[發明專利]處理變換單元的方法及其裝置有效
| 申請號: | 201280066400.1 | 申請日: | 2012-09-20 |
| 公開(公告)號: | CN104041049B | 公開(公告)日: | 2018-11-30 |
| 發明(設計)人: | 徐志瑋;莊子德;黃毓文 | 申請(專利權)人: | 寰發股份有限公司 |
| 主分類號: | H04N19/61 | 分類號: | H04N19/61;H04N19/122 |
| 代理公司: | 北京市萬慧達律師事務所 11111 | 代理人: | 張金芝;楊穎 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | hevc 變換 單元 聯合 系數 掃描 方法 及其 裝置 | ||
1.一種處理變換單元的方法,所述處理變換單元的方法包含:
接收2N×2N變換單元,其中所述2N×2N變換單元對應幀內編碼變換單元或幀間編碼變換單元,并且其中N是包含2、4、8、16的集合中的一個整數;
將所述2N×2N變換單元分割為四個N×N子塊;
決定所述2N×2N變換單元的所述四個N×N子塊之間的第一層掃描順序,其中基于所述第一層掃描順序掃描所述2N×2N變換單元的所述四個N×N子塊;
決定所述四個N×N子塊的第二層掃描類型,其中根據所述第二層掃描類型掃描所述四個N×N子塊的每一個;以及
基于所述第一層掃描順序與所述第二層掃描類型使用雙重掃描提供所述2N×2N變換單元的已掃描2N×2N變換系數,
其中,所述第一層掃描順序的決定是取決于所述第二層掃描類型,
當使用依賴模式系數掃描時,存在兩種附加掃描類型用于整個N×N與2N×2N變換單元,其包含水平掃描與垂直掃描,
對于大于2N×2N的方形變換單元以及特定非方形變換單元,第一層的斜線掃描順序與垂直掃描順序彼此不同,對于某些其他非方形變換單元,第一層使用的斜線、水平以及垂直掃描順序皆相同。
2.如權利要求1所述的處理變換單元的方法,其特征在于,所述第一層掃描順序首先掃描左上N×N子塊并且最后掃描右下N×N子塊。
3.如權利要求1所述的處理變換單元的方法,其特征在于,從包含斜線掃描、水平掃描與垂直掃描的集合選擇所述第二層掃描類型。
4.如權利要求3所述的處理變換單元的方法,其特征在于,如果所述第二層掃描類型是所述水平掃描,則所述第一層掃描順序是從左上子塊至右上子塊,再至左下子塊,然后至右下子塊。
5.如權利要求3所述的處理變換單元的方法,其特征在于,如果所述第二層掃描類型是所述斜線掃描或所述垂直掃描,則所述第一層掃描順序是從左上子塊至左下子塊,再至右上子塊,然后至右下子塊。
6.如權利要求1所述的處理變換單元的方法,其特征在于,如果所述2N×2N變換單元是所述幀內預測變換單元,則所述決定所述第二層掃描類型的步驟取決于與所述2N×2N變換單元相關聯的幀內預測模式。
7.一種用于處理變換單元的裝置,所述用于處理變換單元的裝置包含:
用于接收2N×2N變換單元的裝置,其中所述2N×2N變換單元對應幀內編碼變換單元或幀間編碼變換單元,并且其中N是包含2、4、8、16的集合中的一個整數;
用于將所述2N×2N變換單元分割為四個N×N子塊裝置;
用于決定所述2N×2N變換單元的所述四個N×N子塊之間的第一層掃描順序的裝置,其中基于所述第一層掃描順序掃描所述2N×2N變換單元的所述四個N×N子塊;
用于決定所述四個N×N子塊的第二層掃描類型的裝置,其中根據所述第二層掃描類型掃描所述四個N×N子塊的每一個;以及
用于提供所述2N×2N變換單元的已掃描2N×2N變換系數的裝置,其中基于所述第一層掃描順序與所述第二層掃描類型使用雙重掃描進行實施,
其中,所述第一層掃描順序的決定是取決于所述第二層掃描類型,
當使用依賴模式系數掃描時,存在兩種附加掃描類型用于整個N×N與2N×2N變換單元,其包含水平掃描與垂直掃描,
對于大于2N×2N的方形變換單元以及特定非方形變換單元,第一層的斜線掃描順序與垂直掃描順序彼此不同,對于某些其他非方形變換單元,第一層使用的斜線、水平以及垂直掃描順序皆相同。
8.如權利要求7所述的用于處理變換單元的裝置,其特征在于,所述第一層掃描順序首先掃描左上N×N子塊并且最后掃描右下N×N子塊。
9.如權利要求7所述的用于處理變換單元的裝置,其特征在于,從包含斜線掃描、水平掃描與垂直掃描的集合選擇所述第二層掃描類型。
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