[發明專利]一種光模塊調試系統

有效

• 申請號: 201310003691.6
• 申請日: 2013-01-06
• 公開（公告）號: CN103051379A
• 公開（公告）日: 2013-04-17
• 發明（設計）人: 葛君;張華
• 申請（專利權）人: 青島海信寬帶多媒體技術有限公司
• 主分類號: H04B10/073
• 分類號: H04B10/073
• 代理公司: 北京市京大律師事務所 11321
• 代理人: 黃啟行;方曉明

技術領域

本發明涉及光纖通信技術，尤其涉及一種光模塊調試系統。

背景技術

日前光通信市場正處于飛速發展階段，隨著技術的成熟和市場對帶寬的需求，光纖通信系統已開始規模應用并逐步進入千家萬戶。進行光電轉換的光模塊則是光纖通信系統中的核心部件，應用在光纖通信系統中的多種設備中，如OLT（Optical?Line?Terminator，光線路終端）、ONU（optical?net?unit，光網絡單元）、光端機等。

光模塊在出廠、被安裝到光纖通信系統之前，需要經過調試過程。光模塊的調試過程在廠家的調試生產線上進行，主要是將出廠的光模塊發射激光的光功率和消光比調試在一個合適的范圍。

目前現有技術的調試生產線上的調試系統，如圖1所示，包括：調試主機（可以是PC機）、通信板、誤碼儀、光功率計、被調試光模塊。

調試主機通過通信板與被調試光模塊的MCU（Microprogrammed?Control?Unit，微程序控制單元）通信；具體地，調試主機可以是PC機，其與通信板之間通過USB（Universal?Serial?Bus，通用串行總線）接口通信，通信板與被調試光模塊的MCU之間通過IIC總線通信；調試主機通過USB接口向通信板發送指令和數據，通信板接收到調試主機發送的指令和數據后，通過IIC（Inter-Integrated?Circuit，交互集成電路）總線將指令和數據轉發到光模塊的MCU，從而實現調試主機對光模塊的控制。

調試主機還與光功率計和誤碼儀通信，用以控制光功率計和誤碼儀，或從光功率計和誤碼儀讀取數據。

現有技術的調試系統的調試過程為：調試主機控制誤碼儀的輸出高頻的差分電信號作為數據電信號發送到被調試光模塊；

被調試光模塊接收到誤碼儀發送的數據電信號后，將接收的數據電信號轉換為光信號后進行發射；

光功率計檢測被調試光模塊發射的光信號的光功率；

調試主機從光功率計讀取檢測的光功率值，并根據讀取的光功率值通過通信板向被調試光模塊的MCU中的DCB?current?DAC寄存器寫入數據，用以調整被調試光模塊中的驅動電路輸出到激光器的偏置電流，從而調整了被調試光模塊發射的激光的光功率。

在調試主機從光功率計讀取的光功率值達到期望的光功率值P0后，則停止調整被調試光模塊的MCU中的DCB?current?DAC寄存器中的數據，完成該被調試光模塊的光功率的調試。

之后，進行被調試光模塊的消光比的調試：

調試主機通過通信板向被調試光模塊的MCU中的Mod?current?DAC寄存器寫入數據，用以調整被調試光模塊中的驅動電路輸出到激光器的調制電流；調試主機逐漸加大寫入Mod?current?DAC寄存器的數據，從而逐漸加大被調試光模塊中的驅動電路輸出到激光器的調制電流；當調試主機從光功率計讀取的光功率值達到期望的光功率值P1后，停止調整被調試光模塊的MCU中的Mod?current?DAC存器中的數據，完成該被調試光模塊的消光比的調試。

現有技術的調試方法由于需要采用誤碼儀、光功率計等較為昂貴的設備，對于批量生產和調試光模塊的生成線，則需要投入大量的資金和成本；因此，現有技術的光模塊調試系統和調試方法具有較高的成本。

發明內容

本發明的實施例提供了一種光模塊調試系統，用以降低光模塊的調試成本。

根據本發明的一個方面，提供了一種光模塊調試系統，包括：

調試板，其包括差分晶振，用以為安裝于所述調試板上的被調試光模塊提供數據電信號；

調試通信主板，其包括單片機和監控光模塊，所述監控光模塊通過光纖與所述被調試光模塊相連，用以通過光電二極管探測所述被調試光模塊接收所述數據電信號后發射的光信號，并檢測所述光電二極管探測到光信號后所產生的響應電流；所述單片機通過第一總線與所述被調試光模塊的MCU通信，通過第二總線與所述調試光模塊的MCU通信；

調試主機，用于與所述單片機通信，通過所述單片機獲取所述監控光模塊檢測的響應電流；根據獲取的響應電流計算光功率；根據計算的光功率通過所述單片機調整被調試光模塊中的偏置電流，進行所述被調試光模塊的光功率的調試。

進一步，所述調試主機在完成所述被調試光模塊的光功率的調試后，還用于繼續獲取所述監控光模塊檢測的響應電流，并根據獲取的響應電流計算光功率，根據計算的光功率通過所述單片機調整被調試光模塊中的調制電流，進行所述被調試光模塊的消光比的調試。