[發(fā)明專利]具有位置測(cè)量裝置的多個(gè)掃描單元的裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310005111.7 | 申請(qǐng)日: | 2013-01-07 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103246172A | 公開(公告)日: | 2013-08-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 沃爾夫?qū)せ魻栐召M(fèi)爾;約爾格·德雷謝爾;馬庫(kù)斯·邁斯納;拉爾夫·約爾格爾;伯恩哈德·默施;托馬斯·卡埃爾貝雷爾 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 約翰尼斯海登海恩博士股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G03F7/20 | 分類號(hào): | G03F7/20;G01B11/00 |
| 代理公司: | 北京康信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240 | 代理人: | 余剛;李慧 |
| 地址: | 德國(guó)特勞*** | 國(guó)省代碼: | 德國(guó);DE |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 位置 測(cè)量 裝置 掃描 單元 | ||
1.一種裝置,具有
-對(duì)象(1;11),所述對(duì)象至少沿兩個(gè)正交的、第一和第二主運(yùn)動(dòng)軸線(y,x)相對(duì)于基準(zhǔn)系統(tǒng)能運(yùn)動(dòng)地布置,和
-用于檢測(cè)所述對(duì)象(1;11)相對(duì)于所述基準(zhǔn)系統(tǒng)的位置的位置測(cè)量裝置,所述位置測(cè)量裝置具有至少兩個(gè)、沿所述第一主運(yùn)動(dòng)軸線(y)布置的、二維量具(2.1,2.2;12.1-12.4)和四個(gè)用于光學(xué)地掃描所述量具(2.1,2.2;12.1-12.4)的掃描單元(1.2a,1.2b,1.2g,1.2h;11.2a;11.2b,11.2g,11.2h),
其特征在于,
所述位置測(cè)量裝置為了檢測(cè)位置而包括至少四個(gè)附加的擴(kuò)展掃描單元(1.2c-1.2f;11.2c-11.2f),所述擴(kuò)展掃描單元沿所述第一主運(yùn)動(dòng)軸線(y)布置在所述四個(gè)掃描單元(1.2a,1.2b,1.2g,1.2h;11.2a;11.2b,11.2g,11.2h)之間。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,外部的所述掃描單元(1.2a,1.2b,1.2g,1.2h;11.2a;11.2b,11.2g,11.2h)沿所述第一主運(yùn)動(dòng)軸線(y)的最大間距(DAy1)分別相應(yīng)于所述量具(2.1,2.2;12.1-12.4)之一沿所述第一主運(yùn)動(dòng)軸線(y)的長(zhǎng)度(DMy)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置,其特征在于,內(nèi)部的所述擴(kuò)展掃描單元(1.2c-1.2f;11.2c-11.2f)沿所述第一主運(yùn)動(dòng)軸線(y)的間距(DAy2)小于外部的所述掃描單元(1.2a,1.2b,1.2g,1.2h;11.2a;11.2b,11.2g,11.2h)沿所述第一主運(yùn)動(dòng)軸線(y)的所述間距(DAy1)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,所述掃描單元(1.2a,1.2b,1.2g,1.2h;11.2a;11.2b,11.2g,11.2h)和所述擴(kuò)展掃描單元(1.2c-1.2f;11.2c-11.2f)沿所述第二主運(yùn)動(dòng)軸線(x)的最大間距(DAx)等于所述量具(2.1,2.2;12.1-12.4)沿所述第二主運(yùn)動(dòng)軸線(x)的長(zhǎng)度(DMx)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,沿所述第一主運(yùn)動(dòng)軸線(y)得出最大移動(dòng)路徑
V=2·DMy-DAy2,
其中,
V:=沿所述第一主運(yùn)動(dòng)軸線的最大移動(dòng)路徑,
DMy:=所述量具沿所述第一主運(yùn)動(dòng)軸線的長(zhǎng)度,
DAy2:=所述擴(kuò)展掃描單元沿所述第一主運(yùn)動(dòng)軸線的間距,
其中,沿所述移動(dòng)路徑(V)通過(guò)所述掃描單元(1.2a,1.2b,1.2g,1.2h;11.2a;11.2b,11.2g,11.2h)和所述擴(kuò)展掃描單元(1.2c-1.2f;11.2c-11.2f)能持續(xù)地檢測(cè)位置。
6.根據(jù)前述權(quán)利要求中至少一項(xiàng)所述的裝置,其特征在于,四個(gè)所述掃描單元(1.2a,1.2b,1.2g,1.2h)和四個(gè)所述擴(kuò)展掃描單元(1.2c-1.2f)布置在所述對(duì)象(1)的一側(cè)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,沿所述第二主運(yùn)動(dòng)軸線(x),至少兩個(gè)另外的二維量具(12.3,12.4)相鄰于至少兩個(gè)、沿所述第一主運(yùn)動(dòng)軸線(y)布置的所述二維量具(12.1,12.2)布置。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置,其特征在于,所述掃描單元(11.2a;11.2b,11.2g,11.2h)和所述擴(kuò)展掃描單元(1.2c-1.2f)沿所述第二主運(yùn)動(dòng)軸線(x)的最小間距等于所述二維量具(12.1-12.4)沿所述第二主運(yùn)動(dòng)軸線(x)的間距(dx)與所述量具(12.1-12.4)沿所述第二主運(yùn)動(dòng)軸線(x)的所述長(zhǎng)度(DMx)之和。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于約翰尼斯海登海恩博士股份有限公司,未經(jīng)約翰尼斯海登海恩博士股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310005111.7/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G03F 圖紋面的照相制版工藝,例如,印刷工藝、半導(dǎo)體器件的加工工藝;其所用材料;其所用原版;其所用專用設(shè)備
G03F7-00 圖紋面,例如,印刷表面的照相制版如光刻工藝;圖紋面照相制版用的材料,如:含光致抗蝕劑的材料;圖紋面照相制版的專用設(shè)備
G03F7-004 .感光材料
G03F7-12 .網(wǎng)屏印刷模或類似印刷模的制作,例如,鏤花模版的制作
G03F7-14 .珂羅版印刷模的制作
G03F7-16 .涂層處理及其設(shè)備
G03F7-20 .曝光及其設(shè)備
- 位置檢測(cè)裝置、位置檢測(cè)電路及位置檢測(cè)方法
- 位置估計(jì)設(shè)備、位置估計(jì)方法、以及位置估計(jì)系統(tǒng)
- 位置檢測(cè)裝置、位置檢測(cè)方法及位置檢測(cè)程序
- 位置辨識(shí)裝置、位置辨識(shí)系統(tǒng)以及位置辨識(shí)方法
- 位置指示器、位置檢測(cè)裝置、位置檢測(cè)電路以及位置檢測(cè)方法
- 位置檢測(cè)裝置、位置檢測(cè)系統(tǒng)以及位置檢測(cè)方法
- 位置檢測(cè)裝置、位置檢測(cè)系統(tǒng)以及位置檢測(cè)方法
- 位置檢測(cè)裝置、位置檢測(cè)方法以及位置檢測(cè)系統(tǒng)
- 位置估計(jì)方法、位置估計(jì)裝置、以及位置估計(jì)系統(tǒng)
- 位置檢測(cè)方法、位置檢測(cè)裝置以及位置檢測(cè)系統(tǒng)
- 測(cè)量設(shè)備、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量配件和測(cè)量方法
- 測(cè)量尺的測(cè)量組件及測(cè)量尺
- 測(cè)量輔助裝置、測(cè)量裝置和測(cè)量系統(tǒng)
- 測(cè)量觸頭、測(cè)量組件和測(cè)量裝置
- 測(cè)量觸頭、測(cè)量組件和測(cè)量裝置
- 測(cè)量容器、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量系統(tǒng)、測(cè)量程序以及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量電路、測(cè)量方法及測(cè)量設(shè)備





