[發明專利]光學探頭和包括該光學探頭的光學相干斷層掃描設備

無效

• 申請號: 201310008271.7
• 申請日: 2013-01-09
• 公開（公告）號: CN103251387A
• 公開（公告）日: 2013-08-21
• 發明（設計）人: 任宰均;崔泫;崔珉碩;崔瑗熙;李性德;張祐榮;金法敏;丁泫友
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社;高麗大學校產學協力團
• 主分類號: A61B5/00
• 分類號: A61B5/00
• 代理公司: 北京銘碩知識產權代理有限公司 11286
• 代理人: 魯恭誠;劉燦強

1.一種用于將光照射在對象上的光學探頭，所述光學探頭包括：

光路控制單元，控制從外部傳輸的光的路徑；

光程控制元件，將光程控制為隨著光的路徑在光路控制單元中被調節而改變；

光學輸出單元，輸出穿過光程控制元件的光。

2.根據權利要求1所述的光學探頭，其中，

光路控制單元控制光的路徑，以沿著預定方向以預定長度反復地移動從光學輸出單元輸出的光照射在對象上的點，每當光照射在對象上的點移動時，光程控制元件均勻地增加光程。

3.根據權利要求1所述的光學探頭，其中，

光程控制元件使路徑被光路控制單元調節的光穿過光程控制元件，并將光程控制為根據光穿過光程控制元件的點而改變。

4.根據權利要求3所述的光學探頭，其中，

光程控制元件由具有均勻的折射率和具有非均勻的厚度的材料形成。

5.根據權利要求4所述的光學探頭，其中，

光程控制元件的截面具有楔形形狀。

6.根據權利要求4所述的光學探頭，其中，

光程控制元件的一側或兩側具有彎月形狀。

7.根據權利要求3所述的光學探頭，其中，

光程控制元件由具有不同的折射率的兩種或者更多種材料形成。

8.根據權利要求3所述的光學探頭，其中，

在光程控制元件的表面上形成有突起。

9.根據權利要求1所述的光學探頭，其中，

光程控制元件通過阻擋路徑被光路控制單元調節的光的一部分來減小光的直徑，從而與在阻擋之前相比，相對地出現調節光程的效果。

10.根據權利要求9所述的光學探頭，其中，

光程控制元件將光的直徑控制為根據由光路控制單元調節的路徑而改變。

11.根據權利要求1所述的光學探頭，其中，

光路控制單元是繞固定軸以預定旋轉度來旋轉的反射鏡。

12.一種用于通過將光照射到對象上來掃描該對象的光學相干斷層掃描設備，所述設備包括：

光產生器，用于產生光；

光耦合器，用于將產生的光分離成測量光和參考光，將測量光傳輸到光學探頭并接收響應光，所述響應光隨著測量光從對象反射而從光學探頭返回；

檢測器，用于檢測由響應光和參考光產生的干涉信號；

圖像信號處理器，用于通過使用被檢測的干涉信號來產生對象的斷層掃描圖像，

其中，光學探頭包括：

光路控制單元，控制從光耦合器傳輸的光的路徑；

光程控制元件，將光程控制為隨著光的路徑在光路控制單元中被調節而改變；

光學輸出單元，輸出穿過光程控制元件的光。

13.根據權利要求12所述的設備，其中，

光路控制單元控制光的路徑，以沿著預定方向以預定長度反復地移動從光學輸出單元輸出的光照射在對象上的點，每當光照射在對象上的點移動時，光程控制元件均勻地增加光程。

14.根據權利要求12所述的設備，其中，

光程控制元件使路徑被光路控制單元調節的光穿過光程控制元件，并將光程控制為根據光穿過光程控制元件的點而改變。

15.根據權利要求14所述的設備，其中，

光程控制元件由具有均勻的折射率和具有非均勻的厚度的材料形成。

16.根據權利要求15所述的設備，其中，

光程控制元件的截面具有楔形形狀。

17.根據權利要求15所述的設備，其中，

光程控制元件的一側或兩側具有彎月形狀。

18.根據權利要求14所述的設備，其中，

光程控制元件由具有不同的折射率的兩種或者更多種材料形成。

19.根據權利要求14所述的設備，其中，

在光程控制元件的表面上形成有突起。

20.根據權利要求12所述的設備，其中，

光程控制元件通過阻擋路徑被光路控制單元調節的光的一部分來減小光的直徑，從而與在阻擋之前相比，相對地出現調節光程的效果。