[發(fā)明專利]用于將試驗物品對準于負載的系統(tǒng)和方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310007764.9
• 申請日: 2013-01-09
• 公開（公告）號: CN103196435B
• 公開（公告）日: 2017-04-12
• 發(fā)明（設計）人: J·R·席爾瓦
• 申請（專利權）人: 波音公司
• 主分類號: G01C15/00
• 分類號: G01C15/00
• 代理公司: 北京紀凱知識產權代理有限公司11245
• 代理人: 趙蓉民

1.一種找平設備（98），其用于沿著軸向加載軸線（32）相對于負載（34）定向試驗物品（80），包含：

第一構件（100），其具有凹面（102）；

第二構件（120），其具有凸面（122），該凸面（122）被配置成以使得所述第二構件（120）相對于所述第一構件（100）可移動的方式接合所述凹面（102），所述試驗物品聯(lián)接到所述第一和第二構件（100、120）中的一個，以便其相對移動有助于所述試驗物品（80）與所述軸向加載軸線（32）的大體對準；和

多個定位裝置（160），其被配置成有助于調節(jié)所述第一構件（100）相對于所述第二構件（120）的取向以用于調節(jié)所述試驗物品（80）相對于所述軸向加載軸線（32）的對準。

2.根據權利要求1所述的找平設備（98），其中：

所述凹和凸面（102、122）被成尺寸并配置成使得所述凹和凸面（102、122）之間的界面限定界面周邊（144），當沿著所述軸向加載軸線（32）的方向察看所述界面周邊（144）時，所述界面周邊（144）限定下列中至少一個：

所述試驗物品（80）接觸所述第一和第二構件（100、120）中的所述一個的區(qū)域；

加載板（24、26）接觸所述第一和第二構件（100、120）中的所述一個的區(qū)域。

3.根據權利要求1或者2的任何一項所述的找平設備（98），其中：

所述定位裝置（160）包含定位螺釘（162），其螺紋接合延伸穿過所述第二構件120的對應的多個螺紋孔（136），并且被配置成防止所述第二構件（120）相對于所述第一構件（100）移動。

4.根據權利要求1-3的任何一項所述的找平設備（98），其中：

所述試驗物品（80）具有近端（92）和遠端（94）；

所述近端（92）聯(lián)接到所述找平設備（98）；和

所述凹和凸面（102、122）具有位于所述遠端（94）上方的曲率中心（146）。

5.根據權利要求1-4的任何一項所述的找平設備（98），其中：

所述凹面（102）和所述凸面（122）中每個都具有周邊；和

所述凸面（122）的周邊大于所述凹面（102）的周邊；其中潤滑劑層在所述凹面（102）和所述凸面（122）之間。

6.根據權利要求1-5的任何一項所述的找平設備（98），進一步地包含：

軸向致動器（28），其被配置成沿著軸向加載軸線（32）將壓縮負載施加到試驗物品（80）；

7.一種將試驗物品（80）對準于加載軸線的方法，其包含的步驟有：

將所述試驗物品（80）聯(lián)接到包含第一構件和第二構件（100、120）的找平設備（98），所述第一構件（100）具有凹面（102），所述第二構件（120）具有接合所述凹面（102）的凸面（122）；

將初始軸向負載（36）施加到所述試驗物品（80）；

響應所述軸向負載（34）的施加，相對于所述凹面（102）移動所述凸面（122），以便相對于所述第一構件（100）重新定向所述第二構件（120）；

響應相對于所述第一構件（100）重新定向所述第二構件（120），將所述試驗物品（80）對準于所述軸向加載軸線（32）；

調節(jié)所述找平設備（98）的至少一個定位裝置（160），從而調節(jié)所述第二構件（120）相對于所述第一構件（100）的取向；和

響應調節(jié)所述定位裝置（160），調節(jié)所述試驗物品（80）相對于所述軸向加載軸線（32）的對準。

8.根據權利要求7所述的方法，進一步包含步驟：

將最終軸向負載（40）施加到所述試驗物品（80），所述最終軸向負載（40）具有大于所述初始軸向負載（36）的幅值。