[發明專利]具有干燥環境的測試機臺

在審

• 申請號: 201310009062.4
• 申請日: 2013-01-10
• 公開（公告）號: CN103926480A
• 公開（公告）日: 2014-07-16
• 發明（設計）人: 吳信毅;沈軒任;陳建名;歐陽勤一
• 申請（專利權）人: 致茂電子（蘇州）有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R31/28;G01R1/00
• 代理公司: 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006
• 代理人: 梁揮;祁建國

技術領域

本發明涉及一種具有干燥環境的測試機臺，尤其是涉及一種可進行溫度調控處理，并具有干燥環境的測試機臺。

背景技術

隨著科技的發展與時代的進步，電子裝置的快速發展使得人們生活水平普遍提高，其中，現有的電子裝置內部的零組件大量使用到集成電路（Integrated?Circuit;IC）的元件，更甚者，現有的一般油耗車或電動車等其余與人們衣食住行育樂相關的裝置，都大量使用到集成電路元件。由于集成電路元件在電子裝置中扮演了相當重要的角色，因此其可靠度也成為影響電子裝置是否耐用的重要指針。

舉例而言，在寒帶氣候的國家中，其不管是無線通信裝置（如手機或平板計算機等）或上述的車輛均需在相當低溫的環境下可進行操作或運作，使得集成電路元件在低溫下仍可正常運作成為相當重要的課題，因此以低溫狀態測試集成電路元件成為近年來必備的測試條件。其中，現有的低溫測試中，其中一種方法利用低溫氮氣充填測試機臺內部，營造低溫環境，進而讓集成電路元件在低溫狀態下進行測試。

然而，現有的測試機臺進行低溫測試時，需先等待其環境到達所設定的低溫，再通過環境空氣將待測物冷卻至測試溫度時才可進行測試，因而需耗費相當的等待作業時間，此外，由于廠房內的空氣露點溫度會高于測試溫度，因此機臺必須充分隔離并保持緊閉狀態，若測試過程需要進行調整或維修，或者測試結束時，皆必須等待機臺溫度回升至常溫以上，才能進行后續作業，不然會造成低溫測試完的集成電路元件或者機臺內部低溫零件結露甚至結冰，作業上有其不方便性，因此現有的測試機臺仍有改善空間。

發明內容

本發明所欲解決的技術問題與目的：

有鑒于在現有技術中，現有的測試機臺普遍存在有在進行低溫測試時需等待機臺內部環境到達所設定的低溫，并確保機臺必須充分隔離并保持緊閉狀態，不然會造成低溫測試完的集成電路元件或者機臺內部低溫零件結露甚至結冰，作業上有其不方便性。

緣此，本發明的主要目的提供一種具有干燥環境的測試機臺，其可進行溫度調控處理，并且具有干燥的測試環境，借以省去等待低溫作業的時間以及防止集成電路元件結露甚至結冰。

本發明解決問題的技術手段：

本發明為解決現有技術的問題，所采用的必要技術手段提供一種具有干燥環境的測試機臺，用以測試多個待測物，測試機臺包含一測試站、一緩沖承載裝置、一傳輸承載裝置、一搬運機構以及一干燥氣體導流機構。測試站用以對該些待測物進行一測試程序，緩沖承載裝置鄰近設置于測試站的一側，緩沖承載裝置用以容納該些待測物，以對該些待測物進行一溫度調控處理。傳輸承載裝置鄰近設置于測試站的另一側，可沿一傳送方向往復移動，傳輸承載裝置用以傳送該些待測物進出測試站，并可對該些待測物進行一回溫處理。搬運機構用以將該些待測物搬運至緩沖承載裝置、測試站及傳輸承載裝置，干燥氣體導流機構導引干燥氣體包圍測試站、緩沖承載裝置、傳輸承載裝置及搬運機構，用以產生干燥環境防止結露。

較佳地，上述的測試機臺中，搬運機構包含一第一搬運臂以及一第二搬運臂，第一搬運臂用以將該些待測物自傳輸承載裝置搬運至緩沖承載裝置以進行溫度調控處理，自緩沖承載裝置搬運至測試站以進行測試程序，以及自測試站搬運至傳輸承載裝置以進行回溫處理；第二搬運臂用以將該些待測物自傳輸承載裝置搬運至緩沖承載裝置以進行溫度調控處理，自緩沖承載裝置搬運至測試站以進行測試程序，以及自測試站搬運至傳輸承載裝置以進行回溫處理。此外，第一搬運臂自傳輸承載裝置移動至緩沖承載裝置時，第二搬運臂在測試站進行該測試程序或等待，當第一搬運臂自緩沖承載裝置移動至測試站時，第二搬運臂自測試站移動至傳輸承載裝置。

較佳地，上述的測試機臺中，傳輸承載裝置包含一定位機構、一輸入容納部以及一輸出容納部，定位機構用以對待測物進行一定位調整，而搬運機構將該些待測物自輸入容納部搬運至緩沖承載裝置以進行溫度調控處理，以及自測試站搬運至輸出容納部以進行回溫處理。另外，輸出容納部設有一加熱裝置，加熱裝置用以進行上述的回溫處理，此外，緩沖承載裝置包含多個容納部，緩沖承載裝置可沿傳送方向往復移動，用以提供搬運機構將該些待測物分別搬運至多個容納部，而緩沖承載裝置設有一溫度控制器，用以進行上述的溫度調控處理。

本發明對照先前技術的效果：