[發明專利]用于識別透明片體內的缺陷部位的裝置和方法以及該裝置的使用

有效

• 申請號: 201280069284.9
• 申請日: 2012-12-27
• 公開（公告）號: CN104094104B
• 公開（公告）日: 2017-06-20
• 發明（設計）人: 布魯諾·施拉德爾;弗蘭克·馬赫賴;霍爾格·維格納;米夏埃爾·史特爾策
• 申請（專利權）人: 肖特公開股份有限公司
• 主分類號: G01N21/958
• 分類號: G01N21/958
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司11219
• 代理人: 楊靖,車文

1.一種用于識別透明的片(10)體內的缺陷部位的裝置，所述裝置包括：

-光照機構(12)，利用所述光照機構將入射光(20)對準所述片(10)的表面的至少一部分以照射所述片(10)，以及

-圖像檢測機構(14、16)，由所述片(10)反散射的光(22)對準所述圖像檢測機構以通過圖像技術檢測所述片(10)，

其中，所述圖像檢測機構包括至少一個圖像傳感器(16)，用以檢測由所述片(10)反散射在所示圖像傳感器(16)上的光(22)或呈現在所述屏幕(14)上的干涉圖像，

其中，所述圖像傳感器(16)構造為用于在至少兩個檢測角度下檢測反散射光(22)，

其中，所述裝置(11)構造用于在不同拍攝條件下產生至少兩個干涉圖像，以便借助對所述至少兩個干涉圖像的評估能夠實現或執行對缺陷部位的識別。

2.按權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述裝置(11)構造用于通過所述干涉圖像的比對來識別缺陷部位或使對缺陷部位的識別成為可能，其中，所述干涉圖像能夠按時序或同時產生。

3.按權利要求1或2所述的裝置，其特征在于如下特征中的至少一項，

-所述光照機構(12)構造用于產生具有至少兩個不同的波長和/或波形的入射光(20)，

-所述光照機構(12)構造用于將入射光(20)在至少兩個光照角度下對準所述片(10)，

-所述圖像檢測機構(14、16)構造用于在至少兩個檢測角度下檢測反散射光(22)，

-所述光照機構(12)構造用于產生具有至少兩個不同的相位的入射光(20)，

用于在不同拍攝條件下產生至少兩個干涉圖像。

4.按權利要求1或2所述的裝置，其特征在于如下特征中至少一項，

-所述光照機構包括至少一個光源，所述光源構造為鈉氣燈或激光器，

-所述圖像檢測機構包括屏幕(14)，反散射光(22)對準所述屏幕以呈現干涉圖像，

-所述裝置(11)包括與所述圖像檢測機構(14、16)和/或所述光照機構(12)聯接的計算單元(18)，

-所述裝置(11)包括運輸裝置(24)，所述運輸裝置將所述片(10)相對所述光照機構(12)和/或圖像檢測機構(14、16)運動。

5.按權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述圖像傳感器(16)構造為

-矩陣照相機，或

-一個或多個行掃描式照相機，或

-具有時延積分(TDI)傳感器的作為矩陣照相機運行的行掃描式照相機。

6.按權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述運輸裝置(24)具有滾輪(25)，經由所述滾輪引導所述片(10)。

7.按權利要求1或2所述的裝置，其特征在于具有圖案識別系統，所述圖案識別系統用于評估干涉圖像間的差異。

8.按權利要求1或2所述的裝置，其特征在于，所述光照機構(12)包括如下特征中至少一項：

-可調的光源，用于在時間上依次產生具有多個不同的波長的入射光(20)，

-具有限定的光譜寬度的光源以及可調的濾波器，用于在時間上依次產生具有多個不同的波長的入射光(20)，

-多個在空間上分開布置的光源，用于同時產生具有多個不同的波長的入射光(20)，

-至少2個光源。

9.按權利要求1或2所述的裝置，其特征在于，所述透明的片(10)是玻璃片。

10.按權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述裝置(11)構造用于通過測定所述干涉圖像間的差異來識別缺陷部位或使對缺陷部位的識別成為可能，其中，所述干涉圖像能夠按時序或同時產生。

11.按權利要求4所述的裝置，其特征在于，其中，所述至少一個光源具有大于所述片(10)的厚度的兩倍的或大于3mm的相干長度。

12.按權利要求1或2所述的裝置，其特征在于，所述光照機構(12)包括5個或10個或50個光源。

13.一種將按前述權利要求中任一項所述的裝置(11)用于分選具有缺陷部位的厚度為0.02mm至1mm的薄玻璃或厚度小于200μm的玻璃的用途。