜置平坦和烘干后,利用等靜壓將厚膜表面壓平,接著高溫燒結使之成瓷,得到熱釋電紅外探測單元;?
(3)在熱釋電紅外探測單元上面濺射上電極105,對厚膜進行極化,獲得有一定性能的厚膜材料。?
上述制備方法存在一定的問題,首先是厚膜材料燒結溫度高、材料性能差。由于可以通過調整組份來制備所需性能優良的材料,所以在制備厚膜材料時加入了許多相,而材料混合不均勻及致密度較差會導致燒結溫度高,所獲材料性能較差;其次也是最嚴重的缺陷:厚膜材料容易開裂。為了獲得表面平整度較高的厚膜必須對厚膜材料進行等靜壓處理,而在做等靜壓時厚膜會承受一定的壓力,由于厚膜底部有阻擋層材料支撐平衡了向下的壓力,但是厚膜四周側面沒有支撐體,表面不平整的厚膜受力就會不均衡,其側面會承受向外的張力,加之如果所制備的厚膜材料混合不均勻,厚膜中存在不均勻的孔洞和間隙,在厚膜承受壓力后就很容易發生開裂。開裂嚴重損害厚膜的質量,同時也不利于上電極的制備,大大降低紅外探測器的成品率。?
因此,為了保證厚膜材料的質量,獲得性能良好和成品率較高的熱釋電紅外探測器,解決制備過程中厚膜燒結溫度高,材料性能差及厚膜開裂問題至關重要。?
發明內容
本發明的發明目的在于:針對上述存在的問題,提供一種性能良好的凹槽結構的熱釋電紅外探測器及其制備方法。?
本發明的一種熱釋電紅外探測器的制備方法,包括下述步驟:?
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





