[發(fā)明專利]充電構件、電子照相設備和處理盒有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201280070366.5 | 申請日: | 2012-10-04 |
| 公開(公告)號: | CN104145220B | 公開(公告)日: | 2016-11-30 |
| 發(fā)明(設計)人: | 鈴木敏郎;永田之則;原田昌明 | 申請(專利權)人: | 佳能株式會社 |
| 主分類號: | G03G15/02 | 分類號: | G03G15/02;F16C13/00 |
| 代理公司: | 北京魏啟學律師事務所 11398 | 代理人: | 魏啟學 |
| 地址: | 日本東京都大*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 充電 構件 電子 照相 設備 處理 | ||
技術領域
本發(fā)明涉及用于電子照相設備的充電構件、電子照相設備和處理盒。
背景技術
在電子照相設備中,采用接觸充電方式作為使如感光構件或介電構件等圖像承載構件的表面進行充電處理的方法。作為用于接觸充電方式的充電構件,為了確保與被充電體的均一的輥隙寬度(緊密接觸寬度)和防止被充電體損傷,已使用具有包含橡膠或熱塑性彈性體的彈性層的彈性輥。通常通過將預定力施加至該彈性輥的兩端部的軸使彈性輥與圖像承載構件壓接。因此,存在沿彈性輥的長度方向端部的輥隙壓力比中央部的輥隙壓力高的傾向。因此,在將此類彈性輥作為充電構件施用于電子照相設備的情況下,經由長時間形成電子照相圖像,污物容易累積在沿彈性輥的長度方向的中央部。此外,在一些情況下污物導致電子照相圖像的條紋狀不均勻。
同時,專利文獻1提出以下問題。即,當彈性輥抵接圖像承載構件時,沿彈性輥的長度方向的輥隙寬度變得不均勻,因此輥隙壓力發(fā)生分布,導致調色劑污物和圖像不均勻。此外,專利文獻1描述可通過沿彈性輥的推力方向在不同處理水平下改性彈性輥的外周面即彈性層的表面來解決上述問題。專利文獻1提出紫外線照射和電子束照射作為彈性層的表面改性方法的具體實例。
引文列表
專利文獻
專利文獻1:日本專利申請?zhí)亻_2006-119451
發(fā)明內容
發(fā)明要解決的問題
根據本發(fā)明的發(fā)明人進行的研究,如專利文獻1中所述的方法不能充分改進沿抵接被充電體的彈性輥的推力方向的輥隙壓力不均勻。
鑒于上述,本發(fā)明的目的是提供一種充電構件,該充電構件即使當通過將載荷施加至芯軸的兩端使其與被充電體壓接時,也幾乎不發(fā)生沿長度方向的輥隙壓力不均勻,并且即使當長期使用時,其表面也幾乎不進行由于沿長度方向的輥隙壓力不均勻引起的污物的累積。
此外,本發(fā)明的目的是提供能夠穩(wěn)定地提供高品質電子照相圖像的電子照相設備和處理盒。
用于解決問題的方案
根據本發(fā)明的一方面,提供一種充電構件,其包括:芯軸;和導電性彈性層,其中:彈性層具有從其表面朝向深度方向減小的通用硬度;并且在沿充電構件的長度方向的中央部和兩端部的彈性層的通用硬度滿足以下關系:關于彈性層的表面,在兩端部的通用硬度比中央部的通用硬度高;并且關于從彈性層的表面具有tμm的深度的位置,中央部的通用硬度比兩端部的通用硬度高。
根據本發(fā)明的另一方面,提供一種電子照相設備,其包括:上述充電構件;和與充電構件接觸配置的電子照相感光構件。
根據本發(fā)明的又一方面,提供一種處理盒,其包括:上述充電構件;和電子照相感光構件,其中處理盒可拆卸地安裝至電子照相設備的主體。
發(fā)明的效果
根據本發(fā)明,提供一種充電構件,該充電構件即使當通過將載荷施加至芯軸的兩端使其與被充電體壓接時,也幾乎不發(fā)生沿長度方向的輥隙壓力不均勻,并且即使當長期使用時,在沿長度方向的彈性層的中央部也幾乎不進行污物的累積。
附圖說明
圖1為根據本發(fā)明的充電輥的截面圖。
圖2為用于根據本發(fā)明的充電輥的制造的電子束照射設備的說明圖。
圖3為用于根據本發(fā)明的充電輥的制造的掃描型電子束照射源的示意圖。
圖4為用于根據本發(fā)明的充電輥的制造的區(qū)域型電子束照射源的示意圖。
圖5為示出根據實施例1的充電構件的通用硬度分布的圖。
圖6為示出根據實施例5的充電構件的通用硬度分布的圖。
圖7為包括根據本發(fā)明的充電構件的電子照相設備的說明圖。
圖8為根據本發(fā)明的處理盒的說明圖。
具體實施方式
本發(fā)明的發(fā)明人鑒于上述目的進行了廣泛的研究。結果,本發(fā)明人發(fā)現可通過以下充電構件令人滿意地實現該目的,所述充電構件包括芯軸和導電性彈性層,其中彈性層具有從其表面朝向深度方向減小的通用硬度,并且在沿充電構件的長度方向的中央部和兩端部的彈性層的通用硬度滿足以下關系:在彈性層的表面中,在兩端部的通用硬度比在中央部的通用硬度高;并且在從彈性層的表面具有t(μm)的深度的位置處,在中央部的通用硬度比兩端部的通用硬度高。
<充電構件>
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